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SN54SC8T374-SEP

Name: SN54SC8T374-SEP
Brand: TI
SKU: SN54SC8T374-SEP
Price: 172.5 USD

AKTIV

Strahlungstolerante transparente Achtfach-Latches (Typ D) mit Logikpegelumsetzer

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Datenblatt

document-pdfAcrobat SN54SC8T374-SEP Radiation Tolerant Octal Edge-Triggered D-Type Flip-Flops with 3-State Outputs datasheet (Englisch) PDF | HTML

SN54SC8T374-SEP

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Produktdetails

Technology family

SCxT

Number of channels

IOH (max) (mA)

-25

IOL (max) (mA)

Features

Over-voltage tolerant inputs

Input type

TTL/CMOS

Output type

CMOS

Operating temperature range (°C)

-55 to 125

Technology family

SCxT

Number of channels

IOH (max) (mA)

-25

IOL (max) (mA)

Features

Over-voltage tolerant inputs

Input type

TTL/CMOS

Output type

CMOS

Operating temperature range (°C)

-55 to 125

TSSOP (PW)

41.6 mm² 6.5 x 6.4

Vendor item drawing available, VID V62/25627-01XE
Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
- TID characterized up to 50krad(Si)
- TID performance assurance up to 30krad(Si)
- Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
Radiation - Single-Event Effects (SEE):
- Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
- Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg
Wide operating range of 1.2V to 5.5V
Single-supply voltage translator:
- Up translation:
  - 1.2V to 1.8V
  - 1.5V to 2.5V
  - 1.8V to 3.3V
  - 3.3V to 5.0V
- Down translation:
  - 5.0V, 3.3V, 2.5V to 1.8V
  - 5.0V, 3.3V to 2.5V
  - 5.0V to 3.3V
5.5V tolerant input pins
Supports standard pinouts
Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
Space enhanced plastic:
- Supports defense and aerospace applications
- Controlled baseline
- Au bondwire and NiPdAu lead finish
- Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
- One fabrication, assembly, and test site
- Extended product life cycle
- Product traceability

Vendor item drawing available, VID V62/25627-01XE
Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
- TID characterized up to 50krad(Si)
- TID performance assurance up to 30krad(Si)
- Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
Radiation - Single-Event Effects (SEE):
- Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
- Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg
Wide operating range of 1.2V to 5.5V
Single-supply voltage translator:
- Up translation:
  - 1.2V to 1.8V
  - 1.5V to 2.5V
  - 1.8V to 3.3V
  - 3.3V to 5.0V
- Down translation:
  - 5.0V, 3.3V, 2.5V to 1.8V
  - 5.0V, 3.3V to 2.5V
  - 5.0V to 3.3V
5.5V tolerant input pins
Supports standard pinouts
Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
Space enhanced plastic:
- Supports defense and aerospace applications
- Controlled baseline
- Au bondwire and NiPdAu lead finish
- Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
- One fabrication, assembly, and test site
- Extended product life cycle
- Product traceability

These 8-bit flip-flops feature 3-state outputs designed specifically for driving highly capacitive or relatively low-impedance loads. They are particularly suitable for implementing buffer registers, I/O ports, bidirectional bus drivers, and working registers.

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Andere Flipflops, Latches und Register zur Spannungsumsetzung suchen

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Technische Dokumentation

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Alle anzeigen 4

	Typ	Titel		Datum
*	Data sheet	SN54SC8T374-SEP Radiation Tolerant Octal Edge-Triggered D-Type Flip-Flops with 3-State Outputs datasheet	PDF \| HTML	26 Jan 2025
*	Radiation & reliability report	SN54SC8T595-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report (Rev. A)	PDF \| HTML	05 Mär 2025
*	Radiation & reliability report	SN54SC8T374-SEP Production Flow and Reliability Report	PDF \| HTML	21 Feb 2025
*	Radiation & reliability report	SN54SC8T374-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report		15 Jan 2025

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Evaluierungsplatine

14-24-LOGIC-EVM — Generisches Logikprodukt-Evaluierungsmodul für 14-polige bis 24-polige D-, DB-, DGV-, DW-, DYY-, NS-

Das 14-24-LOGIC-EVM-Evaluierungsmodul (EVM) ist für die Unterstützung aller Logikgeräte konzipiert, die sich in einem 14-Pin- bis 24-Pin-D-, DW-, DB-, NS-, PW-, DYY- oder DGV-Gehäuse befinden.

Benutzerhandbuch: PDF | HTML

Nicht verfügbar auf TI.com

Evaluierungsplatine

14-24-NL-LOGIC-EVM — Generisches Logikprodukt-Evaluierungsmodul für 14- bis 24-polige bleifreie Gehäuse

14-24-NL-LOGIC-EVM ist ein flexibles Evaluierungsmodul (EVM), das alle Logik- oder Übersetzungsbausteine mit einem 14- bis 24-poligen BQA-, BQB-, RGY-, RSV-, RJW- oder RHL-Gehäuse unterstützt.

Benutzerhandbuch: PDF | HTML