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SN54SC8T9541-SEP

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Strahlungstoleranter 8-Bit-Pegelumsetzer mit fester Richtung und Schmitt-Trigger-Eingängen

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SN54SC8T9541-SEP

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Produktdetails

Bits (#) 8 Data rate (max) (Mbps) 150 Topology Push-Pull Direction control (typ) Fixed-direction Vin (min) (V) 1.2 Vin (max) (V) 5.5 Applications GPIO Features Output enable, Partial power down (Ioff), Single supply, Vcc isolation Prop delay (ns) 12.4 Technology family LVT Supply current (max) (mA) 0.22 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
Bits (#) 8 Data rate (max) (Mbps) 150 Topology Push-Pull Direction control (typ) Fixed-direction Vin (min) (V) 1.2 Vin (max) (V) 5.5 Applications GPIO Features Output enable, Partial power down (Ioff), Single supply, Vcc isolation Prop delay (ns) 12.4 Technology family LVT Supply current (max) (mA) 0.22 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 20 41.6 mm² 6.5 x 6.4
  • Vendor item drawing available, VID V62/25633-01XE
  • Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
    • TID characterized up to 50krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
  • Radiation - Single-Event Effects (SEE):
    • Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg

  • Wide operating range of 1.2V to 5.5V

  • Single-supply voltage translator:

    • Up translation:

      • 1.2V to 1.8V

      • 1.5V to 2.5V

      • 1.8V to 3.3V

      • 3.3V to 5.0V

    • Down translation:

      • 5.0V, 3.3V, 2.5V to 1.8V
      • 5.0V, 3.3V to 2.5V
      • 5.0V to 3.3V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic:
    • Supports defense and aerospace applications
    • Controlled baseline
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
  • Vendor item drawing available, VID V62/25633-01XE
  • Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
    • TID characterized up to 50krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
  • Radiation - Single-Event Effects (SEE):
    • Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg

  • Wide operating range of 1.2V to 5.5V

  • Single-supply voltage translator:

    • Up translation:

      • 1.2V to 1.8V

      • 1.5V to 2.5V

      • 1.8V to 3.3V

      • 3.3V to 5.0V

    • Down translation:

      • 5.0V, 3.3V, 2.5V to 1.8V
      • 5.0V, 3.3V to 2.5V
      • 5.0V to 3.3V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic:
    • Supports defense and aerospace applications
    • Controlled baseline
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability

The SN54SC8T9541-SEP contains eight buffers with 3-state outputs and Schmitt-Trigger inputs. The active low output enable pins (OE1 and OE2) control all eight channels, and are configured so that both must be low for the outputs to be active. When the outputs are enabled, the outputs are actively driven low or high. When the outputs are disabled, the outputs are set into the high-impedance state. The output level is referenced to the supply voltage (VCC) and supports 1.8V, 2.5V, 3.3V, and 5V CMOS levels.

The input is designed with a lower threshold circuit to support up translation for lower voltage CMOS inputs (for example, 1.2V input to 1.8V output or 1.8V input to 3.3V output). In addition, the 5V tolerant input pins enable down translation (for example, 3.3V to 2.5V output).

The SN54SC8T9541-SEP contains eight buffers with 3-state outputs and Schmitt-Trigger inputs. The active low output enable pins (OE1 and OE2) control all eight channels, and are configured so that both must be low for the outputs to be active. When the outputs are enabled, the outputs are actively driven low or high. When the outputs are disabled, the outputs are set into the high-impedance state. The output level is referenced to the supply voltage (VCC) and supports 1.8V, 2.5V, 3.3V, and 5V CMOS levels.

The input is designed with a lower threshold circuit to support up translation for lower voltage CMOS inputs (for example, 1.2V input to 1.8V output or 1.8V input to 3.3V output). In addition, the 5V tolerant input pins enable down translation (for example, 3.3V to 2.5V output).
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Technische Dokumentation

star =Von TI ausgewählte Top-Empfehlungen für dieses Produkt
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Typ Titel Datum
* Data sheet SN54SC8T9541-SEP Radiation Tolerant, Octal Buffers/Drivers with 3-State Outputs and Schmitt-Trigger Inputs datasheet PDF | HTML 26 Jan 2025
* Radiation & reliability report SN54SC8T9541-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 21 Feb 2025
* Radiation & reliability report SN54SC8T9541-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report 19 Feb 2025
* Radiation & reliability report SN54SC8T541-SEP Single Event Effects Report PDF | HTML 16 Jan 2025

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Evaluierungsplatine

14-24-LOGIC-EVM — Generisches Logikprodukt-Evaluierungsmodul für 14-polige bis 24-polige D-, DB-, DGV-, DW-, DYY-, NS-

Das 14-24-LOGIC-EVM-Evaluierungsmodul (EVM) ist für die Unterstützung aller Logikgeräte konzipiert, die sich in einem 14-Pin- bis 24-Pin-D-, DW-, DB-, NS-, PW-, DYY- oder DGV-Gehäuse befinden.

Benutzerhandbuch: PDF | HTML
Nicht verfügbar auf TI.com
Gehäuse Pins CAD-Symbole, Footprints und 3D-Modelle
TSSOP (PW) 20 Ultra Librarian
Es gelten die allgemeinen Geschäftsbedingungen von TI für Evaluierungsartikel.

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