TIDA-00155

DLP® 近赤外分光計、液体と固体の光学的分析用

TIDA-00155

設計ファイル

概要

この近赤外線(NIR)分光器リファレンス・デザインでは、テキサス・インスツルメンツの DLP テクノロジーと単素子 InGaAs 検出器の組み合わせによって高性能な測定が可能です。しかも、高価な InGaAs アレイ検出器や壊れやすい回転回折格子アーキテクチャとは異なり、低コストでポータブルなフォーム・ファクタを実現しています。NIR 分光器は、食品、農業、製薬、石油化学製品、プラスチックなどさまざまなアプリケーションで、有機系の液体や固体を解析するために一般的に使用されています。強力な Sitara 組込みプロセッサやアナログ・シグナル・チェーン部品と組み合わせれば、デベロッパーは、ハイエンドのラボ用分光器の実力を備えた機器を作業現場や製造ラインに提供できます。

特長
  • 波長範囲 1350 ~ 2450nm のスペクトル透過率データを 1 秒足らずで取得でき、30,000:1 を超える信号対雑音比(SNR)を達成可能
  • 単素子 InGaAs 検出器を採用した設計により、高いライト・スループットと、InGaAs アレイよりも低いコストを両立
  • プログラマブル波長フィルタリングにより、一定の信号対雑音比を維持してのスキャン、波長と分解能のオンザフライ調整、ケモメトリックス・アルゴリズムを実現可能
  • 最大 1824 個のデータ点を扱う高分解能スペクトル・アクイジションを実現
  • オープンソース・アーキテクチャの BeagleBone Black に Linux オペレーティング・システムと内蔵 Web サーバーを搭載し、USB、イーサネット、WiFi、Bluetooth 経由の接続にフレキシブルに対応
  • 回転回折格子や回転ミラーを含まず多様な条件に対応できる MEMS ベースの設計。ポータブル機器向け

設計ファイルと製品

設計ファイル

すぐに使用できるシステム・ファイルをダウンロードすると、設計プロセスを迅速化できます。

TIDU236.PDF (305 K)

効率グラフや試験の前提条件などを含める、このリファレンス・デザインに関する試験結果

TIDR417A.ZIP (1220 K)

設計レイアウトとコンポーネントを示した詳細な回路図

TIDR418B.ZIP (209 K)

設計に使用したコンポーネント、参照指定子、メーカー名や型番などを記入した詳細なリスト

TIDC293C.ZIP (130937 K)

コンポーネントの配置を明示する詳細な設計レイアウト

製品

設計や代替製品候補に TI 製品を含めます。

Arm ベースのプロセッサ

AM3358Sitara プロセッサ: Arm Cortex-A8、3D グラフィックス、PRU-ICSS、CAN

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LCD / OLED ディスプレイ向けの電源とドライバ

TPS65145フル統合型の正のチャージ・ポンプと 3.3V LDO コントローラと最小 0.96A の昇圧電流制限機能と障害検出機能搭載、4 チャネル LCD バイアス

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Visible products (420 to 700 nm)

DLPC350DLP4500 DMD と DLP4500NIR DMD 向けデジタル・コントローラ

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シリーズ電圧リファレンス

REF50252.5V、3μVpp/V のノイズ、3ppm/℃ のドリフト、高精度のシリーズ・リファレンス電圧

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パワー・オペアンプ

OPA5692A 出力電流時にレールの 200mV 以内での出力信号スイング・パワー・オペアンプ

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マルチチャネル IC (PMIC)

TPS652173 個の DC/DC と 4 個の LDO とリニア・バッテリ・チャージャと白色 LED ドライバ搭載、パワー・マネージメント IC (PMIC)

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リニア・レギュレータと低ドロップアウト (LDO) レギュレータ

TPS730イネーブル搭載、200mA、低ドロップアウト電圧レギュレータ

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分光法および光ネットワーク製品

DLP4500NIRDLP® 0.45 WXGA NIR DMD

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計測アンプ

INA330温度制御用サーミスタ信号アンプ

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降圧コンバータ (スイッチ内蔵)

TPS652514.5V~18V 入力、3A/2A/2A 出力、同期整流 3 回路降圧コンバータ

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高精度 ADC (10MSPS 以下)

ADS125524 ビット、30kSPS、超低ノイズ、デルタ・シグマ ADC

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高精度オペアンプ (Vos が 1mV 未満)

OPA2376デュアル、高精度、低ノイズ、低静止電流オペアンプ

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開発を始める

ハードウェア

評価ボード

DLPNIRSCANEVM — DLP® NIRscan™ 評価モジュール

 

DLP NIRscan は、高性能で手頃な近赤外線分光計を設計するための評価モジュール(EVM)です。設計者が DLP ベースの分光器の開発をすぐに開始するために必要なものがすべて含まれています。この評価モジュールは、近赤外(NIR)光用に最適化されている初の DLP チップセットとなる DLP 0.45 WXGA NIR チップセットが特長です。DLP テクノロジーにより、食品、製薬、石油/ガス、他の新興産業で使用されている分光器で、ラボ・レベルの性能を工場や現場でも実現できるようになります。

 

 

在庫あり
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技術資料

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種類 タイトル 英語版のダウンロード 日付
* 試験報告書 TIDA-00155 Test Results 2014年 2月 26日
アプリケーション・ノート DLP® Spectrometer Signal-to-Noise and Resolution Measurement and Trade-offs 2016年 8月 1日
アプリケーション・ノート DLPNIRSCANEVM, DLP4500NIR, DLPC350 2014年 8月 21日

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