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TPS7H2221-SEP

アクティブ

Radiation-tolerant, 1.6V to 5.5V input 1.25A load switch

製品詳細

Product type Load switch Current limit type Fixed Vin (max) (V) 5.5 Vin (min) (V) 1.6 Imax (A) 1.25 Rating Space Features Inrush current control, Quick output discharge, Short circuit protection, Thermal shutdown Number of channels 1 Quiescent current (Iq) (typ) (µA) 8 Shutdown current (ISD) (typ) (µA) 0.003 Soft start Fixed Rise Time Ron (typ) (mΩ) 115 Operating temperature range (°C) -55 to 125
Product type Load switch Current limit type Fixed Vin (max) (V) 5.5 Vin (min) (V) 1.6 Imax (A) 1.25 Rating Space Features Inrush current control, Quick output discharge, Short circuit protection, Thermal shutdown Number of channels 1 Quiescent current (Iq) (typ) (µA) 8 Shutdown current (ISD) (typ) (µA) 0.003 Soft start Fixed Rise Time Ron (typ) (mΩ) 115 Operating temperature range (°C) -55 to 125
SOT-SC70 (DCK) 6 4.2 mm² (2 mm × 2.1 mm)
  • VID (Vendor Item Drawing) V62/22609 が利用可能
  • 総照射線量 (TID) 耐性 = 30krad (Si)
    • すべてのウェハー・ロットについて、20krad(Si) までの TID RLAT (放射線ロット受け入れテスト)
  • シングル・イベント効果 (SEE) の特性
    • シングル・イベント・ラッチアップ (SEL)、シングル・イベント・バーンアウト (SEB)、シングル・イベント・ゲート・ラプチャー (SEGR) の、実効線エネルギー付与 (LETEFF) に対する耐性 = 43MeV-cm2/mg。
    • シングル・イベント過渡 (SET) およびシングル・イベント機能割り込み (SEFI) の、LETEFF に対する耐性 = 43MeV-cm2/mg。
  • 動作入力電圧範囲 (VIN):1.6~5.5V
  • 推奨連続電流 (IMAX):1.25A
  • オン抵抗 (RON)
    • VIN = 5V で 116mΩ (標準値)
    • VIN = 3.3V で 115mΩ (標準値)
    • VIN = 1.8V で 133mΩ (標準値)
  • 出力短絡保護 (ISC):3A (標準値)
  • 低い消費電力:
    • オン状態 (IQ):8.3µA (標準値)
    • オフ状態 (ISD):3nA (標準値)
  • 低速のターンオン・タイミングによる突入電流制限 (tON):
    • 5V 時の tON = 1.68ms (3.61mV/µs 時)
    • 3.3V 時の tON = 1.51ms (2.91mV/µs 時)
    • 1.8V 時の tON = 1.32ms (2.15 mV/µs 時)
  • 出力放電および立ち下がり時間を変更可能
    • VIN = 3.3V での内部 QOD 抵抗 = 9.2Ω(標準値)
  • 宇宙向け強化プラスチック (SEP)
    • 管理されたベースライン
    • 金ボンド・ワイヤ
    • NiPdAu リード仕上げ
    • 単一のアセンブリ / テスト施設
    • 単一の製造施設
    • 軍用温度範囲:-55℃~125℃
    • 長い製品ライフ・サイクル
    • 製品変更通知期間 (PCN) の延長
    • 製品のトレーサビリティ
    • モールド・コンパウンドの改良による低いガス放出
  • VID (Vendor Item Drawing) V62/22609 が利用可能
  • 総照射線量 (TID) 耐性 = 30krad (Si)
    • すべてのウェハー・ロットについて、20krad(Si) までの TID RLAT (放射線ロット受け入れテスト)
  • シングル・イベント効果 (SEE) の特性
    • シングル・イベント・ラッチアップ (SEL)、シングル・イベント・バーンアウト (SEB)、シングル・イベント・ゲート・ラプチャー (SEGR) の、実効線エネルギー付与 (LETEFF) に対する耐性 = 43MeV-cm2/mg。
    • シングル・イベント過渡 (SET) およびシングル・イベント機能割り込み (SEFI) の、LETEFF に対する耐性 = 43MeV-cm2/mg。
  • 動作入力電圧範囲 (VIN):1.6~5.5V
  • 推奨連続電流 (IMAX):1.25A
  • オン抵抗 (RON)
    • VIN = 5V で 116mΩ (標準値)
    • VIN = 3.3V で 115mΩ (標準値)
    • VIN = 1.8V で 133mΩ (標準値)
  • 出力短絡保護 (ISC):3A (標準値)
  • 低い消費電力:
    • オン状態 (IQ):8.3µA (標準値)
    • オフ状態 (ISD):3nA (標準値)
  • 低速のターンオン・タイミングによる突入電流制限 (tON):
    • 5V 時の tON = 1.68ms (3.61mV/µs 時)
    • 3.3V 時の tON = 1.51ms (2.91mV/µs 時)
    • 1.8V 時の tON = 1.32ms (2.15 mV/µs 時)
  • 出力放電および立ち下がり時間を変更可能
    • VIN = 3.3V での内部 QOD 抵抗 = 9.2Ω(標準値)
  • 宇宙向け強化プラスチック (SEP)
    • 管理されたベースライン
    • 金ボンド・ワイヤ
    • NiPdAu リード仕上げ
    • 単一のアセンブリ / テスト施設
    • 単一の製造施設
    • 軍用温度範囲:-55℃~125℃
    • 長い製品ライフ・サイクル
    • 製品変更通知期間 (PCN) の延長
    • 製品のトレーサビリティ
    • モールド・コンパウンドの改良による低いガス放出

TPS7H2221-SEP デバイスは、スルー・レート制御機能付きの小型シングル・チャネル負荷スイッチです。このデバイスは、1.6V~5.5V の入力電圧範囲で動作できる N チャネル MOSFET を内蔵し、最大 1.25A の連続電流をサポートします。

スイッチのオン状態はデジタル入力により制御され、この入力は低電圧の制御信号と直接接続できます。電源が最初に印加されたときには、スマート・プルダウンを使用して、システムのシーケンシングが完了するまで、ON ピンがフローティング状態になることが防止されます。ピンが意図的に High (VON>VIH) に駆動されると、不必要な電力損失を避けるため、スマート・プルダウンは切断されます。

また、TPS7H2221-SEP 負荷スイッチには自己保護機能があり、デバイスの出力が短絡した場合も自身を保護できます。

TPS7H2221-SEP は標準の SC-70 パッケージで供給され、-55℃~125℃の接合部温度範囲で仕様が規定されています。

TPS7H2221-SEP デバイスは、スルー・レート制御機能付きの小型シングル・チャネル負荷スイッチです。このデバイスは、1.6V~5.5V の入力電圧範囲で動作できる N チャネル MOSFET を内蔵し、最大 1.25A の連続電流をサポートします。

スイッチのオン状態はデジタル入力により制御され、この入力は低電圧の制御信号と直接接続できます。電源が最初に印加されたときには、スマート・プルダウンを使用して、システムのシーケンシングが完了するまで、ON ピンがフローティング状態になることが防止されます。ピンが意図的に High (VON>VIH) に駆動されると、不必要な電力損失を避けるため、スマート・プルダウンは切断されます。

また、TPS7H2221-SEP 負荷スイッチには自己保護機能があり、デバイスの出力が短絡した場合も自身を保護できます。

TPS7H2221-SEP は標準の SC-70 パッケージで供給され、-55℃~125℃の接合部温度範囲で仕様が規定されています。

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技術資料

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* データシート TPS7H2221-SEP 耐放射線特性、5.5V、1.25A、115mΩ のロード・スイッチ データシート (Rev. A 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.A) PDF | HTML 2022/12/05
* 放射線と信頼性レポート TPS7H2221-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. A) 2022/09/28
* 放射線と信頼性レポート TPS7H2221-SEP Production Flow and Reliability Report 2022/09/22
* 放射線と信頼性レポート TPS7H2221-SEP Neutron Displacement (NDD) Characterization Report 2022/08/18
* 放射線と信頼性レポート TPS7H2221-SEP Single-Event Effects (SEE) Report PDF | HTML 2022/07/12
* VID TPS7H2221-SEP VID V62-22609 2022/12/22
セレクション・ガイド TI Space Products (Rev. L) 2026/03/27
ホワイト・ペーパー Designing Space Systems With Integrated FDIR: A Guide to TI's Space-Grade Components PDF | HTML 2025/07/12
技術記事 低軌道アプリケーションにおける宇宙用拡張製品による課題への対処方法 (Rev. A 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.A) PDF | HTML 2024/01/12
アプリケーション・ノート Reduce the Risk in Low-Earth Orbit Missions with Space Enhanced Plastic Products (Rev. A) PDF | HTML 2022/09/15
e-Book(PDF) Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) 2019/05/21

設計と開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

TPS7H2221EVM — TPS7H2221 1.6V ~ 5.5V 入力、1.25A ロード スイッチの評価基板

TPS7H2221 評価基板 (EVM) は、TPS7H2221-SEP ロード スイッチの並列動作を実証します。この評価基板を使用すると、並列回路を 2 つの独立したシングル デバイス回路に分離し、カスタマイズ済みの構成をテストできるように、追加の受動部品を実装するためのフットプリントを確保することができます。

サポート対象の製品とハードウェア
在庫あり
制限:
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入手不可
評価ボード

ALPHA-3P-ADM-VA601-SPACE-AMD — AMD Versal コア XQRVC1902 ACAP と TI の耐放射線特性製品を採用した Alpha Data の ADM-VA601 キット

これは 6U の VPX フォーム ファクタで、AMD-Xilinx® Versal AI Core XQRVC1902 適応型 SoC/FPGA を提示します。ADM-VA600 は、1 個の FMC+ コネクタ、DDR4 DRAM、システム監視機能を搭載したモジュール型ボードのデザインです。主な部品は、耐放射線特性のパワー マネージメント、インターフェイス、クロック処理機能、組込みプロセッシング (-SEP) の各デバイスです。

サポート対象の製品とハードウェア
シミュレーション・モデル

TPS7H2221-SEP PSpice Transient Model

SLVMDX7.ZIP (21 KB) - PSpice モデル
サポート対象の製品とハードウェア
リファレンス・デザイン

TIDA-050088 — 耐放射線特性、Versal AI エッジ 向け電源のリファレンス デザイン

これは、AMD の Versal™ AI Edge XQRVE2302 用耐放射線電源アーキテクチャのリファレンス デザインです。Versal Edge は、宇宙アプリケーション向けの採用システムオンチップ (SoC) であり、小型フォームファクタで高レベルの性能を実現します。この設計を宇宙環境で最大限に使用するには、信頼性の高い電力供給が不可欠です。この電力設計は、各種のレールに電力を供給する複数のデバイスとシーケンサを搭載しており、レールを適切に順序付け、監視します。
サポート対象の製品とハードウェア
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOT-SC70 (DCK) 6 Ultra Librarian

購入と品質

推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

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