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제품 상세 정보

Number of channels 2 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 0.3 Vs (max) (V) 36 Vs (min) (V) 2.7 Rating Automotive Features Fail-safe, Latch Iq per channel (typ) (mA) 0.25 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 2.5 Rail-to-rail In to V- Operating temperature range (°C) -40 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 50 VICR (max) (V) 34 VICR (min) (V) 0 TI functional safety category Functional Safety-Capable
Number of channels 2 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 0.3 Vs (max) (V) 36 Vs (min) (V) 2.7 Rating Automotive Features Fail-safe, Latch Iq per channel (typ) (mA) 0.25 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 2.5 Rail-to-rail In to V- Operating temperature range (°C) -40 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 50 VICR (max) (V) 34 VICR (min) (V) 0 TI functional safety category Functional Safety-Capable
X2QFN (RUG) 10 3 mm² 1.5 x 2
  • Qualified for automotive applications
  • AEC-Q100 qualified with the following results:
    • Device temperature grade 1: –40°C to 125°C ambient operating temperature range
  • Output Latches on High to Low Output Transition
  • Level-triggered clear
  • Transparent Mode
  • Independent latches per channel
  • 2.7V to 36V supply range
  • Offset Voltage: 2.5mV max at 25°C
  • Fault-tolerant inputs
  • 300ns typical propagation delay
  • Low quiescent current: 350µA per channel
  • Open-drain outputs
  • CLR input compatable down to 1.2V logic
  • Functional Safety-Capable
  • Qualified for automotive applications
  • AEC-Q100 qualified with the following results:
    • Device temperature grade 1: –40°C to 125°C ambient operating temperature range
  • Output Latches on High to Low Output Transition
  • Level-triggered clear
  • Transparent Mode
  • Independent latches per channel
  • 2.7V to 36V supply range
  • Offset Voltage: 2.5mV max at 25°C
  • Fault-tolerant inputs
  • 300ns typical propagation delay
  • Low quiescent current: 350µA per channel
  • Open-drain outputs
  • CLR input compatable down to 1.2V logic
  • Functional Safety-Capable

The TL331L-Q1 (single) and LM2903L-Q1 (dual) are high voltage self-latching comparators with a open-collector output. The family also offers low input offset voltage and fault-tolerant inputs. These devices have an excellent speed-to-power combination with a propagation delay of 300ns with a quiescent supply current of only 300µA per channel.

The unique feature of the family is the output latching capability. The output latches upon the first high-to-low threshold crossing, allowing capture of an event or error condition without the full attention of a system controller. This allows events to be captured at start up while the system controller is still initializing or busy with other tasks. When the Latch input is held low, the "Transparent" mode is entered and the output continues to reflect the input conditions (latching disabled).

These comparators also feature fault-tolerant inputs that can go up to 36V without damage with no output phase inversion. This makes this family of comparators designed for precision voltage monitoring in harsh, noisy environments.

The open-drain outputs can be pulled-up below or beyond the supply voltage for OR’ing multiple outputs or level translation.

The family is specified for the Automotive temperature range of -40°C to +125°C and are available in standard leaded and leadless packages.

The TL331L-Q1 (single) and LM2903L-Q1 (dual) are high voltage self-latching comparators with a open-collector output. The family also offers low input offset voltage and fault-tolerant inputs. These devices have an excellent speed-to-power combination with a propagation delay of 300ns with a quiescent supply current of only 300µA per channel.

The unique feature of the family is the output latching capability. The output latches upon the first high-to-low threshold crossing, allowing capture of an event or error condition without the full attention of a system controller. This allows events to be captured at start up while the system controller is still initializing or busy with other tasks. When the Latch input is held low, the "Transparent" mode is entered and the output continues to reflect the input conditions (latching disabled).

These comparators also feature fault-tolerant inputs that can go up to 36V without damage with no output phase inversion. This makes this family of comparators designed for precision voltage monitoring in harsh, noisy environments.

The open-drain outputs can be pulled-up below or beyond the supply voltage for OR’ing multiple outputs or level translation.

The family is specified for the Automotive temperature range of -40°C to +125°C and are available in standard leaded and leadless packages.
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* Data sheet TL331L-Q1 and LM2903L-Q1 Automotive Open-Drain High Voltage Self-Latching Comparators datasheet PDF | HTML 2026/07/14

설계 및 개발

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평가 보드

SMALL-AMP-DIP-EVM — 소형 패키지를 갖춘 연산 증폭기용 평가 모듈

SMALL-AMP-DIP-EVM은 여러 업계 표준 소형 패키지와 빠르고 쉬운 인터페이스를 통해 소형 패키지 연산 증폭기 프로토타입 제작 속도를 높여줍니다. SMALL-AMP-DIP-EVM은 DPW-5(X2SON), DSG-8(WSON), DCN-8(SOT), DDF-8(SOT), RUG-10(X2QFN), RUC-14(X2QFN), RGY-14(VQFN) 및 RTE-16(WQFN)을 포함한 8가지 소형 패키지 옵션을 지원합니다.

사용 설명서: PDF
TI.com에서 구매할 수 없음
시뮬레이션 툴

PSPICE-FOR-TI — TI 설계 및 시뮬레이션 툴용 PSpice®

TI용 PSpice®는 아날로그 회로의 기능을 평가하는 데 사용되는 설계 및 시뮬레이션 환경입니다. 완전한 기능을 갖춘 이 설계 및 시뮬레이션 제품군은 Cadence®의 아날로그 분석 엔진을 사용합니다. 무료로 제공되는 TI용 PSpice에는 아날로그 및 전력 포트폴리오뿐 아니라 아날로그 행동 모델에 이르기까지 업계에서 가장 방대한 모델 라이브러리 중 하나가 포함되어 있습니다.

TI 설계 및 시뮬레이션 환경용 PSpice는 기본 제공 라이브러리를 이용해 복잡한 혼합 신호 설계를 시뮬레이션할 수 있습니다. 레이아웃 및 제작에 착수하기 (...)
요청
시뮬레이션 툴

TINA-TI — SPICE 기반 아날로그 시뮬레이션 프로그램

TINA-TI provides all the conventional DC, transient and frequency domain analysis of SPICE and much more. TINA has extensive post-processing capability that allows you to format results the way you want them. Virtual instruments allow you to select input waveforms and probe circuit nodes voltages (...)
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패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
X2QFN (RUG) 10 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

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