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LMK04832-SP

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Limpiador de fluctuaciones de reloj de 3.2 GHz y 15 salidas con protección contra la radiación (RHA)

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LMK04832-SP

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Detalles del producto

Number of input channels 3 Number of outputs 15 RMS jitter (fs) 54 Features +/-25ppm, 0 Delay, Integrated VCO, JESD204B, Loss of signal detection, Manual/auto switch, Programmable Delay, SPI Output frequency (max) (MHz) 3255 Output type CML, HSDS, LVCMOS, LVDS, LVPECL Input type HCSL, LVCMOS, LVCMOS (REF_CLK), LVDS, LVPECL, LVPECL (VCXO_CLK) Supply voltage (min) (V) 3.135 Supply voltage (max) (V) 3.465 Operating temperature range (°C) -55 to 125
Number of input channels 3 Number of outputs 15 RMS jitter (fs) 54 Features +/-25ppm, 0 Delay, Integrated VCO, JESD204B, Loss of signal detection, Manual/auto switch, Programmable Delay, SPI Output frequency (max) (MHz) 3255 Output type CML, HSDS, LVCMOS, LVDS, LVPECL Input type HCSL, LVCMOS, LVCMOS (REF_CLK), LVDS, LVPECL, LVPECL (VCXO_CLK) Supply voltage (min) (V) 3.135 Supply voltage (max) (V) 3.465 Operating temperature range (°C) -55 to 125
CFP (HBE) 64 118.81 mm² 10.9 x 10.9
  • SMD #5962R1723701VXC
    • Total ionizing dose 100 krad (ELDRS-free)
    • SEL immune >120 MeV × cm2/mg
    • SEFI immune >120 MeV × cm2/mg
  • Maximum clock output frequency: 3255 MHz
  • Multi-mode: dual PLL, single PLL, and clock distribution
  • 6-GHz external VCO or distribution input
  • Ultra-low noise, at 2500 MHz:
    • 54-fs RMS jitter (12 kHz to 20 MHz)
    • 64-fs RMS jitter (100 Hz to 20 MHz)
    • –157.6-dBc/Hz noise floor
  • Ultra-low noise, at 3200 MHz:
    • 61-fs RMS jitter (12 kHz to 20 MHz)
    • 67-fs RMS jitter (100 Hz to 100 MHz)
    • –156.5-dBc/Hz noise floor
  • PLL2
    • PLL FOM of –230 dBc/Hz
    • PLL 1/f of –128 dBc/Hz
    • Phase detector rate up to 320 MHz
    • Two integrated VCOs: 2440 to 2600 MHz and 2945 to 3255 MHz
  • Up to 14 differential device clocks
    • CML, LVPECL, LCPECL, HSDS, LVDS, and 2xLVCMOS programmable outputs
  • Up to 1 buffered VCXO/XO output
    • LVPECL, LVDS, 2xLVCMOS programmable
  • 1-1023 CLKout divider
  • 1-8191 SYSREF divider
  • 25-ps step analog delay for SYSREF clocks
  • Digital delay and dynamic digital delay for device clock and SYSREF
  • Holdover mode with PLL1
  • 0-delay with PLL1 or PLL2
  • Ambient temperature range: –55 °C to 125 °C
  • SMD #5962R1723701VXC
    • Total ionizing dose 100 krad (ELDRS-free)
    • SEL immune >120 MeV × cm2/mg
    • SEFI immune >120 MeV × cm2/mg
  • Maximum clock output frequency: 3255 MHz
  • Multi-mode: dual PLL, single PLL, and clock distribution
  • 6-GHz external VCO or distribution input
  • Ultra-low noise, at 2500 MHz:
    • 54-fs RMS jitter (12 kHz to 20 MHz)
    • 64-fs RMS jitter (100 Hz to 20 MHz)
    • –157.6-dBc/Hz noise floor
  • Ultra-low noise, at 3200 MHz:
    • 61-fs RMS jitter (12 kHz to 20 MHz)
    • 67-fs RMS jitter (100 Hz to 100 MHz)
    • –156.5-dBc/Hz noise floor
  • PLL2
    • PLL FOM of –230 dBc/Hz
    • PLL 1/f of –128 dBc/Hz
    • Phase detector rate up to 320 MHz
    • Two integrated VCOs: 2440 to 2600 MHz and 2945 to 3255 MHz
  • Up to 14 differential device clocks
    • CML, LVPECL, LCPECL, HSDS, LVDS, and 2xLVCMOS programmable outputs
  • Up to 1 buffered VCXO/XO output
    • LVPECL, LVDS, 2xLVCMOS programmable
  • 1-1023 CLKout divider
  • 1-8191 SYSREF divider
  • 25-ps step analog delay for SYSREF clocks
  • Digital delay and dynamic digital delay for device clock and SYSREF
  • Holdover mode with PLL1
  • 0-delay with PLL1 or PLL2
  • Ambient temperature range: –55 °C to 125 °C

The LMK04832-SP is a high performance clock conditioner with JEDEC JESD204B support for space applications.

The 14 clock outputs from PLL2 can be configured to drive seven JESD204B converters or other logic devices using device and SYSREF clocks. SYSREF can be provided using both DC and AC coupling. Not limited to JESD204B applications, each of the 14 outputs can be individually configured as high-performance outputs for traditional clocking systems.

The LMK04832-SP can be configured for operation in dual PLL, single PLL, or clock distribution modes with or without SYSREF generation or reclocking. PLL2 may operate with either internal or external VCO.

The high performance combined with features like the ability to trade off between power and performance, dual VCOs, dynamic digital delay, and holdover allows the LMK04832-SP to provide flexible high performance clocking trees.

The LMK04832-SP comes in a 10.9-mm × 10.9-mm, 64-pin CFP package.

The LMK04832-SP is a high performance clock conditioner with JEDEC JESD204B support for space applications.

The 14 clock outputs from PLL2 can be configured to drive seven JESD204B converters or other logic devices using device and SYSREF clocks. SYSREF can be provided using both DC and AC coupling. Not limited to JESD204B applications, each of the 14 outputs can be individually configured as high-performance outputs for traditional clocking systems.

The LMK04832-SP can be configured for operation in dual PLL, single PLL, or clock distribution modes with or without SYSREF generation or reclocking. PLL2 may operate with either internal or external VCO.

The high performance combined with features like the ability to trade off between power and performance, dual VCOs, dynamic digital delay, and holdover allows the LMK04832-SP to provide flexible high performance clocking trees.

The LMK04832-SP comes in a 10.9-mm × 10.9-mm, 64-pin CFP package.
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Documentación técnica

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Documentación principal Tipo Título Opciones de formato Fecha
* Data sheet LMK04832-SP Space Grade Ultra-Low-Noise JESD204B Dual-Loop Clock Jitter Cleaner datasheet (Rev. C) PDF | HTML 10 nov 2022
* Radiation & reliability report LMK04832-SP Single-Event Effects Report 13 may 2021
* Radiation & reliability report LMK04832-SP ELDRS Characterization Report 19 nov 2020
* Radiation & reliability report LMK04832-SP TID RLAT Report V009FOGX Wafer 21 PDF | HTML 19 nov 2020
Application brief DLA Approved Optimizations for QML Products (Rev. C) PDF | HTML 17 jun 2025
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Selection guide TI Space Products (Rev. K) 04 abr 2025
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Application note Single-Event Effects Confidence Interval Calculations (Rev. A) PDF | HTML 19 oct 2022
More literature Total Ionizing Dose and Single Event Effects Test Results of LMK04832-SP 18 jul 2021
E-book Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) 21 may 2019

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

LMK04832EVM-CVAL — Módulo de evaluación LMK04832-SP para limpiador de fluctuaciones de reloj JESD204B de doble bucle y

El módulo de evaluación (EVM) LMK04832EVM-CVAL proporciona una plataforma para evaluar el rendimiento y
las características del limpiador de fluctuación de reloj de doble bucle JESD204B, de nivel espacial y ruido ultrabajo LMK04832-SP de
Texas Instruments.
Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Soporte de software

TICSPRO-SW — TICS Pro GUI and Live Programming Tool for Clocking Devices

Texas Instruments clocks and synthesizers (TICS) pro software is used to program the evaluation modules (EVMs) for product numbers with these prefixes: CDC, LMK and LMX. These products include phase-locked loops and voltage-controlled oscillators (PLL+VCO), synthesizers and clocking devices.

Productos y hardware compatibles

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Modelo de simulación

LMK04832-SP IBIS model (Rev. A)

SNAM242A.ZIP (168 KB) - IBIS Model
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Herramienta de diseño

PLLATINUMSIM-SW — PLL loop filter, phase noise, lock time, and spur simulation tool

PLLATINUMSIM-SW is a simulation tool that allows users to create detailed designs and simulations of our PLLatinum™ integrated circuits, which include the LMX series of phase-locked loops (PLLs) and synthesizers.

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Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
CFP (HBE) 64 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)/reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Los productos recomendados pueden tener parámetros, módulos de evaluación o diseños de referencia relacionados con este producto de TI.

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