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INA2141

ACTIVO

Amplificador de instrumentación doble de baja potencia (G=10, 100)

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Detalles del producto

Number of channels 2 Vs (max) (V) 36 Vs (min) (V) 4.5 Input offset (±) (max) (µV) 50 Voltage gain (min) (V/V) 10 Voltage gain (max) (V/V) 100 Noise at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 8 Features Overvoltage protection CMRR (min) (dB) 97 Input offset drift (±) (max) (µV/°C) 0.5 Input bias current (±) (max) (nA) 5 Iq (typ) (mA) 0.75 Bandwidth at min gain (typ) (MHz) 1 Gain error (±) (max) (%) 0.075 Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog Type Fixed Gain Gain nonlinearity (±) (max) (%) 0.002 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 0.9 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -0.9 Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 1.7 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -1.4 Noise at 0.1 Hz to 10 Hz (typ) (µVPP) 0.2
Number of channels 2 Vs (max) (V) 36 Vs (min) (V) 4.5 Input offset (±) (max) (µV) 50 Voltage gain (min) (V/V) 10 Voltage gain (max) (V/V) 100 Noise at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 8 Features Overvoltage protection CMRR (min) (dB) 97 Input offset drift (±) (max) (µV/°C) 0.5 Input bias current (±) (max) (nA) 5 Iq (typ) (mA) 0.75 Bandwidth at min gain (typ) (MHz) 1 Gain error (±) (max) (%) 0.075 Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog Type Fixed Gain Gain nonlinearity (±) (max) (%) 0.002 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 0.9 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -0.9 Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 1.7 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -1.4 Noise at 0.1 Hz to 10 Hz (typ) (µVPP) 0.2
SOIC (DW) 16 106.09 mm² 10.3 x 10.3
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet Dual, Low Power, G = 10, 100 Instrumentation Amplifier datasheet 27 sep 2000

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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