TCAN11625-Q1
Transceptor CAN-FD con alimentación integrada de 5 V y LDO 5 V, 100 mA, de calidad automotriz
TCAN11625-Q1
- AEC Q100 (Grade 1) Qualified for automotive applications
- Meets the requirements of ISO 11898-2:2016
- Functional Safety-Capable
- Wide input operational voltage range
- Integrated LDO for CAN transceiver supply
- 5V LDO with 100mA output current capability - TCAN11625-Q1
- 3.3V LDO with 70mA output current capability - TCAN11623-Q1
- Classic CAN and CAN FD up to 8Mbps
- VIO level shifting supports: 1.7V to 5.5V
- Operating modes
- Normal mode
- Standby mode
- Low-power sleep mode
- High-voltage INH output for system power control
- Local wake-up support via the WAKE pin
- Defined behavior when unpowered
- Bus and IO terminals are high impedance (no load to operating bus or application)
- Protection features:
- ±58V CAN bus fault tolerant
- Load dump support on VSUP
- IEC ESD protection
- Under-voltage and over-voltage protection
- Thermal shutdown protection
- TXD dominant state timeout (TXD DTO)
- Extra wide junction temperature support
- Available in the leadless VSON (14) package with wettable flank for improved automated optical inspection (AOI) capability
The TCAN1162x-Q1 are high-speed controller area network (CAN) system basis chips (SBC) that meet the physical layer requirements of the ISO 11898-2:2016 high-speed CAN specification. The TCAN1162x-Q1 supports both classical CAN and CAN FD networks up to 8 megabits per second (Mbps).
Both the TCAN11623-Q1 and TCAN11625-Q1 support a wide input supply range and integrates some form of an LDO output. The TCAN11625-Q1 has a 5V LDO output (VCCOUT) which supplies the CAN transceiver voltage internally as well as additional current externally. The TCAN11623-Q1 has a 3.3V LDO output (VLDO3), supplied from the 5V LDO, supporting external loads.
The TCAN1162x-Q1 allows for system-level reductions in battery current consumption by selectively enabling the various power supplies that may be present on a system via the INH output pin. This allows an ultra-low-current sleep state where power is gated to all system components except for the TCAN1162x-Q1, while monitoring the CAN bus. When a wake-up event is detected, the TCAN1162x-Q1 initiates system start-up by driving INH high.
This allows an ultra-low-current sleep state in which power is gated to all system components except for the TCAN1162x-Q1, which remains in a low-power state while monitoring the CAN bus. When a wake-up event is detected, the TCAN1162x-Q1 initiates node start-up by driving INH high.
The TCAN1162x-Q1 supports an ultra low-power standby mode where the high-speed transmitter and normal receiver are switched off and a low-power wake-up receiver enables remote wake-up via the ISO 11898-2:2016 defined wake-up pattern (WUP).
The TCAN1162x-Q1 includes internal logic level translation via the VIO terminal to allow for interfacing directly to 1.8V, 2.5V, 3.3V, or 5V controllers. The transceiver includes many protection and diagnostic features including undervoltage detection, over voltage detection, thermal shutdown (TSD), driver dominant timeout (TXD DTO), and bus fault protection up to ±58V.
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Documentación técnica
| Documentación principal | Tipo | Título | Opciones de formato | Fecha |
|---|---|---|---|---|
| * | Data sheet | TCAN1162x-Q1 Automotive CAN FD System Basis Chip with Sleep Mode and LDO Output datasheet (Rev. B) | PDF | HTML | 01 jul 2025 |
| Application brief | System Basis Chips (SBCs) 101: A Beginner’s Guide to CAN and LIN SBCs | PDF | HTML | 03 dic 2025 | |
| Product overview | System Basis Chips (SBCs) 101 - Exploration of TI's SBC Portfolio | PDF | HTML | 20 nov 2025 | |
| Application note | Protecting Automotive CAN Bus Systems From ESD Overvoltage Events | PDF | HTML | 27 abr 2022 | |
| Functional safety information | TCAN1162x-Q1 Functional Safety, FIT Rate, Failure Mode Distribution and Pin FMA | PDF | HTML | 01 abr 2021 |
Diseño y desarrollo
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Pedidos y calidad
- RoHS
- REACH
- Marcado del dispositivo
- Acabado de plomo/material de la bola
- Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)/reflujo máximo
- Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
- Contenido del material
- Resumen de calificaciones
- Monitoreo continuo de confiabilidad
- Lugar de fabricación
- Lugar de ensamblaje
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