データシート
SN54SC1G175-SEP
- VID V62/26610
- 放射線 - トータル ドーズ効果 (TID)：
- 50krad(Si) まで吸収線量 (TID) 特性を評価済み
- 30krad(Si) まで吸収線量 (TID) 性能保証
- すべてのウェハー ロットについて、30krad(Si) までの放射線ロット受け入れテスト (RLAT)
- 放射線 - シングル イベント効果 (SEE)：
- 単一イベント ラッチアップ (SEL) 耐性：125℃で 50MeV-cm2/mg まで
- シングル イベント過渡 (SET) 特性：LET = 50MeV-cm2/mg (最大値)
-
幅広い動作範囲：1.2V～5.5V
- 5.5V 耐圧入力ピン
- 標準ピン配置をサポート
- 5V または 3.3V の VCC で最大 150Mbps
- JESD 78 準拠で 100mA 超のラッチアップ性能
- 宇宙用強化プラスチック
- 防衛および航空宇宙アプリケーションのサポート
- 管理されたベースライン
- Au ボンド ワイヤと NiPdAu リード仕上げ
- NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
- 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
- 長期にわたる製品ライフ サイクル
- 製品のトレーサビリティ
SN54SC1G175-SEP デバイスは、非同期 クリア (CLR) 入力を備えたシングル D タイプ フリップ フロップです。CLR が HIGH の場合、入力ピン (D) からのデータは、クロック (CLK) の立ち上がりエッジで出力ピン (Q) に転送されます。CLR が LOW の場合、クロック エッジや D のデータに関係なく、Q は LOW 状態に強制されます。
技術資料
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
4 をすべて表示
| 上位の文書 | タイプ | タイトル | フォーマットオプション | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | SN54SC1G175-SEP シングル D タイプ フリップ フロップ、非同期クリア付き | PDF | HTML | PDF | HTML | 2026/01/26 | |
| * | 放射線と信頼性レポート | SN54SC1G175-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report | 2026/02/06 | |||
| * | 放射線と信頼性レポート | SN54SC1G175-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report | PDF | HTML | 2026/02/06 | ||
| * | 放射線と信頼性レポート | SN54SC1G175-SEP Production Flow and Reliability Report | PDF | HTML | 2026/02/06 |
設計と開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
評価ボード
5-8-LOGIC-EVM — 5 ～ 8 ピンの DCK、DCT、DCU、DRL、DBV の各パッケージをサポートする汎用ロジックの評価基板 (EVM)
5 ～ 8 ピンで DCK、DCT、DCU、DRL、DBV の各パッケージを使用する多様なデバイスをサポートできる設計のフレキシブルな評価基板です。
ユーザー ガイド:
PDF
在庫あり
制限：
??asset.out-of-stock-ti_ja_JP??
入手不可
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| SOT-23 (DBV) | 6 | Ultra Librarian |