フラット・パネル・ディスプレイ (FPD) 向け、ショート・バー・パターン・ジェネレータ

TI の IC とリファレンス・デザインはリファレンス電圧の負荷、クロッキング、電源によるチャネル間のばらつきを最小化する、高密度の高性能マルチ・チャネル・フラット・パネル・ディスプレイ (FPD) テスト機器の設計を可能にします。

設計要件

次世代のフラット・パネル・ディスプレイ (FPD) テスト装置の一般的な要件：

• 高精度、高電圧の複数チャネル同時測定能力。
• 測定時にチャネル間のばらつきが最小。
• ショート・バー・テスト向けの大電流ドライブを高い電圧精度で生成。
• 高集積、効率的、低 EMI の電源アーキテクチャ。