SN74AHCT1G14

활성

슈미트 트리거 입력을 지원하는 단일 4.5V~5.5V 인버터

제품 상세 정보

Technology family AHCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Supply current (max) (µA) 10 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family AHCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Supply current (max) (µA) 10 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² 2.9 x 2.8 SOT-SC70 (DCK) 5 4.2 mm² 2 x 2.1
  • Operating range 4.5V to 5.5V
  • Max tpd of 8ns at 5V
  • Low power consumption, 1µA max ICC
  • ±8mA output drive at 5V
  • Inputs are TTL-voltage compatible
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Operating range 4.5V to 5.5V
  • Max tpd of 8ns at 5V
  • Low power consumption, 1µA max ICC
  • ±8mA output drive at 5V
  • Inputs are TTL-voltage compatible
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17

The SN74AHCT1G14 contains a single inverter gate. The device performs the Boolean function Y = A.

The SN74AHCT1G14 contains a single inverter gate. The device performs the Boolean function Y = A.

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기술 자료

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설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

5-8-LOGIC-EVM — 5핀~8핀 DCK, DCT, DCU, DRL 및 DBV 패키지용 일반 논리 평가 모듈

5~8핀 수의 DCK, DCT, DCU, DRL 또는 DBV 패키지가 있는 모든 디바이스를 지원하도록 설계된 유연한 EVM.
사용 설명서: PDF
TI.com에서 구매 불가
시뮬레이션 모델

SN74AHCT1G14 Behavioral SPICE Model

SLCM007.ZIP (7 KB) - PSpice Model
시뮬레이션 모델

SN74AHCT1G14 IBIS Model

SCLM015.ZIP (7 KB) - IBIS Model
패키지 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
SOT-SC70 (DCK) 5 Ultra Librarian

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

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