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Reguladores lineales y de baja salida (LDO)

TPS7H1210-SEP

ACTIVO

Radiation-tolerant, -3V to -16.5V input, 1A, negative linear regulator

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TPS7H1210-SEP

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Detalles del producto

Rating Space Vin (max) (V) -3 Vin (min) (V) -16.5 Iout (max) (A) 1 Output options Adjustable Output, Negative Output Vout (max) (V) -1.2 Vout (min) (V) -15.5 Noise (µVrms) 13.7 PSRR at 100 KHz (dB) 61 Iq (typ) (mA) 0.21 Features Enable, Soft start Thermal resistance θJA (°C/W) 32.7 Load capacitance (min) (µF) 10 Regulated outputs (#) 1 Accuracy (%) 2 Dropout voltage (Vdo) (typ) (mV) 363 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Radiation, SEL (MeV·cm2/mg) 43 Radiation, TID (typ) (krad) 30
Rating Space Vin (max) (V) -3 Vin (min) (V) -16.5 Iout (max) (A) 1 Output options Adjustable Output, Negative Output Vout (max) (V) -1.2 Vout (min) (V) -15.5 Noise (µVrms) 13.7 PSRR at 100 KHz (dB) 61 Iq (typ) (mA) 0.21 Features Enable, Soft start Thermal resistance θJA (°C/W) 32.7 Load capacitance (min) (µF) 10 Regulated outputs (#) 1 Accuracy (%) 2 Dropout voltage (Vdo) (typ) (mV) 363 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Radiation, SEL (MeV·cm2/mg) 43 Radiation, TID (typ) (krad) 30
VQFN (RGW) 20 25 mm² (5 mm × 5 mm)
  • Vendor item drawing available, VID V62/21616
  • Total ionizing dose (TID) characterized to 30 krad(Si)
    • TID RLAT (radiation lot acceptance testing) for every wafer lot to 20 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized
    • Single-event latchup (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) = 43 MeV-cm2/mg
    • Single-event functional interrupt (SEFI) and single-event transient (SET) characterized to LET = 43 MeV-cm2/mg
  • Low noise: 13.7-µVRMS typical (10 Hz to 100 kHz)
  • High power-supply rejection ration, PSRR (typical at VIN = –6 V, VOUT = –5 V, IOUT = 1 A):
    • 61 dB at 100 Hz
    • 61 dB at 100 kHz
    • 41 dB at 1 MHz
  • Input voltage range: –3 V to –16.5 V
  • Adjustable output: –1.2 V to –15.5 V
  • Up to 1-A output current
  • Stable with ceramic capacitors ≥ 10 µF
  • Built-in current-limit and thermal shutdown protection
  • Space Enhanced Plastic (SEP)
    • Controlled baseline
    • Gold bondwire
    • NiPdAu lead finish
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Military (–55°C to 125°C) temperature range
    • Extended product life cycle
    • Extended product-change notification (PCN)
    • Product traceability
    • Enhanced mold compound for low outgassing
  • Vendor item drawing available, VID V62/21616
  • Total ionizing dose (TID) characterized to 30 krad(Si)
    • TID RLAT (radiation lot acceptance testing) for every wafer lot to 20 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized
    • Single-event latchup (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) = 43 MeV-cm2/mg
    • Single-event functional interrupt (SEFI) and single-event transient (SET) characterized to LET = 43 MeV-cm2/mg
  • Low noise: 13.7-µVRMS typical (10 Hz to 100 kHz)
  • High power-supply rejection ration, PSRR (typical at VIN = –6 V, VOUT = –5 V, IOUT = 1 A):
    • 61 dB at 100 Hz
    • 61 dB at 100 kHz
    • 41 dB at 1 MHz
  • Input voltage range: –3 V to –16.5 V
  • Adjustable output: –1.2 V to –15.5 V
  • Up to 1-A output current
  • Stable with ceramic capacitors ≥ 10 µF
  • Built-in current-limit and thermal shutdown protection
  • Space Enhanced Plastic (SEP)
    • Controlled baseline
    • Gold bondwire
    • NiPdAu lead finish
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Military (–55°C to 125°C) temperature range
    • Extended product life cycle
    • Extended product-change notification (PCN)
    • Product traceability
    • Enhanced mold compound for low outgassing

The TPS7H1210-SEP negative voltage linear regulator is a low noise, high PSRR regulator capable of sourcing a maximum load of 1 A.

The regulator include a CMOS logic-level-compatible enable pin (EN) to allow for user-customizable power management schemes. Other features include built-in current limit and thermal shutdown to protect the device and system during fault conditions.

The TPS7H1210-SEP device is designed using bipolar technology primarily for high-accuracy, low-noise applications, where clean voltage rails are critical to maximize system performance. Therefore, it ideal to power op amps, ADCs, DACs, and other high-performance analog circuitry.

Additionally, the TPS7H1210-SEP device is suitable for post DC-DC converter regulation. By filtering the output voltage ripple inherent to DC-DC switching conversion, maximum system performance is ensured in sensitive devices and RF applications.

The TPS7H1210-SEP negative voltage linear regulator is a low noise, high PSRR regulator capable of sourcing a maximum load of 1 A.

The regulator include a CMOS logic-level-compatible enable pin (EN) to allow for user-customizable power management schemes. Other features include built-in current limit and thermal shutdown to protect the device and system during fault conditions.

The TPS7H1210-SEP device is designed using bipolar technology primarily for high-accuracy, low-noise applications, where clean voltage rails are critical to maximize system performance. Therefore, it ideal to power op amps, ADCs, DACs, and other high-performance analog circuitry.

Additionally, the TPS7H1210-SEP device is suitable for post DC-DC converter regulation. By filtering the output voltage ripple inherent to DC-DC switching conversion, maximum system performance is ensured in sensitive devices and RF applications.
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* Hoja de datos TPS7H1210-SEP –16.5-V, 1-A, Negative Linear Regulator in Space Enhanced Plastic datasheet PDF | HTML 23/11/2021
* Informe de radiación y confiabilidad TPS7H1210-SEP Single-Event Effects (SEE) Test Report 13/12/2021
* Informe de radiación y confiabilidad TPS7H1210-SEP Total Ionizing Dose (TID) 24/11/2021
* Informe de radiación y confiabilidad TPS7H1210-SEP Neutron Displacement Damage (NDD) Characterization 24/11/2021
* Informe de radiación y confiabilidad TPS7H1210-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 8/11/2021
* VID TPS7H1210-SEP VID V62-21616 4/01/2022
Guía de selección TI Space Products (Rev. L) 27/03/2026
Artículo técnico How Space Enhanced Products Address Challenges in low Earth orbit Applications (Rev. A) PDF | HTML 18/12/2023
Informe Parallel LDO Architecture Design Using Ballast Resistors PDF | HTML 14/12/2022
Informe Comprehensive Analysis and Universal Equations for Parallel LDO's Using Ballast PDF | HTML 13/12/2022
Nota sobre la aplicación Reduce the Risk in Low-Earth Orbit Missions with Space Enhanced Plastic Products (Rev. A) PDF | HTML 15/09/2022
Guía del usuario TPS7H1210EVM User's Guide PDF | HTML 22/11/2021
Certificado TPS7H1210EVM EU RoHS Declaration of Conformity (DoC) 4/10/2021
Libro electrónico Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) 21/05/2019

Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

TPS7H1210EVM — Módulo de evaluación TPS7H1210-SEP para regulador lineal negativo de 1 A y con entrada de -3 V a -16

El módulo de evaluación (EVM) TPS7H1210 es una placa de demostración de ingeniería para evaluar el regulador lineal de tensión negativa con espacio mejorado y caída baja (LDO) TPS7H1210‑SEP.

Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Modelo de simulación

TPS7H1210-SEP PSpice Transient Model

SBVM985.ZIP (23 KB) - Modelo PSpice
Productos y hardware compatibles
Diseño de referencia

TIDA-010274 — Diseño de referencia de transceptor de muestreo de RF discreto de grado espacial

Este diseño de referencia incorpora un convertidor digital a analógico doble de 10 GSPS y un convertidor analógico a digital doble de 5 GSPS con balunes activos en la interfaz de RF que admite hasta la banda X. El diseño también incorpora una tarjeta secundaria de reloj de grado espacial y una (...)

Productos y hardware compatibles
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
VQFN (RGW) 20 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Los productos recomendados pueden tener parámetros, módulos de evaluación o diseños de referencia relacionados con este producto de TI.

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