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비교 대상 장치보다 업그레이드된 기능을 지원하는 드롭인 대체품
비교 대상 장치와 동일한 기능을 지원하는 핀 대 핀
SA5534A
- Equivalent Input Noise Voltage
3.5 nV/√Hz Typ - Unity-Gain Bandwidth 10 MHz Typ
- Common-Mode Rejection Ratio 100 dB Typ
- High DC Voltage Gain 100 V/mV Typ
- Peak-to-Peak Output Voltage Swing 32 V Typ
With VCC± = ±18 V and RL = 600 Ω - High Slew Rate 13 V/µs Typ
- Wide Supply-Voltage Range ±3 V to ±20 V
- Low Harmonic Distortion
- Offset Nulling Capability
- External Compensation Capability
The NE5534, NE5534A, SA5534, and SA5534A devices are high-performance operational amplifiers combining excellent dc and ac characteristics. Some of the features include very low noise, high output-drive capability, high unity-gain and maximum-output-swing bandwidths, low distortion, and high slew rate.
These operational amplifiers are compensated internally for a gain equal to or greater than three. Optimization of the frequency response for various applications can be obtained by use of an external compensation capacitor between COMP and COMP/BAL. The devices feature input-protection diodes, output short-circuit protection, and offset-voltage nulling capability with use of the BALANCE and COMP/BAL pins.
For the NE5534A and SA5534A devices, a maximum limit is specified for the equivalent input noise voltage.
기술 자료
유형 | 직함 | 날짜 | ||
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* | Data sheet | NE5534x, SA5534x Low-Noise Operational Amplifiers datasheet (Rev. D) | PDF | HTML | 2014/11/20 |
E-book | The Signal e-book: A compendium of blog posts on op amp design topics | 2017/03/28 |
설계 및 개발
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AMP-PDK-EVM — 증폭기 성능 개발 키트 평가 모듈
증폭기 성능 개발 키트(PDK)는 일반적인 연산 증폭기(OP 앰프) 매개 변수를 테스트할 수 있는 평가 모듈(EVM) 키트입니다. 대부분의 연산 증폭기 및 콤퍼레이터와 호환됩니다. EVM 키트는 패키지 요구 사항에 맞는 여러 소켓형 부속 카드 옵션이 있는 메인 보드를 제공하여 엔지니어가 디바이스 성능을 신속하게 평가하고 확인할 수 있습니다.
AMP-PDK-EVM 키트는 다음을 포함해 가장 널리 사용되는 5개의 업계 표준 패키지를 지원합니다.
- D(SOIC-8 및 SOIC-14)
- PW(TSSOP-14)
- DGK(VSSOP-8)
- (...)
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패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
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PDIP (P) | 8 | Ultra Librarian |
SOIC (D) | 8 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치