The SN55LVDS32 is a differential line receiver that implements the electrical characteristics of low-voltage differential signaling (LVDS). This signaling technique lowers the output voltage levels of 5-V differential standard levels (such as EIA/TIA-422B) to reduce the power, increase the switching speeds, and allow operation with a 3.3-V supply rail. Any of the four differential receivers provides a valid logical output state with a ±100-mV differential input voltage within the input common-mode voltage range. The input common-mode voltage range allows 1 V of ground potential difference between two LVDS nodes.
The intended application of these devices and signaling technique is both point-to-point and multidrop (one driver and multiple receivers) data transmission over controlled impedance media of approximately 100 Ω. The transmission media may be printed-circuit board traces, backplanes, or cables. The ultimate rate and distance of data transfer depends on the attenuation characteristics of the media and the noise coupling to the environment.
The SN55LVDS32 is characterized for operation from –55°C to 125°C.
| Documentación principal | Tipo | Título | Opciones de formato | Descargar la versión más reciente en inglés | Fecha |
|---|---|---|---|---|---|
| * | Hoja de datos | High-Speed Differential Line Receiver. datasheet | 1/03/2012 | ||
| * | Informe de radiación y confiabilidad | SN55LVDS31 and SN55LVDS32 SEE Report | 31/03/2015 | ||
| * | Informe de radiación y confiabilidad | SN55LVDS32J Radiation Test Report | 31/03/2015 | ||
| * | SMD | SN55LVDS32-SP SMD 5962-97622 | 8/07/2016 | ||
| Guía de selección | TI Space Products (Rev. L) | 27/03/2026 | |||
| Application brief | DLA Approved Optimizations for QML Products (Rev. C) | PDF | HTML | 17/06/2025 | ||
| Nota sobre la aplicación | Heavy Ion Orbital Environment Single-Event Effects Estimations (Rev. B) | PDF | HTML | 10/06/2025 | ||
| Más documentación | TI Engineering Evaluation Units vs. MIL-PRF-38535 QML Class V Processing (Rev. B) | 20/02/2025 | |||
| Nota sobre la aplicación | Single-Event Effects Confidence Interval Calculations (Rev. A) | PDF | HTML | 19/10/2022 |
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| Encapsulado | Pines | Símbolos CAD, huellas y modelos 3D |
|---|---|---|
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