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INA131

ACTIVO

Amplificador de instrumentación de precisión (G=100)

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Detalles del producto

Number of channels 1 Vs (max) (V) 36 Vs (min) (V) 4.5 Input offset (±) (max) (µV) 50 Voltage gain (min) (V/V) 100 Voltage gain (max) (V/V) 100 Noise at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 12 CMRR (min) (dB) 110 Input offset drift (±) (max) (µV/°C) 0.25 Input bias current (±) (max) (nA) 2 Iq (typ) (mA) 3 Bandwidth at min gain (typ) (MHz) 0.07 Gain error (±) (max) (%) 0.024 Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog Type Fixed Gain Gain nonlinearity (±) (max) (%) 0.002 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 1.3 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -1.3 Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 1.5 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -1.5 Noise at 0.1 Hz to 10 Hz (typ) (µVPP) 0.6
Number of channels 1 Vs (max) (V) 36 Vs (min) (V) 4.5 Input offset (±) (max) (µV) 50 Voltage gain (min) (V/V) 100 Voltage gain (max) (V/V) 100 Noise at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 12 CMRR (min) (dB) 110 Input offset drift (±) (max) (µV/°C) 0.25 Input bias current (±) (max) (nA) 2 Iq (typ) (mA) 3 Bandwidth at min gain (typ) (MHz) 0.07 Gain error (±) (max) (%) 0.024 Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog Type Fixed Gain Gain nonlinearity (±) (max) (%) 0.002 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 1.3 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -1.3 Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 1.5 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -1.5 Noise at 0.1 Hz to 10 Hz (typ) (µVPP) 0.6
PDIP (P) 8 92.5083 mm² 9.81 x 9.43
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Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
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Tipo Título Fecha
* Data sheet Precision G = 100 Instrumentation Amplifier datasheet 27 sep 2000

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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