JAJSUF7B April 2024 – August 2025 IWRL6432AOP
PRODUCTION DATA
IWRL6432AOP BSDL モデル
個別デバイスの IEEE 1149.1 でテスト可能な入力および出力ピンのバウンダリ スキャン データベース。
IWRL6432AOP IBIS モデル
デバイスの IO バッファの IO バッファ情報モデル。基板上でのシミュレーションについては、IBIS Open Forum を参照してください。