Unsere integrierten Schaltkreise und Referenzdesigns unterstützen Sie bei der Entwicklung hochpräziser parametrischer Messsysteme (PMUs) auf Wafer-, Gehäuse- und Platinenebene und ermöglichen Lösungen mit hoher Kanaldichte bei minimaler Kanalabweichung.
Für PMU-Designs der nächsten Generation ist häufig Folgendes erforderlich:
Finden Sie Produkte und Referenzdesigns für Ihr System.
| Typ | Titel | Neueste englische Version herunterladen | Datum | ||
|---|---|---|---|---|---|
| Application brief | Solving Power Design Challenges in Semiconductor Test and ATE Applications (Rev. A) | PDF | HTML | 02.12.2025 | ||
| Application brief | Precision ADC for Measuring Analog Outputs of Parametric Measurement Unit (PMU) (Rev. B) | PDF | HTML | 14.01.2025 | ||
| Anwendungshinweis | When to Replace a Relay With a Multiplexer (Rev. A) | PDF | HTML | 07.06.2024 | ||
| Application brief | How to Select Precision Amplifiers for Semiconductor Testers (Rev. A) | PDF | HTML | 03.12.2020 | ||
| Application brief | Pairing up Op Amp and Buffer for Higher Output Power Plus Speed in ATE | 07.06.2019 |
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