8 改訂履歴
Changes from Revision D (March 2013) to Revision E (March 2025)
- データシートに LMC6061 と LMC6064 および関連する内容を追加Go
- LMC6061 および LMC6064 の PDIP の内容を削除Go
- アプリケーション回路を追加Go
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ピン構成および機能を追加Go
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ピン構成および機能中のピンの名前を更新Go
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ESD 定格を追加Go
- 「推奨動作条件」から注 1 および 2 を削除Go
- 「熱に関する情報」を追加
Go
- 「AC と DC の電気的特性」を結合Go
- パラメータの名前と記号を更新Go
- DC の電気的特性から注 1、2、3 を削除Go
- 入力電流ノイズを 0.2fA/√Hz から 12.5fA/Hz に変更Go
- 注 4 の条件を「DC の電気的特性」から開ループ電圧ゲインテスト条件に移動Go
- LMC606xAIのRL = 100kΩ (ソース) の開ループ・ゲインを400V/mVから300V/mVに変更Go
- LMC606xAI の RL = 100kΩ (ソース、TA = –40°Cから 85°C) の開ループゲインを 300V/mV から 200V/mV に変更Go
- LMC606xAI の RL = 25kΩ (ソース) の開ループゲインを 400V/mV から 300V/mV に変更Go
- 「AC の電気的特性」から注 1、2、3 を削除Go
- 注 4 の条件を「AC の電気的特性」から開スルーレートテスト条件に移動Go
- 注 5 の条件を「AC の電気的特性」からクロストークテスト条件に移動Go
- 供給電流パラメータ名を、アンプごとの静止電流に変更Go
- 「アンプトポロジ」を更新Go
Changes from Revision C (March 2013) to Revision D (March 2013)
- ナショナル セミコンダクター データシートのレイアウトをテキサス・インスツルメンツ形式に変更Go