El TIDA-01037 es un diseño de referencia de adquisición de datos de entrada analógica aislada de 1 MSPS y 20 bits que utiliza dos dispositivos aisladores diferentes para maximizar el rendimiento de la SNR de la cadena de señales y la tasa de muestreo. Para señales que requieren baja fluctuación, como los relojes de muestreo ADC, se utiliza la familia ISO73xx de dispositivos de baja fluctuación de TI. Por otro lado, la familia de dispositivos ISO78xx de alta velocidad de TI se utiliza para maximizar la tasa de muestreo de datos. Al combinar estas dos soluciones de aisladores, se mejora significativamente el rendimiento de alta frecuencia al minimizar la fluctuación de reloj de muestra en todos los límites de aislamiento. Además, se mejora el rendimiento de datos maximizando la tasa de señalización del aislador. Se logran mejoras adicionales mediante el uso de las funciones avanzadas ADC multiSPITM y sincrónicas de fuente de TI. Por último, se describen todas las teorías clave de diseño y se presentan los resultados medidos.
Se desarrolló una placa completamente integrada únicamente para pruebas y validación de rendimiento y no está disponible para la venta.
Descargue archivos de sistema listos para usar para acelerar su proceso de diseño.
Descripción general del diseño de referencia y datos de las pruebas de rendimiento verificadas
Descripción detallada del diseño para la instalación de componentes
Lista completa de componentes de diseño, designadores de referencia y números de fabricantes/piezas
Archivos para modelos 3D o dibujos 2D de componentes de IC
Fichero de diseño que contiene información sobre la capa física de la PCB de diseño
Archivo de trazado de capas de PCB para generar el trazado del diseño de PCB
Diagrama esquemático detallado del diseño y los componentes
Incluye productos de TI en el diseño y posibles alternativas.
| Tipo | Título | Descargar la versión más reciente en inglés | Fecha | ||
|---|---|---|---|---|---|
| * | Guía de diseño | 20Bit, 1MSPS Isolator Optimized Data Acquisition Ref Design (Rev. A) | 27/01/2016 | ||
| Nota sobre la aplicación | Fully-Differential Amplifiers (Rev. E) | 19/09/2016 | |||
| Nota sobre la aplicación | Noise Analysis In Operational Amplifier Circuits (Rev. B) | 23/05/2007 |
El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.
Si tiene alguna pregunta sobre la calidad, el empaquetado o el pedido de productos de TI, consulte el servicio de asistencia de TI.