Detalles del producto

Number of channels 1 Vs (max) (V) 40 Vs (min) (V) 10 Input offset (±) (max) (µV) 25 Voltage gain (min) (V/V) 1 Voltage gain (max) (V/V) 1000 Noise at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 13 CMRR (min) (dB) 106 Input offset drift (±) (max) (µV/°C) 2 Input bias current (±) (max) (nA) 20 Iq (typ) (mA) 6.7 Bandwidth at min gain (typ) (MHz) 0.3 Gain error (±) (max) (%) 0.3 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog Type Resistor Gain nonlinearity (±) (max) (%) 0.002 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 2.5 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -2.5 Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 3 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -3 Noise at 0.1 Hz to 10 Hz (typ) (µVPP) 0.8
Number of channels 1 Vs (max) (V) 40 Vs (min) (V) 10 Input offset (±) (max) (µV) 25 Voltage gain (min) (V/V) 1 Voltage gain (max) (V/V) 1000 Noise at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 13 CMRR (min) (dB) 106 Input offset drift (±) (max) (µV/°C) 2 Input bias current (±) (max) (nA) 20 Iq (typ) (mA) 6.7 Bandwidth at min gain (typ) (MHz) 0.3 Gain error (±) (max) (%) 0.3 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog Type Resistor Gain nonlinearity (±) (max) (%) 0.002 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 2.5 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -2.5 Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 3 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -3 Noise at 0.1 Hz to 10 Hz (typ) (µVPP) 0.8
CDIP_SB (JD) 14 138.9395 mm² 18.55 x 7.49 PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (DW) 16 106.09 mm² 10.3 x 10.3 TO-CAN (LME) 10 80.2816 mm² 8.96 x 8.96
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Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
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Tipo Título Fecha
* Data sheet Very High Accuracy Instrumentation Amplifier datasheet 27 sep 2000

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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