この製品には新バージョンがあります。
比較対象デバイスのアップグレード版機能を搭載した、ドロップイン代替製品
LF347-N
Internally trimmed offset voltage: | 5 mV max |
Low input bias current: | 50 pA |
Low input noise current: | 0.01 pA/[Radical]Hz |
Wide gain bandwidth: | 4 MHz |
High slew rate: | 13 V/µs |
Low supply current: | 7.2 mA |
High input impedance: | 1012 |
Low total harmonic distortion: | <=0.02% |
Low 1/f noise corner: | 50 Hz |
Fast settling time to 0.01%: | 2 µs |
BI-FET II™ is a trademark of National Semiconductor Corporation.
The LF147 is a low cost, high speed quad JFET input operational amplifier with an internally trimmed input offset voltage (BI-FET II technology). The device requires a low supply current and yet maintains a large gain bandwidth product and a fast slew rate. In addition, well matched high voltage JFET input devices provide very low input bias and offset currents. The LF147 is pin compatible with the standard LM148. This feature allows designers to immediately upgrade the overall performance of existing LF148 and LM124 designs.
The LF147 may be used in applications such as high speed integrators, fast D/A converters, sample-and-hold circuits and many other circuits requiring low input offset voltage, low input bias current, high input impedance, high slew rate and wide bandwidth. The device has low noise and offset voltage drift.
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | LF147/LF347 Wide Bandwidth Quad JFET Input Operational Amplifiers (jp) データシート (Rev. C 翻訳版) | 最新英語版 (Rev.D) | PDF | HTML | 2004年 9月 13日 | |
e-Book(PDF) | The Signal - オペアンプ設計ブログ集 | 英語版 | 2018年 3月 23日 | |||
アプリケーション・ノート | AN-256 Circuitry for Inexpensive Relative Humidity Measurement (Rev. B) | 2013年 5月 6日 | ||||
アプリケーション・ノート | AN-262 Applying Dual and Quad FET Op Amps (Rev. B) | 2013年 5月 6日 | ||||
アプリケーション・ノート | AN-301 Signal Conditioning for Sophisticated Transducers (Rev. B) | 2013年 5月 6日 | ||||
アプリケーション・ノート | AN-263 Sine Wave Generation Techniques (Rev. C) | 2013年 4月 22日 | ||||
アプリケーション・ノート | AN-447 Protection Schemes for BI-FET Amplifiers and Switches | 2004年 5月 2日 | ||||
アプリケーション・ノート | Get More Power Out of Dual or Quad Op-Amps | 2002年 10月 2日 |
設計および開発
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このアンプ パフォーマンス開発キット (PDK) は、オペアンプの一般的なパラメータをテストするための評価基板 (EVM) キットであり、ほとんどのオペアンプやコンパレータと互換性があります。この評価基板キットは、パッケージのニーズに適した、さまざまなソケット付きドーターカード オプションを搭載したメイン ボードで構成されており、エンジニアはデバイスの性能を迅速に評価および検証できます。
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パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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PDIP (N) | 14 | Ultra Librarian |
SOIC (D) | 14 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点