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LM6144
- Rail-to-rail Input CMVR −0.25V to 5.25V
- Rail-to-Rail Output Swing 0.005V to 4.995V
- Wide Gain-Bandwidth: 17MHz at 50kHz (typ)
- Slew Rate:
- Small Signal, 5V/μs
- Large Signal, 30V/μs
- Low Supply Current 650μA/Amplifier
- Wide Supply Range 1.8V to 24V
- CMRR 107dB
- Gain 108dB with RL = 10k
- PSRR 87dB
At VS = 5V. Typ Unless Noted.
All trademarks are the property of their respective owners.
Using patent pending new circuit topologies, the LM6142/LM6144 provides new levels of performance in applications where low voltage supplies or power limitations previously made compromise necessary. Operating on supplies of 1.8V to over 24V, the LM6142/LM6144 is an excellent choice for battery operated systems, portable instrumentation and others.
The greater than rail-to-rail input voltage range eliminates concern over exceeding the common-mode voltage range. The rail-to-rail output swing provides the maximum possible dynamic range at the output. This is particularly important when operating on low supply voltages.
High gain-bandwidth with 650μA/Amplifier supply current opens new battery powered applications where previous higher power consumption reduced battery life to unacceptable levels. The ability to drive large capacitive loads without oscillating functionally removes this common problem.
기술 자료
유형 | 직함 | 날짜 | ||
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* | Data sheet | LM6142/LM6144 17 MHz Rail-to-Rail Input-Output Operational Amplifiers datasheet (Rev. D) | 2013/03/13 | |
E-book | The Signal e-book: A compendium of blog posts on op amp design topics | 2017/03/28 |
설계 및 개발
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증폭기 성능 개발 키트(PDK)는 일반적인 연산 증폭기(OP 앰프) 매개 변수를 테스트할 수 있는 평가 모듈(EVM) 키트입니다. 대부분의 연산 증폭기 및 콤퍼레이터와 호환됩니다. EVM 키트는 패키지 요구 사항에 맞는 여러 소켓형 부속 카드 옵션이 있는 메인 보드를 제공하여 엔지니어가 디바이스 성능을 신속하게 평가하고 확인할 수 있습니다.
AMP-PDK-EVM 키트는 다음을 포함해 가장 널리 사용되는 5개의 업계 표준 패키지를 지원합니다.
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TINA-TI — SPICE 기반 아날로그 시뮬레이션 프로그램
패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
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PDIP (N) | 14 | Ultra Librarian |
SOIC (D) | 14 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치