JAJSFM9A June   2018  – July 2018 TMS320F28035-EP

PRODUCTION DATA.  

  1. 1デバイスの概要
    1. 1.1 特長
    2. 1.2 アプリケーション
    3. 1.3 概要
    4. 1.4 機能ブロック図
  2. 2改訂履歴
  3. 3Terminal Configuration and Functions
    1. 3.1 Pin Diagram
    2. 3.2 Signal Descriptions
      1. Table 3-1 Signal Descriptions
  4. 4Specifications
    1. 4.1  Absolute Maximum Ratings
    2. 4.2  ESD Ratings
    3. 4.3  Power-On Hours (POH) Limits
    4. 4.4  Recommended Operating Conditions
    5. 4.5  Power Consumption Summary
      1. Table 4-1 TMS320F2803x Current Consumption at 60-MHz SYSCLKOUT
      2. 4.5.1     Reducing Current Consumption
      3. 4.5.2     Current Consumption Graphs (VREG Enabled)
    6. 4.6  Electrical Characteristics
    7. 4.7  Thermal Resistance Characteristics
    8. 4.8  Thermal Design Considerations
    9. 4.9  Emulator Connection Without Signal Buffering for the MCU
    10. 4.10 Parameter Information
      1. 4.10.1 Timing Parameter Symbology
      2. 4.10.2 General Notes on Timing Parameters
    11. 4.11 Test Load Circuit
    12. 4.12 Power Sequencing
      1. Table 4-4 Reset (XRS) Timing Requirements
      2. Table 4-5 Reset (XRS) Switching Characteristics
    13. 4.13 Clock Specifications
      1. 4.13.1 Device Clock Table
        1. Table 4-6 2803x Clock Table and Nomenclature (60-MHz Devices)
        2. Table 4-7 Device Clocking Requirements/Characteristics
        3. Table 4-8 Internal Zero-Pin Oscillator (INTOSC1/INTOSC2) Characteristics
      2. 4.13.2 Clock Requirements and Characteristics
        1. Table 4-9  XCLKIN Timing Requirements – PLL Enabled
        2. Table 4-10 XCLKIN Timing Requirements – PLL Disabled
        3. Table 4-11 XCLKOUT Switching Characteristics (PLL Bypassed or Enabled)
    14. 4.14 Flash Timing
      1. Table 4-12 Flash/OTP Endurance
      2. Table 4-13 Flash Parameters at 60-MHz SYSCLKOUT
      3. Table 4-14 Flash/OTP Access Timing
      4. Table 4-15 Flash Data Retention Duration
  5. 5Detailed Description
    1. 5.1 Overview
      1. 5.1.1  CPU
      2. 5.1.2  Control Law Accelerator (CLA)
      3. 5.1.3  Memory Bus (Harvard Bus Architecture)
      4. 5.1.4  Peripheral Bus
      5. 5.1.5  Real-Time JTAG and Analysis
      6. 5.1.6  Flash
      7. 5.1.7  M0, M1 SARAMs
      8. 5.1.8  L0 SARAM, and L1, L2, and L3 DPSARAMs
      9. 5.1.9  Boot ROM
        1. 5.1.9.1 Emulation Boot
        2. 5.1.9.2 GetMode
        3. 5.1.9.3 Peripheral Pins Used by the Bootloader
      10. 5.1.10 Security
      11. 5.1.11 Peripheral Interrupt Expansion (PIE) Block
      12. 5.1.12 External Interrupts (XINT1–XINT3)
      13. 5.1.13 Internal Zero Pin Oscillators, Oscillator, and PLL
      14. 5.1.14 Watchdog
      15. 5.1.15 Peripheral Clocking
      16. 5.1.16 Low-power Modes
      17. 5.1.17 Peripheral Frames 0, 1, 2, 3 (PFn)
      18. 5.1.18 General-Purpose Input/Output (GPIO) Multiplexer
      19. 5.1.19 32-Bit CPU-Timers (0, 1, 2)
      20. 5.1.20 Control Peripherals
      21. 5.1.21 Serial Port Peripherals
    2. 5.2 Memory Maps
    3. 5.3 Register Maps
    4. 5.4 Device Emulation Registers
    5. 5.5 VREG/BOR/POR
      1. 5.5.1 On-chip Voltage Regulator (VREG)
        1. 5.5.1.1 Using the On-chip VREG
        2. 5.5.1.2 Disabling the On-chip VREG
      2. 5.5.2 On-chip Power-On Reset (POR) and Brown-Out Reset (BOR) Circuit
    6. 5.6 System Control
      1. 5.6.1 Internal Zero Pin Oscillators
      2. 5.6.2 Crystal Oscillator Option
      3. 5.6.3 PLL-Based Clock Module
      4. 5.6.4 Loss of Input Clock (NMI Watchdog Function)
      5. 5.6.5 CPU-Watchdog Module
    7. 5.7 Low-Power Modes Block
    8. 5.8 Interrupts
      1. 5.8.1 External Interrupts
        1. 5.8.1.1 External Interrupt Electrical Data/Timing
          1. Table 5-20 External Interrupt Timing Requirements
          2. Table 5-21 External Interrupt Switching Characteristics
    9. 5.9 Peripherals
      1. 5.9.1  Control Law Accelerator (CLA) Overview
      2. 5.9.2  Analog Block
        1. 5.9.2.1 Analog-to-Digital Converter (ADC)
          1. 5.9.2.1.1 Features
          2. 5.9.2.1.2 ADC Start-of-Conversion Electrical Data/Timing
            1. Table 5-26 External ADC Start-of-Conversion Switching Characteristics
          3. 5.9.2.1.3 On-Chip Analog-to-Digital Converter (ADC) Electrical Data/Timing
            1. Table 5-27  ADC Electrical Characteristics
            2. Table 5-28  ADC Power Modes
            3. 5.9.2.1.3.1 Internal Temperature Sensor
              1. Table 5-29 Temperature Sensor Coefficient
            4. 5.9.2.1.3.2 ADC Power-Up Control Bit Timing
              1. Table 5-30 ADC Power-Up Delays
            5. 5.9.2.1.3.3 ADC Sequential and Simultaneous Timings
        2. 5.9.2.2 ADC MUX
        3. 5.9.2.3 Comparator Block
          1. 5.9.2.3.1 On-Chip Comparator/DAC Electrical Data/Timing
            1. Table 5-32 Electrical Characteristics of the Comparator/DAC
      3. 5.9.3  Detailed Descriptions
      4. 5.9.4  Serial Peripheral Interface (SPI) Module
        1. 5.9.4.1 SPI Master Mode Electrical Data/Timing
          1. Table 5-35 SPI Master Mode External Timing (Clock Phase = 0)
          2. Table 5-36 SPI Master Mode External Timing (Clock Phase = 1)
        2. 5.9.4.2 SPI Slave Mode Electrical Data/Timing
          1. Table 5-37 SPI Slave Mode External Timing (Clock Phase = 0)
          2. Table 5-38 SPI Slave Mode External Timing (Clock Phase = 1)
      5. 5.9.5  Serial Communications Interface (SCI) Module
      6. 5.9.6  Local Interconnect Network (LIN)
      7. 5.9.7  Enhanced Controller Area Network (eCAN) Module
      8. 5.9.8  Inter-Integrated Circuit (I2C)
        1. 5.9.8.1 I2C Electrical Data/Timing
          1. Table 5-44 I2C Timing Requirements
          2. Table 5-45 I2C Switching Characteristics
      9. 5.9.9  Enhanced PWM Modules (ePWM1/2/3/4/5/6/7)
        1. 5.9.9.1 ePWM Electrical Data/Timing
          1. Table 5-48 ePWM Timing Requirements
          2. Table 5-49 ePWM Switching Characteristics
        2. 5.9.9.2 Trip-Zone Input Timing
          1. Table 5-50 Trip-Zone Input Timing Requirements
      10. 5.9.10 High-Resolution PWM (HRPWM)
        1. 5.9.10.1 HRPWM Electrical Data/Timing
          1. Table 5-51 High-Resolution PWM Characteristics
      11. 5.9.11 Enhanced Capture Module (eCAP1)
        1. 5.9.11.1 eCAP Electrical Data/Timing
          1. Table 5-53 Enhanced Capture (eCAP) Timing Requirement
          2. Table 5-54 eCAP Switching Characteristics
      12. 5.9.12 High-Resolution Capture (HRCAP) Module
        1. 5.9.12.1 HRCAP Electrical Data/Timing
          1. Table 5-56 High-Resolution Capture (HRCAP) Timing Requirements
      13. 5.9.13 Enhanced Quadrature Encoder Pulse (eQEP)
        1. 5.9.13.1 eQEP Electrical Data/Timing
          1. Table 5-58 Enhanced Quadrature Encoder Pulse (eQEP) Timing Requirements
          2. Table 5-59 eQEP Switching Characteristics
      14. 5.9.14 JTAG Port
      15. 5.9.15 General-Purpose Input/Output (GPIO) MUX
        1. 5.9.15.1 GPIO Electrical Data/Timing
          1. 5.9.15.1.1 GPIO - Output Timing
            1. Table 5-63 General-Purpose Output Switching Characteristics
          2. 5.9.15.1.2 GPIO - Input Timing
            1. Table 5-64 General-Purpose Input Timing Requirements
          3. 5.9.15.1.3 Sampling Window Width for Input Signals
          4. 5.9.15.1.4 Low-Power Mode Wakeup Timing
            1. Table 5-65 IDLE Mode Timing Requirements
            2. Table 5-66 IDLE Mode Switching Characteristics
            3. Table 5-67 STANDBY Mode Timing Requirements
            4. Table 5-68 STANDBY Mode Switching Characteristics
            5. Table 5-69 HALT Mode Timing Requirements
            6. Table 5-70 HALT Mode Switching Characteristics
  6. 6Applications, Implementation, and Layout
    1. 6.1 TI Design or Reference Design
  7. 7デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 7.1 はじめに
    2. 7.2 デバイスおよび開発ツールの項目表記
    3. 7.3 ツールとソフトウェア
    4. 7.4 ドキュメントのサポート
    5. 7.5 Community Resources
    6. 7.6 商標
    7. 7.7 静電気放電に関する注意事項
    8. 7.8 Glossary
  8. 8メカニカル、パッケージ、および注文情報
    1. 8.1 パッケージ情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

7.2 デバイスおよび開発ツールの項目表記

製品開発サイクルの段階を示すために、TIでは TMS320™ MCUデバイスおよびサポート・ツールすべての型番に接頭辞が割り当てられます。それぞれのTMS320 MCUの商用ファミリ・メンバには、TMX、TMP、TMSのいずれかの接頭辞があります(たとえば、TMS320F28032). テキサス・インスツルメンツは、サポート・ツールに使用可能な3つの接頭辞のうち、TMDXおよびTMDSの2つを推奨しています。これらの接頭辞は、製品開発の進展段階を表します。段階には、エンジニアリング・プロトタイプ(TMX/TMDX)から、認定済み製品デバイス/ツール(TMS/TMDS)があります。

デバイス開発の段階は次のとおりです。

TMX 実験的デバイスで、最終デバイスの電気的特性を必ずしも表しません。
TMP 最終的なシリコン・ダイで、デバイスの電気的特性に適合しますが、品質および信頼性の検証は完了していません。
TMS 完全に認定済みの量産版デバイスです。

サポート・ツール開発の段階は次のとおりです。

TMDX 開発サポート製品で、テキサス・インスツルメンツの社内認定試験はまだ完了していません。
TMDS 完全に認定済みの開発サポート製品です。

TMXおよびTMPデバイスと、TMDX開発サポート・ツールは、以下の免責事項の下で出荷されます。
「開発段階の製品は、社内での評価を目的としたものです」

TMSデバイスとTMDS開発サポート・ツールの特性は完全に明確化されており、デバイスの品質と信頼性が十分に示されてきました。TIの標準保証が適用されます。

プロトタイプ・デバイス(TMXまたはTMP)の方が標準的な製品版デバイスに比べて故障率が大きいと予測されます。これらのデバイスは予測される最終使用時の故障率が未定義であるため、テキサス・インスツルメンツではそれらのデバイスを量産システムで使用しないよう推奨しています。認定された量産デバイスのみを使用する必要があります。

TIデバイスの項目表記には、デバイス・ファミリ名の接尾辞も含まれます。この接尾辞は、パッケージの種類(例: PN)と温度範囲(例: T)を示しています。Figure 7-1に、任意のファミリ・メンバについて、完全なデバイス名を読み取るための凡例を示します。

デバイスの型番と詳しい注文情報については、TIのWebサイト(www.ti.com)を参照するか、TIの販売代理店にお問い合わせください。

ダイのデバイス項目表記マーキングについて、さらに詳しい説明は、『TMS320F2803x Piccolo™ MCUシリコン正誤表』をご覧ください。

TMS320F28035-EP nomenclature_sprsp25.gifFigure 7-1 デバイスの項目表記