SN74LVC2G00-Q1
- AEC-Q100 qualified for automotive applications:
- Device temperature grade 1: -40°C to +125°C
- Device HBM ESD classification level 2
- Device CDM ESD classification level C4B
- Operating range from 1.65V to 3.6V
- Over-voltage tolerant inputs support up to 5.5V independent of VCC
- Maximum propagation delay of 3.8ns at 5V VCC
- Supports partial-power-down with back drive protection (Ioff)
-
High output drive strength:
- ±24mA at 3.3V
- ±8mA at 2.3V
- ±4mA at 1.65V
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기술 자료
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| 상위 문서 | 유형 | 직함 | 형식 옵션 | 최신 영어 버전 다운로드 | 날짜 |
|---|---|---|---|---|---|
| * | 데이터 시트 | SN74LVC2G00-Q1 Automotive, Dual 2-Input Positive-NAND Gates datasheet | PDF | HTML | 2026. 9. 29 |
설계 및 개발
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평가 보드
5-8-LOGIC-EVM — 5핀~8핀 DCK, DCT, DCU, DRL 및 DBV 패키지용 일반 논리 평가 모듈
5~8핀 수의 DCK, DCT, DCU, DRL 또는 DBV 패키지가 있는 모든 디바이스를 지원하도록 설계된 유연한 EVM.
사용 설명서:
PDF
재고 있음
제한:
??asset.out-of-stock-ti_ko_KR??
이용할 수 없음
| 패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
|---|---|---|
| SSOP (DCT) | 8 | Ultra Librarian |