JAJSDE9B June   2017  – July 2024 UCC27212

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 ピン構成および機能
  6. 5 仕様
    1. 5.1 絶対最大定格
    2. 5.2 ESD 定格
    3. 5.3 推奨動作条件
    4. 5.4 熱に関する情報
    5. 5.5 電気的特性
    6. 5.6 スイッチング特性
    7. 5.7 タイミング図
    8. 5.8 代表的特性
  7. 6 詳細説明
    1. 6.1 概要
    2. 6.2 機能ブロック図
    3. 6.3 機能説明
      1. 6.3.1 入力段
      2. 6.3.2 低電圧誤動作防止 (UVLO)
      3. 6.3.3 レベル シフト
      4. 6.3.4 ブート ダイオード
      5. 6.3.5 出力段
    4. 6.4 デバイスの機能モード
  8. 7 アプリケーションと実装
    1. 7.1 アプリケーション情報
    2. 7.2 代表的なアプリケーション
      1. 7.2.1 設計要件
      2. 7.2.2 詳細な設計手順
        1. 7.2.2.1 電力散逸
      3. 7.2.3 アプリケーション曲線
  9. 8 電源に関する推奨事項
  10. 9 レイアウト
    1. 9.1 レイアウトのガイドライン
    2. 9.2 レイアウト例
      1. 9.2.1 熱に関する注意事項
  11. 10デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 10.1 デバイス サポート
      1. 10.1.1 サード・パーティ製品に関する免責事項
    2. 10.2 ドキュメントのサポート
      1. 10.2.1 関連資料
    3. 10.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 10.4 サポート・リソース
    5. 10.5 商標
    6. 10.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 10.7 用語集
  12. 11改訂履歴
  13. 12メカニカル、パッケージ、および注文情報

11 改訂履歴

Changes from Revision A (April 2018) to Revision B (July 2024)

  • デバイスの主な特長を反映するようにドキュメントのタイトルを変更。Go
  • デバイスの特性を反映するよう、いくつかの仕様を変更。Go
  • 「特長」セクションを変更：1) シンク / ソース電流を、正確な標準仕様を使用するよう変更、実際のデバイス仕様には変更なし (4A/4A から3.7A/4.5A に変更)。2) TJ を改良済みのデバイス仕様に合わせて変更 (「-40℃～+140℃で動作が規定済み」から「接合部温度範囲 -40℃～+150℃で動作が規定済み」に変更)Go
  • 「アプリケーション」セクションを更新して代表的なアプリケーションの上位 5 つを記載Go
  • 「概要」セクションを変更：1) リーク電流を変更 (4A ソースおよび 4A シンクから3.7A ソースおよび 4.5A シンクに変更)。2) 5V 電源オフ UVLO を変更 (5V UVLOから5V 電源オフ UVLO に変更)。3) パッケージ名の形式を WSON (10) から DPR (WSON、10) に変更。4) 「電気的特性」表の仕様を反映するように HS ピンの許容誤差を変更 (-18Vから-(24V-VDD) に変更)。5) 伝搬遅延プロットを更新。Go
  • UCC27212 は DPR パッケージでのみ供給されるため、DDA および DRM パッケージを削除するためにピン機能の表を更新。Go
  • 「推奨動作条件」を更新：動作時接合部温度の最大値を 140℃から 150℃に変更。Go
  • 「熱に関する情報」セクションをデバイスの特性を反映するように更新。Go
  • 「電気的特性」および「スイッチング特性」表を更新し、6.8V VDD の仕様を削除、ゲート ドライバのデータシートで通常行われている 12V VDD テスト条件の仕様はそのまま。Go
  • 「電気的特性」表の消費電流仕様を更新：1) IDD、IDDO、IHB、IHBO の最小仕様を削除。2) IDD の標準値を変更 (0.085mA に変更。から0.11mA)。3) IDDO の標準値を変更 (2.5mA に変更。から1.4mA)。4) IDDO の最大値を変更 (6.5mA に変更。から3mA に変更。5) IHBO の標準値を変更 (2.5mA に変更。から1.3mA)。6) IHBO の最大値を変更 (5.1mA に変更。から3mA)。8) IHBS テスト条件を、VHS の最大推奨動作条件に合わせて変更 (115Vから100V)。9) IHBSO の標準値を変更 (0.07mA に変更。から0.03mA)。10) IHBSO の最大値を変更 (1.2mA に変更。から1mA)。Go
  • 「電気的特性」表のブートストラップ ダイオードの仕様を更新：1) VF の最大値を変更 (0.8Vから0.85V)。2) VFi の標準値を変更 (0.85Vから0.9V)、最大値を変更 (0.95Vから1.05V)。3) RD テスト条件を変更 (100mA、80mAから180mA、160mA)。4) RD の標準値を変更 (0.5Ω。から0.55Ω)Go
  • 「電気的特性」表の LO/HO ゲート ドライバの仕様を更新：1) VLOL、VLOH、VHOL、VHOH の最小仕様を削除。2) VLOL および VHOL の標準値を変更 (0.1V から0.07V)。3) VLOH および VHOH の標準値を変更 (0.16Vから0.11V)。Go
  • 「スイッチング特性」表の伝搬遅延仕様を更新：1) TDLFF および TDHFF の標準値を変更 (16ns。から19ns)。「スイッチング特性」表の出力の立ち上がりおよび立ち下がり時間の仕様を更新：1) 1000pF の CLOAD の tRを変更 (7.8ns (標準値)から7.2ns (標準値))。2) 1000pF の CLOAD の tF を変更 (6ns (標準値)から5.5ns (標準値))。3) 1uF の CLOAD の tRを変更 (0.36us (標準値)から0.27us (標準値))。4) 0.1uF の CLOAD の tF を変更 (0.20us (標準値)から0.16us (標準値))。Go
  • 「スイッチング特性」表のその他の仕様を更新：tIN_PW の最大値を変更 (100ns。から40ns)。Go
  • 「代表的特性」セクションのすべてのプロットを、デバイスの標準仕様を反映するよう更新。Go
  • 「概要」セクションに記載されている代表的仕様を、「電気的特性」表のデバイス仕様と一致するように変更。Go
  • 「入力段」セクションを、電気的特性表の入力プルダウン抵抗の標準仕様と一致するよう変更 (70kΩから68kΩ に変更)。Go
  • 「低電圧誤動作防止 (UVLO) 」セクションを、電気的特性表と一致するように VHB UVLO ヒステリシスに変更 (0.4Vから0.3V)。Go
  • アプリケーション曲線を、伝搬遅延および立ち上がり / 立ち下がり時間のプロットを示すよう変更。Go

Changes from Revision * (June 2017) to Revision A (April 2018)

  • 以下のように変更：「5V～17V の VDD 動作範囲 (絶対最大定格 20V)」を「7V～17V の VDD 動作範囲 (絶対最大定格 20V)」に変更Go