SN74AHCT273-Q1
- AEC-Q100 qualified for automotive applications:
- Device temperature grade 1: -40°C to +125°C
- Device HBM ESD classification level 2
- Device CDM ESD classification level C4B
- Available in wettable flank QFN package
- Operating range 4.5V to 5.5V VCC
- TTL-Compatible inputs
- Low delay, 7.6ns at 5V, 15pF load
- Supports 130MHz at 5V, 15pF load
- Latch-up performance exceeds 250mAper JESD 17
The SN74AHCT273-Q1 contains eight positive-edge-triggered D-type flip-flops with a direct active low clear ( CLR) input.
Information at the data (D) inputs meeting the setup time requirements is transferred to the Q outputs on the positive-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a particular voltage level and is not related directly to the transition time of the positive-going pulse. When CLK is at either the high or low level, the D input has no effect at the output.
기술 자료
설계 및 개발
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14-24-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 D, DB, DGV, DW, DYY, NS 및 PW 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈
14-24-LOGIC-EVM 평가 모듈(EVM)은 14핀~24핀 D, DW, DB, NS, PW, DYY 또는 DGV 패키지에 있는 모든 로직 장치를 지원하도록 설계되었습니다.
14-24-NL-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 비 리드 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈
14-24-NL-LOGIC-EVM은 14핀~24핀 BQA, BQB, RGY, RSV, RJW 또는 RHL 패키지가 있는 로직 또는 변환 장치를 지원하도록 설계된 유연한 평가 모듈(EVM)입니다.
| 패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
|---|---|---|
| TSSOP (PW) | 20 | Ultra Librarian |
| VQFN (RKS) | 20 | Ultra Librarian |
| VSSOP (DGS) | 20 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치