SN55LVTA4-SEP
- VID V62/25605-01XE
- 総吸収線量（TID）特性：30krad（Si）
- ウェハー ロットごとに 30krad (Si) までの累積線量耐性放射線ロット受け入れ試験 (TID RLAT)
- シングル イベント効果 (SEE) 特性：
- シングル イベント ラッチアップ (SEL) 耐性：線エネルギー付与 (LET) = 50MeV-cm2/mg
- シングル イベント過渡 (SET) 特性：50MeV-cm2/mg。
- ANSI TIA/EIA-644 標準の要件を満たす、または超える性能
- 低電圧差動信号処理で、標準出力電圧は 350mV、負荷は 100Ω です
- 標準出力電圧の立ち上がり/立ち下がり時間は 500ps (400Mbps) です
- 伝搬遅延時間の標準値は 1.7ns です
- 3.3V 単一電源で動作
- ドライバごとに 200MHz で標準 25mW の消費電力
- ディセーブル時、または VCC = 0 の場合、ドライバは高インピーダンス
- 8kV を超えるバス端子 ESD 保護
- 低電圧 TTL (LVTTL) ロジック入力レベル
- 冗長性を必要とする宇宙および高信頼性アプリケーション用のコールド スペアリング
- 宇宙向け強化プラスチック (SEP)
- 管理されたベースライン
- 金 ワイヤ、NiPdAu リード仕上げ
- 1 つのアセンブリ / テスト拠点と 1 つの製造拠点
- 長期にわたる製品ライフ サイクル
- 軍用温度範囲：-55℃～125℃
- 製品のトレーサビリティ
- NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
SN55LVTA4-SEPは、3.3V 電源を使用した低電圧差動信号 (LVDS) の電気的特性を実装した差動ラインドライバです。このデバイスは、イネーブル時に 100Ω の負荷に対して 247mV の最小差動出力電圧振幅を供給します。
このデバイスと信号処理手法の意図するアプリケーションは、約 100Ω の制御インピーダンス メディアを介した、ポイント ツー ポイントおよびマルチドロップ (1 つのドライバと複数のレシーバ) データ転送の両方です。伝送媒体にはプリント基板のトレース、バックプレーン、ケーブルを使用できます。データ転送の最高速度および最大距離は、メディアの減衰特性と周囲からのノイズに依存します。
SN55LVTA4-SEP は、-55℃～125℃の温度範囲の動作で特徴づけられています。
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技術資料
| 上位の文書 | タイプ | タイトル | フォーマットオプション | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | SN55LVTA4-SEP 耐放射線特性クワッド チャネル高速差動ライン ドライバ データシート (Rev. A 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2025/09/08 |
| * | 放射線と信頼性レポート | SN55LVTA4-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report | PDF | HTML | 2025/06/23 | ||
| * | 放射線と信頼性レポート | SN55LVTA4-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report | PDF | HTML | 2025/06/23 | ||
| * | 放射線と信頼性レポート | SN55LVTA4-SEP Production Flow and Reliability Report | PDF | HTML | 2025/06/03 | ||
| * | VID | SN55LVTA4-SEP VID SN55LVTA4-SEP VID V62/25605 | 2026/05/05 | |||
| セレクション・ガイド | TI Space Products (Rev. L) | 2026/03/27 |
設計と開発
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SN65LVDS31-33EVM — 評価モジュール、SN65LVDS31/SN65LVDS33 用
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| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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購入と品質
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