LM5111
- Independently Drives Two N-Channel MOSFETs
- Compound CMOS and Bipolar Outputs Reduce Output Current Variation
- 5-A Sink and 3-A Source Current Capability
- Two Channels can be Connected in Parallel to Double the Drive Current
- Independent Inputs (TTL Compatible)
- Fast Propagation Times (25 ns Typical)
- Fast Rise and Fall Times (14 ns and 12 ns Rise and Fall, Respectively, With 2-nF Load)
- Available in Dual Noninverting, Dual Inverting and Combination Configurations
- Supply Rail Undervoltage Lockout Protection (UVLO)ƒ
- LM5111-4 UVLO Configured to Drive PFET through OUT_A and NFET through OUT_B
- Pin Compatible With Industry Standard Gate Drivers
The LM5111 Dual Gate Driver replaces industry standard gate drivers with improved peak output current and efficiency. Each compound output driver stage includes MOS and bipolar transistors operating in parallel that together sink more than 5-A peak from capacitive loads. Combining the unique characteristics of MOS and bipolar devices reduces drive current variation with voltage and temperature. Undervoltage lockout protection is also provided. The drivers can be operated in parallel with inputs and outputs connected to double the drive current capability. This device is available in the SOIC package or the thermally enhanced
MSOP-PowerPAD package.
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기술 문서
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| * | Data sheet | LM5111 Dual 5-A Compound Gate Driver datasheet (Rev. H) | PDF | HTML | 2016/09/28 |
| Application note | Why use a Gate Drive Transformer? | PDF | HTML | 2024/03/04 | |
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| More literature | Fundamentals of MOSFET and IGBT Gate Driver Circuits (Replaces SLUP169) (Rev. A) | 2018/10/29 | ||
| Selection guide | Power Management Guide 2018 (Rev. R) | 2018/06/25 | ||
| EVM User's guide | AN-1937 LM3433 10A to 40A LED Driver Evaluation Board (Rev. D) | 2013/05/03 |
설계 및 개발
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평가 보드
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시뮬레이션 모델
LM5111-2M TINA-TI Transient Reference Design
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| 패키지 | 핀 | 다운로드 |
|---|---|---|
| HVSSOP (DGN) | 8 | 옵션 보기 |
| SOIC (D) | 8 | 옵션 보기 |
주문 및 품질
포함된 정보:
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
- 팹 위치
- 조립 위치
권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.