Das LMG2640-Tochterkarten-Evaluierungsmodul (EVM) wurde entwickelt, um eine schnelle und einfache Plattform für die Evaluierung der integrierten GaN-Bausteine von TI in beliebigen Halbbrückentopologien zu bieten. Die Platine ist für die Anbindung an ein größeres System unter Verwendung der sechs Stromversorgungspins und 10 digitalen Pins an der Unterkante der Platine ausgelegt. Die Stromversorgungspins bilden die Hauptschaltschleife, die aus einem Hochspannungs-Gleichstrombus, einem Schaltknoten und der Leistungsmasse besteht. Die digitalen Pins steuern den LMG2640-Baustein mit PWM-Gate-Eingängen, liefern Hilfsstrom mit Niederspannungsversorgungen und melden Fehler über einen digitalen Ausgang. Die Leistung des LMG2640EVM lässt sich am einfachsten mit einer synchronen Abwärts-/Aufwärts-Hauptplatine von TI (LMG342X-BB-EVM) evaluieren. Die Tochterkarte wird einfach in die Hauptplatine gesteckt und verbindet alle Stromversorgungen und digitalen Steuerungen in einer Open-Loop-Konfiguration, um eine umfassende Systemsteuerung zu ermöglichen. Darüber hinaus wird der empfohlene Platzbedarf für den Anschluss der Tochterkarte an ein kundenspezifisches System angegeben, damit weitere Tests durchgeführt werden können.
Merkmale
- Eingangsspannungsbereich bis 650 V
- Einfaches Open-Loop-Design für die Evaluierung der Leistung des LMG2640
- Single/Dual-PWM-Eingang auf der Platine für PWM-Signal mit variabler Totzeit
- Hochintegrierte GaN-Leistungs-FET-Halbbrücke mit Ausgang für die Low-Side-Strommessemulation
- Komfortable Tastkopfpunkte für Logik- und Leistungsstufenmessungen mit Oszilloskop-Tastköpfen mit kurzer Massefeder