Das LMG2650EVM-100 wurde entwickelt, um eine schnelle und einfache Plattform für die Evaluierung der integrierten GaN-Bausteine von TI in beliebigen Halbbrückentopologien zu bieten. Die Platine ist für die Anbindung an ein größeres System unter Verwendung der 6 Stromversorgungspins und 12 digitalen Pins an der Unterkante der Platine in einer externen Sockelverbindung ausgelegt. Die Stromversorgungspins bilden die Hauptschaltschleife, die aus einem Hochspannungs-Gleichstrombus, einem Schaltknoten und der Leistungsmasse besteht. Die digitalen Pins steuern den LMG2650-Baustein mit PWM-Gate-Eingängen, liefern Hilfsstrom mit Niederspannungsversorgungen und melden Fehler über einen digitalen Ausgang. Die Leistung des LMG2650EVM-100 lässt sich am einfachsten mit einer synchronen Abwärts-/Aufwärts-Hauptplatine von TI (LMG342X-BB-EVM) evaluieren. Die Tochterkarte wird einfach in die Hauptplatine gesteckt und verbindet alle Stromversorgungen und digitalen Steuerungen in einer Open-Loop-Konfiguration, um eine umfassende Systemsteuerung zu ermöglichen. Darüber hinaus wird der empfohlene Platzbedarf für den Anschluss der Tochterkarte an ein kundenspezifisches System angegeben, damit weitere Tests durchgeführt werden können.
| Typ | Titel | Neueste englische Version herunterladen | Datum | ||
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| * | EVM User's guide | LMG2650 Half-Bridge Daughtercard Evaluation Module User's Guide | PDF | HTML | 04.12.2024 |
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