Produktdetails

Number of channels 1 Vs (min) (V) 4 Vs (max) (V) 18 CMRR (min) (dB) 84 Common-mode input low (min) (V) -150 Common-mode input high (max) (V) 150 Input offset (±) (max) (V) 0.0035 Iq (typ) (mA) 0.81 Slew rate (typ) (V/µs) 5 Voltage gain (min) (V/V) 1 Voltage gain (max) (V/V) 1 Small-signal bandwidth (typ) (Hz) 500000 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125 Gain error (±) (max) (%) 0.65
Number of channels 1 Vs (min) (V) 4 Vs (max) (V) 18 CMRR (min) (dB) 84 Common-mode input low (min) (V) -150 Common-mode input high (max) (V) 150 Input offset (±) (max) (V) 0.0035 Iq (typ) (mA) 0.81 Slew rate (typ) (V/µs) 5 Voltage gain (min) (V/V) 1 Voltage gain (max) (V/V) 1 Small-signal bandwidth (typ) (Hz) 500000 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125 Gain error (±) (max) (%) 0.65
SOIC (D) 8 29.4 mm² 4.9 x 6
  • Radiation tolerant
    • Total ionizing dose (TID) RLAT for every wafer up to 30krad(Si)
    • ELDRS-free up to TID = 30krad(Si)
    • Single event latch-up (SEL) immune to 43MeV×cm2 /mg
    • Single event effect (SEE) characterized to 43MeV×cm2 /mg
  • Space enhanced plastic
    • Supports defense and aerospace applications
    • Controlled baseline
    • One assembly and test site
    • One Fabrication site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Outgassing test performed per ASTM E595
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
  • Common-mode voltage range: ±150V
  • Minimum CMRR: 84dB from –55°C to +125°C
  • DC specifications:
    • Maximum gain error: 0.067%
    • Typical gain error drift: 1.5ppm/°C
    • Typical gain nonlinearity: 0.0005% FSR
  • AC performance:
    • Small-signal bandwidth: 500kHz
    • Typical slew rate: 5V/µs
  • Wide supply range: ±2V to ±9V
  • Radiation tolerant
    • Total ionizing dose (TID) RLAT for every wafer up to 30krad(Si)
    • ELDRS-free up to TID = 30krad(Si)
    • Single event latch-up (SEL) immune to 43MeV×cm2 /mg
    • Single event effect (SEE) characterized to 43MeV×cm2 /mg
  • Space enhanced plastic
    • Supports defense and aerospace applications
    • Controlled baseline
    • One assembly and test site
    • One Fabrication site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Outgassing test performed per ASTM E595
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
  • Common-mode voltage range: ±150V
  • Minimum CMRR: 84dB from –55°C to +125°C
  • DC specifications:
    • Maximum gain error: 0.067%
    • Typical gain error drift: 1.5ppm/°C
    • Typical gain nonlinearity: 0.0005% FSR
  • AC performance:
    • Small-signal bandwidth: 500kHz
    • Typical slew rate: 5V/µs
  • Wide supply range: ±2V to ±9V

The INA1H94-SEP is a radiation-hardened precision unity-gain difference amplifier with a very high input common-mode voltage range. The INA1H94-SEP is a single, monolithic device that consists of a precision op amp and an integrated thin-film resistor network. The INA1H94-SEP can accurately measure small differential voltages in the presence of common-mode signals up to ±150V.

In many applications where galvanic isolation in not required, the INA1H94-SEP can replace isolation amplifiers. The INA1H94-SEP can help eliminate costly isolated input side power supplies, along with the associated ripple, noise, and quiescent current. The excellent 0.0005% typical nonlinearity, high common-mode, and 500kHz bandwidth of the INA1H94-SEP makes for a compelling sensor readout device.

The INA1H94-SEP is a radiation-hardened precision unity-gain difference amplifier with a very high input common-mode voltage range. The INA1H94-SEP is a single, monolithic device that consists of a precision op amp and an integrated thin-film resistor network. The INA1H94-SEP can accurately measure small differential voltages in the presence of common-mode signals up to ±150V.

In many applications where galvanic isolation in not required, the INA1H94-SEP can replace isolation amplifiers. The INA1H94-SEP can help eliminate costly isolated input side power supplies, along with the associated ripple, noise, and quiescent current. The excellent 0.0005% typical nonlinearity, high common-mode, and 500kHz bandwidth of the INA1H94-SEP makes for a compelling sensor readout device.

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Technische Dokumentation

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Top-Dokumentation Typ Titel Format-Optionen Datum
* Data sheet INA1H94-SEP Radiation-Tolerant, High Common-Mode Voltage Difference Amplifier datasheet PDF | HTML 18 Dez 2025
* Radiation & reliability report INA1H94-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 08 Dez 2025
* Radiation & reliability report INA1H94-SEP Radiation-Tolerant, High Common-Mode Voltage Difference Amplifier TID Report 05 Dez 2025
* Radiation & reliability report INA1H94-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report PDF | HTML 03 Dez 2025
Selection guide TI Space Products (Rev. K) 04 Apr 2025

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

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Schnelleres Entwickeln von Operationsverstärker-Prototypen und Testen derselben mit dem DIP-Adapter-EVM, welches eine schnelle, einfache und preiswerte Möglichkeit zum Verbinden mit kleinen, oberflächenmontierbaren ICs über eine Schnittstelle bietet. Sie können jeden unterstützten (...)

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INA1H94-SEP PSpice Reference Design Model

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Simulationsmodell

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Simulationsmodell

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SBOMCS2.TSC (83 KB) - TINA-TI Reference Design
Simulationsmodell

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SBOMCS1.ZIP (4 KB) - TINA-TI Spice Model
Berechnungstool

ANALOG-ENGINEER-CALC PC software analog engineer's calculator

The analog engineer’s calculator is designed to speed up many of the repetitive calculations that analog circuit design engineers use on a regular basis. This PC-based tool provides a graphical interface with a list of various common calculations ranging from setting operational-amplifier (...)

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Simulationstool

PSPICE-FOR-TI — PSpice® für TI Design-und Simulationstool

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Gehäuse Pins CAD-Symbole, Footprints und 3D-Modelle
SOIC (D) 8 Ultra Librarian

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