SN74LVC2G00-Q1
- 車載アプリケーション用に AEC-Q100 認定済み：
- デバイス温度グレード 1：–40°C ～ +125°C
- デバイス HBM ESD 分類レベル 2
- デバイス CDM ESD 分類レベル C4B
- 1.65V～3.6V の動作範囲
- VCC とは無関係に、最大 5.5V に耐える過電圧耐性入力
- 最大伝搬遅延：5V VCC で 3.8ns
- バック ドライブ保護 (Ioff) 付きの部分的パワーダウンをサポート
-
高い出力駆動能力：
- 3.3V で ±24mA
- 2.3V で ±8mA
- 1.65V で ±4mA
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技術資料
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| 上位の文書 | タイプ | タイトル | フォーマットオプション | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | SN74LVC2G00-Q1 Automotive, Dual 2-Input Positive-NAND Gates datasheet | PDF | HTML | 2026/09/29 |
設計と開発
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評価ボード
5-8-LOGIC-EVM — 5 ～ 8 ピンの DCK、DCT、DCU、DRL、DBV の各パッケージをサポートする汎用ロジックの評価基板 (EVM)
5 ～ 8 ピンで DCK、DCT、DCU、DRL、DBV の各パッケージを使用する多様なデバイスをサポートできる設計のフレキシブルな評価基板です。
ユーザー ガイド:
PDF
在庫あり
制限：
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入手不可
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| SSOP (DCT) | 8 | Ultra Librarian |