JAJSNB1B february 2022 – march 2023 TAS2780
PRODUCTION DATA
起動シーケンスの間、AVDD ピンを監視する回路は、電源が有効になるまでデバイスをリセット状態に保持します (すべての構成レジスタを含む)。AVDD が有効で SDZ ピンが解放されるまで、デバイスはハードウェア・シャットダウンを終了しません。SDZ が解放されると、デジタル・コア電圧レギュレータが起動し、動作モードの検出が有効になります。AVDD が低電圧スレッショルドを下回ると、デバイスはただちにリセット状態に強制的に移行します。
また、デバイスは PVDD 電源を監視し、電源が PVDD 低電圧スレッショルドを下回ると、アナログ・コアをパワーダウン状態に保持します (レジスタ・ビット PVDDH_UVLO_TH[5:0] で設定)。TAS2780 がアクティブ動作中で、低電圧フォルトが発生した場合、アナログ・ブロックはただちにパワーダウンして、デバイスを保護します。これらのフォルトはラッチされるため、ハードウェアまたはソフトウェア・シャットダウンに遷移して、フォルトをクリアする必要があります。ラッチされたレジスタは、低電圧フォルトを通知します。
以下のような TDM クロックに伴うフォルトが検出された場合、デバイスはソフトウェア・シャットダウン・モードに遷移します。
* 無効な SBCLK 対 FSYNC 比
* 無効な FSYNC 周波数
* SBCLK または FSYNC クロックの停止
TDM クロック・エラーが検出されると、デバイスは可能な限りすぐにソフトウェア・シャットダウン・モードに遷移して、オーディオ・アーティファクトの可能性を制限します。すべての TDM クロック・エラーが解決すると、デバイスのボリュームは以前の再生状態に戻ります。TDM クロック・エラーの発生中は、クロック・エラー割り込みマスク・レジスタ・ビット IM_TDMCE が Low にセットされている場合、IRQZ ピンは Low にアサートされます。また、クロック・フォルトはラッチされたフォルト・ステータス・レジスタ (IR_TDMCE ビット) で読み戻すことも可能です。
TAS2780 はダイ温度と Class-D 負荷電流も監視しており、このどちらかが安全な値を超えると、ソフトウェア・シャットダウン・モードに移行します。TDM クロック・エラーと同様に、過熱や過電流に対してフォルト割り込みマスク・レジスタ・ビットが Low にセットされていれば、IRQZ ピンはこれらのフォルトで Low にアサートされます。フォルト・ステータスは、ラッチされたフォルト・レジスタでも監視することができます。
ダイの過熱と Class-D 過電流エラーは、どちらもラッチされます (たとえば、ハードウェアまたはソフトウェアのシャットダウン・シーケンスが適用されるまで、デバイスはソフトウェア・シャットダウンに移行します)。また、これらは所定の時間経過後に自動で再試行するようにプログラムすることが可能です。この動作を構成するには、OTE_RETRY、OCE_RETRY レジスタ・ビットを使用します (それぞれ、過熱用と過電流用)。ラッチ・モードでも、Class-D は再試行時間 (1.5s) が経過するまで、過熱や過電流エラーの後の再試行は行いません。この機能により、デバイスの損傷を引き起こす、デバイスへのストレスが急速に繰り返し与えられることを防ぎます。デバイスでハードウェアまたはソフトウェア・シャットダウンのサイクルが実行される場合、再試行時間が経過した後にのみ動作を開始します。
デフォルトでは、再試行機能はすべて無効になっています。
ソフトウェア・シャットダウンを終了してアクティブ・モードになっていると (010b～000b の MODE[2:0] ビットなど)、PVDD 低電圧が検出された場合、デバイスはソフトウェア・シャットダウン・モードに戻り、割り込み (IL_PUVLO) のフラグが立ちます。このフォルトを終了するには、ユーザーは割り込みをクリアし、再びアクティブ・モードに移行しようとする前に、MODE[2:0] ビットを使用してデバイスをソフトウェア・シャットダウンにプログラムする必要があります。
内部 VBAT1S LDO 低電圧が検出され、IL_LDO_UV 割り込みのフラグが立った場合、PWR_MODE2 でも同様の状況が発生する可能性があります。
ステータス・レジスタ (ステータス・マスク・レジスタ経由で有効になっている場合は、IRQZ ピンも同様) も、以下のようなリミッタ動作を通知します。リミッタがアクティブになっている場合、PVDD が変曲点を下回った場合、減衰が最大になった場合、リミッタが無限保持状態の場合、リミッタがオーディオをミュートにしている場合などです。
このような状況では、デバイスが PWR_MODE2 で動作している場合、VBAT1S ピンには内部 LDO から供給されます。保護回路はこのブロックを監視し、低電圧、過電圧、または LDO が過負荷の場合にフォルトを生成します。これらのフォルトのいずれかが発生すると、デバイスはソフトウェア・シャットダウン・モードに移行します。
IRQZ ピンはオープン・ドレイン出力で、マスクなしのフォルト発生中は Low にアサートされます。そのため、IOVDD への抵抗でプルアップする必要があります。内部プルアップ抵抗が実装されており、IRQZ_PU レジスタ・ビットを High にセットすることで、アクセス可能になります (ピンに接続される)。
IRQZ の割り込み構成を設定するには、IRQZ_PIN_CFG[1:0] レジスタ・ビットを使用します。IRQZ_POL レジスタ・ビットは割り込み極性を設定します。
INT_LTCH_CLR レジスタ・ビットを使用すると、すべての割り込みラッチのレジスタ・ビットをクリアすることができます。
ライブ・フラグ・レジスタは、デバイスがアクティブ・モードで動作中にのみアクティブになります。デバイスが I2C コマンドか、以下のいずれかのフォルト条件を満たしたことによってシャットダウンされると、ライブ・フラグはリセットされます。ラッチされたフラグはこの条件ではリセットされないため、ユーザーはステータスを読み取ることができます。
| 割り込み | ライブ・レジスタ・ビット | ラッチ・レジスタ・ビット | マスク・レジスタ・ビット | デフォルト (1 = マスク) |
|---|---|---|---|---|
| 105℃以上の温度 | IL_TO105 | IR_TO105 | IM_TO105 | 1 |
| 115℃以上の温度 | IL_TO115 | IR_TO115 | IM_TO115 | 1 |
| 125℃以上の温度 | IL_TO125 | IR_TO125 | IM_TO125 | 1 |
| 135℃以上の温度 | IL_TO135 | IR_TO135 | IM_TO135 | 1 |
| 過熱エラー | デバイスはシャットダウン中 | IR_OT | IM_OT | 0 |
| 過電流エラー | デバイスはシャットダウン中 | IR_OC | IM_OC | 0 |
| TDM クロック・エラー | デバイスはシャットダウン中 | IR_TDMCE | IM_TDMCE | 1 |
| TDM クロック・エラー：SBCLK 比または FS レートが無効 | IR_TDMCEIR | |||
| TDM クロック・エラー：FS はオンザフライで変更 | IR_TDNCEFC | |||
| TDM クロック・エラー：SBCLK の FS 比率はオンザフライで変更 | IR_TDMCERC | |||
| BOP がアクティブ | IL_BOPA | IR_BOPA | IM_BOPA | 0 |
| BOP レベル 0 がアクティブ | IL_BOPL0A | IR_BOPL0A | IM_BOPL0A | 0 |
| BOP レベル 1 がアクティブ | IL_BOPL1A | IR_BOPL1A | IM_BOPL1A | 0 |
| BOP レベル 2 がアクティブ | IL_BOPL2A | IR_BOPL2A | IM_BOPL2A | 0 |
| BOP レベル 3 がアクティブ | IL_BOPL3A | IR_BOPL3A | IM_BOPL3A | 0 |
| BOP 無限ホールド | IL_BOPIH | IR_BOPIH | IM_BOPIH | 1 |
| BOP ミュート | IL_BOPM | IR_BOPM | IM_BOPM | 1 |
| PVDD がリミッタの変曲点を下回る | IL_PBIP | IR_PBIP | IM_PBIP | 1 |
| リミッタがアクティブ | IL_LIMA | IR_LIMA | IM_LIMA | 1 |
| リミッタの最大減衰 | IL_LIMMA | IR_LIMMA | IM_LIMMA | 1 |
| PVDD UVLO | デバイスはシャットダウン中 | IR_PUVLO | IM_PUVLO | 0 |
| VBAT1S UVLO | デバイスはシャットダウン中 | IR_VBAT1S_UVLO | IM_VBAT1S_UVLO | 0 |
| OTP CRC エラー | デバイスはシャットダウン中 | IR_OTPCRC | ||
| VBAT ゲイン・リミッタ | IL_VBATLIM | IR_VBATLIM | IM_VBATLIM | 1 |
| 負荷診断完了 | IR_LDC | IM_LDC | 1 | |
| 負荷診断モード・フォルト | IR_LDMODE[1:0] | IM_LDMODE[1:0] | 11 | |
| 内部 PLL クロック・エラー | デバイスはシャットダウン中 | IR_PLL_CLK | IM_PLL_CLK | 1 |
| ノイズ・ゲートがアクティブ | IL_NGA | |||
| PVDD-VBAT1S がスレッショルド未満 | IL_PVBT | IR_PVBT | IM_PVBT | 0 |
| 内部 VBAT1S LDO が過電圧 | デバイスはシャットダウン中 | IR_LDO_OV | IM_LDO_OV | 1 |
| 内部 VBAT1S LDO が低電圧 | デバイスはシャットダウン中 | IR_LDO_UV | IM_LDO_UV | 0 |
| 内部 VBAT1S LDO が過負荷 | デバイスはシャットダウン中 | IR_LDO_OL | IM_LDO_OL | 1 |
| 熱検出スレッショルド 2 | デバイスはシャットダウン中 | IR_TDTH2 | IM_TDTH2 | 0 |
| 熱検出スレッショルド 1 | IL_TDTH1 | IR_TDTH1 | IM_TDTH1 | 0 |