ADC12D1620QML-SP

ACTIVO

Radiation-hardened, QML-V, 300krad, 12-bit dual 1.6GSPS or single 3.2GSPS ADC

Detalles del producto

Sample rate (max) (Msps) 1600, 3200 Resolution (Bits) 12 Number of input channels 1, 2 Interface type Parallel LVDS Analog input BW (MHz) 2400 Features Ultra High Speed Rating Space Peak-to-peak input voltage range (V) 0.8 Power consumption (typ) (mW) 3880 Architecture Folding Interpolating SNR (dB) 59.8 ENOB (Bits) 9.5 SFDR (dB) 67.4 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input buffer Yes Radiation, TID (typ) (krad) 300 Radiation, SEL (MeV·cm2/mg) 120
Sample rate (max) (Msps) 1600, 3200 Resolution (Bits) 12 Number of input channels 1, 2 Interface type Parallel LVDS Analog input BW (MHz) 2400 Features Ultra High Speed Rating Space Peak-to-peak input voltage range (V) 0.8 Power consumption (typ) (mW) 3880 Architecture Folding Interpolating SNR (dB) 59.8 ENOB (Bits) 9.5 SFDR (dB) 67.4 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input buffer Yes Radiation, TID (typ) (krad) 300 Radiation, SEL (MeV·cm2/mg) 120
CLGA (FVA) 256 780.6436 mm² (0 mm × 0 mm) CCGA (NAA) 376 780.6436 mm² (0 mm × 0 mm)
  • Total ionizing dose (TID) to 300 krad(Si)
  • Single event functional interrupt (SEFI) tested
  • Single event latch-up (SEL) > 120 MeV-cm2/mg
  • Cold sparing capable
  • Wide temperature range –55°C to +125°C
  • Power consumption = 3.8 W or 2.7 W (1600- or 800-MHz clock)
  • 3-dB Input bandwidth = 3 GHz
  • Low-sampling power-saving mode (LSPSM) reduces power consumption and improves performance for fCLK ≤ 800 MHz
  • Auto-sync function for multi-chip systems
  • Time stamp feature to capture external trigger
  • Test patterns at output for system debug
  • 1:1 Non-demuxed or 1:2 or 1:4 parallel demuxed LVDS outputs
  • Single 1.9-V power supply
  • Total ionizing dose (TID) to 300 krad(Si)
  • Single event functional interrupt (SEFI) tested
  • Single event latch-up (SEL) > 120 MeV-cm2/mg
  • Cold sparing capable
  • Wide temperature range –55°C to +125°C
  • Power consumption = 3.8 W or 2.7 W (1600- or 800-MHz clock)
  • 3-dB Input bandwidth = 3 GHz
  • Low-sampling power-saving mode (LSPSM) reduces power consumption and improves performance for fCLK ≤ 800 MHz
  • Auto-sync function for multi-chip systems
  • Time stamp feature to capture external trigger
  • Test patterns at output for system debug
  • 1:1 Non-demuxed or 1:2 or 1:4 parallel demuxed LVDS outputs
  • Single 1.9-V power supply

The ADC12D1620QML uses a package redesign to achieve better ENOB, SNR, and X-talk compared to the ADC12D1600QML. As is its predecessor, the ADC12D1620QML is a low-power, high-performance CMOS analog-to-digital converter (ADC) that digitizes signals at a 12-bit resolution at sampling rates up to 3.2 GSPS in an interleaved mode. It can also be used as a dual-channel ADC for sampling rates up to 1.6 GSPS. For sampling rates below 800 MHz, there is a low-sampling power-saving mode (LSPSM) that reduces power consumption to less than 1.4 W per channel (typical). The ADC can support conversion rates as low as 200 MSPS.

The ADC12D1620QML uses a package redesign to achieve better ENOB, SNR, and X-talk compared to the ADC12D1600QML. As is its predecessor, the ADC12D1620QML is a low-power, high-performance CMOS analog-to-digital converter (ADC) that digitizes signals at a 12-bit resolution at sampling rates up to 3.2 GSPS in an interleaved mode. It can also be used as a dual-channel ADC for sampling rates up to 1.6 GSPS. For sampling rates below 800 MHz, there is a low-sampling power-saving mode (LSPSM) that reduces power consumption to less than 1.4 W per channel (typical). The ADC can support conversion rates as low as 200 MSPS.

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* Hoja de datos ADC12D1620QML-SP 12-Bit, Single Or Dual, 3200- or 1600-MSPS RF Sampling Analog-to-Digital Converter (ADC) datasheet (Rev. A) PDF | HTML 12/10/2021
* Informe de radiación y confiabilidad ADC12D1600QML-SP/ADC12D1620QML-SP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report 27/07/2020
* Informe de radiación y confiabilidad Single Event Effects Characterization of Texas Instruments ADC12D1600CCMLS 14/06/2018
* Informe de radiación y confiabilidad ADC12D1600CCMLS TID Report 17/01/2013
* Informe de radiación y confiabilidad Analysis of Low Dose Rate Effects on Parasitic Bipolar Structures in CMOS Proces 4/05/2012
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Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

TSW12D1620EVM-CVAL — Módulo de evaluación ADC12D1620QML-SP para ADC de 300 krad, 12 bits, doble de 1.6 GSPS o simple de 3

El TSW12D1620EVM-CVAL es un módulo de evaluación (EVM) de receptor de banda ancha de 1.5 GHz, que incluye modelos de ingeniería cerámica de la solución de amplificador, convertidor analógico a digital (ADC), reloj, sensor de temperatura, microcontrolador y fuente de alimentación. La placa es idónea (...)

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No disponible
Firmware

SBAC235 — MSP430FR5969 Firmware

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TIDA-070004 — Diseño de referencia de grado espacial con sensor integrado de temperatura de salida digital

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Productos y hardware compatibles
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
CLGA (FVA) 256 Ultra Librarian
CCGA (NAA) 376 Ultra Librarian

Pedidos y calidad

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