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TPS7H3014-SP

アクティブ

耐放射線特性、QMLV、14V、4 チャネル、電源シーケンサ

製品詳細

Number of supplies monitored 4 Number of sequenced outputs 4 Rating Space Supply voltage (max) (V) 14 Supply voltage (min) (V) 3 Iq (typ) (mA) 2.5 Operating temperature range (°C) -55 to 125
Number of supplies monitored 4 Number of sequenced outputs 4 Rating Space Supply voltage (max) (V) 14 Supply voltage (min) (V) 3 Iq (typ) (mA) 2.5 Operating temperature range (°C) -55 to 125
CFP (HFT) 22 60.221856 mm² 6.211 x 9.696
  • 耐放射線性能:
    • QML 向け吸収線量 (TID) 100krad(Si) までの放射線耐性保証 (RHA)、SEP 向け 50krad(Si)
    • シングル イベント ラッチアップ (SEL)、シングル イベント バーンアウト (SEB)、シングル イベント ゲート ラプチャー (SEGR) の、最大線エネルギー付与 (LET) = 75MeV-cm2/mg (QML) および 43MeV-cm2/mg (SEP) に対する耐性
    • シングル イベント機能割り込み (SEFI) およびシングル イベント過渡 (SET) の最大 LET = 75MeV-cm2/mg (QML) および 43MeV-cm2/mg (SEP) に対する耐性
  • 広い電源入力電圧範囲 (VIN):3V ~ 14V
  • 単一のデバイスで最大 4 つの電圧レールのシーケンス制御と監視
    • デイジー チェーン機能によりチャネル数を拡張
  • 単一抵抗によりプログラム可能なグローバル タイマ:
    • シーケンスのアップ / ダウン遅延
    • レギュレーションまでのシーケンス アップ時間
  • 逆順シーケンス ダウン
  • 高精度のスレッショルド電圧とヒステリシス電流
    • 全体で 599mV ±1% の VTH_SENSEx:電圧、温度、放射線 (TID)
    • 全体で 24µA ±3% の IHYS_SENSEx:電圧、温度、放射線 (TID)
  • 1.6V~7V のプログラマブル プルアップ電圧に対応するプッシュプル出力
    • グローバル ENx プルアップ ドメイン (VPULL_UP1)
    • 共通の SEQ_DONE および PWRGD プルアップ ドメイン (VPULL_UP2)
  • ステート マシンに起因するフォルトを監視するための FAULT オープン ドレイン出力
  • ASTM E595 に準拠したガス排出試験済みのプラスチック パッケージ

  • 軍用温度範囲 (–55℃~125℃) を供給可能
  • 耐放射線性能:
    • QML 向け吸収線量 (TID) 100krad(Si) までの放射線耐性保証 (RHA)、SEP 向け 50krad(Si)
    • シングル イベント ラッチアップ (SEL)、シングル イベント バーンアウト (SEB)、シングル イベント ゲート ラプチャー (SEGR) の、最大線エネルギー付与 (LET) = 75MeV-cm2/mg (QML) および 43MeV-cm2/mg (SEP) に対する耐性
    • シングル イベント機能割り込み (SEFI) およびシングル イベント過渡 (SET) の最大 LET = 75MeV-cm2/mg (QML) および 43MeV-cm2/mg (SEP) に対する耐性
  • 広い電源入力電圧範囲 (VIN):3V ~ 14V
  • 単一のデバイスで最大 4 つの電圧レールのシーケンス制御と監視
    • デイジー チェーン機能によりチャネル数を拡張
  • 単一抵抗によりプログラム可能なグローバル タイマ:
    • シーケンスのアップ / ダウン遅延
    • レギュレーションまでのシーケンス アップ時間
  • 逆順シーケンス ダウン
  • 高精度のスレッショルド電圧とヒステリシス電流
    • 全体で 599mV ±1% の VTH_SENSEx:電圧、温度、放射線 (TID)
    • 全体で 24µA ±3% の IHYS_SENSEx:電圧、温度、放射線 (TID)
  • 1.6V~7V のプログラマブル プルアップ電圧に対応するプッシュプル出力
    • グローバル ENx プルアップ ドメイン (VPULL_UP1)
    • 共通の SEQ_DONE および PWRGD プルアップ ドメイン (VPULL_UP2)
  • ステート マシンに起因するフォルトを監視するための FAULT オープン ドレイン出力
  • ASTM E595 に準拠したガス排出試験済みのプラスチック パッケージ

  • 軍用温度範囲 (–55℃~125℃) を供給可能

TPS7H3014 は統合型、3V~14V、4 チャネル、放射線耐性保証の電源シーケンサです。複数のデバイスをデイジー チェーン構成で接続することにより、チャネル数を拡張できます。このデバイスは、アクティブ High (「ON」) 入力搭載の集積回路 (IC) 向けに、シーケンス アップ / ダウン制御信号を提供します。さらに、SEQ_DONE フラグと PWRGD フラグが、監視対象の電源ツリーのシーケンスと電源ステータスを監視するために提供されています。

正確な 599mV ±1% のスレッショルド電圧と 24µA ±3% ヒステリシス電流により、立ち上がりおよび立ち下がり監視電圧をプログラム可能です。立ち上がりおよび立ち下がり遅延時間は、単一の抵抗を使用してグローバルにプログラムされます。また、SENSEx の立ち上がり電圧を追跡するためのタイム トゥ レギュレーション タイマが搭載されています。これらの機能に加えて、FAULT 検出ピンが組み込まれており、内部で生成されるフォルトを監視して、宇宙の電源シーケンス アプリケーションに対するシステム レベルの信頼性を向上させます。QML バリアント 5962R2320101VXC では、SMD (Standard Microcircuit Drawing) を利用できます。

TPS7H3014 は統合型、3V~14V、4 チャネル、放射線耐性保証の電源シーケンサです。複数のデバイスをデイジー チェーン構成で接続することにより、チャネル数を拡張できます。このデバイスは、アクティブ High (「ON」) 入力搭載の集積回路 (IC) 向けに、シーケンス アップ / ダウン制御信号を提供します。さらに、SEQ_DONE フラグと PWRGD フラグが、監視対象の電源ツリーのシーケンスと電源ステータスを監視するために提供されています。

正確な 599mV ±1% のスレッショルド電圧と 24µA ±3% ヒステリシス電流により、立ち上がりおよび立ち下がり監視電圧をプログラム可能です。立ち上がりおよび立ち下がり遅延時間は、単一の抵抗を使用してグローバルにプログラムされます。また、SENSEx の立ち上がり電圧を追跡するためのタイム トゥ レギュレーション タイマが搭載されています。これらの機能に加えて、FAULT 検出ピンが組み込まれており、内部で生成されるフォルトを監視して、宇宙の電源シーケンス アプリケーションに対するシステム レベルの信頼性を向上させます。QML バリアント 5962R2320101VXC では、SMD (Standard Microcircuit Drawing) を利用できます。

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技術資料

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* データシート TPS7H3014-SP および TPS7H3014-SEP 耐放射線特性、14V、4 チャネル シーケンサ データシート (Rev. D 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.D) PDF | HTML 2025年 10月 21日
* 放射線と信頼性レポート TPS7H3014-SP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. A) 2026年 6月 9日
* SMD TPS7H3014-SP SMD 5962-23201 2024年 6月 20日
* 放射線と信頼性レポート TPS7H3014-SP Single-Event Effects (SEE) PDF | HTML 2024年 6月 12日
* 放射線と信頼性レポート TPS7H3014-SP Neutron Displacement Damage (NDD) Characterization Report 2024年 4月 4日
セレクション・ガイド TI Space Products (Rev. L) 2026年 3月 27日
アプリケーション・ノート 気密パッケージ リフロー プロファイル、終端仕上げ、およびリード ト リムとフォーム (Rev. A 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.A) PDF | HTML 2025年 11月 20日
アプリケーション概要 QML 製品に対する DLA 承認済みの最適化内容 (Rev. C 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.C) PDF | HTML 2025年 8月 18日
アプリケーション・ノート 重イオン軌道環境単一事象効果の推定 (Rev. B 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.B) PDF | HTML 2025年 7月 7日
その他の技術資料 TI Engineering Evaluation Units vs. MIL-PRF-38535 QML Class V Processing (Rev. B) 2025年 2月 20日
アプリケーション・ノート QML flow, its importance, and obtaining lot information (Rev. C) 2023年 8月 30日
アプリケーション・ノート Single-Event Effects Confidence Interval Calculations (Rev. A) PDF | HTML 2022年 10月 19日
アプリケーション・ノート DLA Standard Microcircuit Drawings (SMD) and JAN Part Numbers Primer 2020年 8月 21日
e-Book(PDF) Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) 2019年 5月 21日

設計と開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

TPS7H3014EVM-CVAL — TPS7H3014-SP 評価基板

TPS7H3014EVM-CVAL は、単一の TPS7H3014-SP シーケンサの動作を提示します。このボードは、追加の部品を実装するためのフットプリントを確保しており、デイジーチェーン シーケンスなど、カスタマイズ構成のテストに使用できます。
ユーザー ガイド: PDF | HTML
評価ボード

ALPHA-3P-VB630-SPACE-AMD — AMD Versal エッジ XQRVE2302 ACAP と TI の耐放射線製品を使用した Alpha Data ADM-VB630 キット

これは 3U の VPX フォーム ファクタで、AMD-Xilinx® Versal AI Edge XQRVE2302 適応型 SoC/FPGA を提示します。ADM-VB630 は、シングルボード コンピュータ ボードです。部品の大部分は、放射線耐性を備えたパワー マネージメント、インターフェイス、センシング (-SEP) ポートフォリオに含まれています。

シミュレーション・モデル

TPS7H3014-SP and TPS7H3014-SEP PSpice Transient Model

SNVMCF1.ZIP (72 KB) - PSpice Model
シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI を使用すると、内蔵のライブラリを使用して、複雑なミックスド (...)
リファレンス・デザイン

TIDA-050088 — 耐放射線特性、Versal AI エッジ 向け電源のリファレンス デザイン

これは、AMD の Versal™ AI Edge XQRVE2302 用耐放射線電源アーキテクチャのリファレンス デザインです。Versal Edge は、宇宙アプリケーション向けの採用システムオンチップ (SoC) であり、小型フォームファクタで高レベルの性能を実現します。この設計を宇宙環境で最大限に使用するには、信頼性の高い電力供給が不可欠です。この電力設計は、各種のレールに電力を供給する複数のデバイスとシーケンサを搭載しており、レールを適切に順序付け、監視します。
設計ガイド: PDF
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CFP (HFT) 22 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブ拠点
  • アセンブリ拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

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