TI の IC とリファレンス・デザインは、エネルギー効率に優れ、小型フォーム・ファクタで、信号雑音比 (SNR) が高く、画像処理の品質向上に役立つ次世代超音波スキャナの製作に役立ちます。
革新的な超音波スキャナの一般的な設計要件：
| タイトル | 種類 | サイズ (KB) | 日付 | 英語版 |
|---|---|---|---|---|
| 1.96 MB | 30 Sep 2020 | |||
| 2.86 MB | 02 Sep 2020 | |||
| 1.59 MB | 26 Feb 2018 | |||
| 422 KB | 20 Nov 2017 | |||
| 319 KB | 02 Dec 2016 |
| 名称 | 型番 | 会社名 | ソフトウェア/ツール・タイプ |
|---|---|---|---|
| AFE5808A Evaluation Module | AFE5808AEVM | Texas Instruments | 評価ボード |
| AFE5816 評価モジュール | AFE5816EVM | Texas Instruments | 評価ボード |
| AFE5818 評価モジュール | AFE5818EVM | Texas Instruments | 評価ボード |
| AFE58JD16 評価モジュール | AFE58JD16EVM | Texas Instruments | 評価ボード |
| AFE58JD18 評価モジュール | AFE58JD18EVM | Texas Instruments | 評価ボード |
| VCA2615 評価基板 | VCA2615EVM | Texas Instruments | 評価ボード |
| VCA2617 評価基板 | VCA2617EVM | Texas Instruments | 評価ボード |
| VCA5807 評価モジュール | VCA5807EVM | Texas Instruments | 評価ボード |
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