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TPS7H1121-SP

활성

Radiation-hardened, QML-V, 2.25V to 14V input, 2A low-dropout (LDO) regulator

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데이터 시트

TPS7H1121-SP

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제품 상세 정보

Rating Space Vin (max) (V) 14 Vin (min) (V) 2.25 Iout (max) (A) 2 Output options Adjustable Output Vout (max) (V) 13.2 Vout (min) (V) 0.6 Fixed output options (V) 0 Noise (µVrms) 4 PSRR at 100 KHz (dB) 45 Iq (typ) (mA) 10 Features Adjustable current limit, Enable, Power good, Soft start Thermal resistance θJA (°C/W) 30.5 Load capacitance (min) (µF) 6.8 Regulated outputs (#) 1 Accuracy (%) 1.5 Dropout voltage (Vdo) (typ) (mV) 400 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Radiation, SEL (MeV·cm2/mg) 75 Radiation, TID (typ) (krad) 100
Rating Space Vin (max) (V) 14 Vin (min) (V) 2.25 Iout (max) (A) 2 Output options Adjustable Output Vout (max) (V) 13.2 Vout (min) (V) 0.6 Fixed output options (V) 0 Noise (µVrms) 4 PSRR at 100 KHz (dB) 45 Iq (typ) (mA) 10 Features Adjustable current limit, Enable, Power good, Soft start Thermal resistance θJA (°C/W) 30.5 Load capacitance (min) (µF) 6.8 Regulated outputs (#) 1 Accuracy (%) 1.5 Dropout voltage (Vdo) (typ) (mV) 400 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Radiation, SEL (MeV·cm2/mg) 75 Radiation, TID (typ) (krad) 100
CFP (HFT) 22 60.221856 mm² (6.211 mm × 9.696 mm)
  • Total Ionizing Dose radiation characterized:

    • Radiation hardness assurance (RHA) availability of 100krad(Si) or 50krad(Si)

  • Single-Event Effects (SEE) Characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) = 75MeV-cm2/mg
    • Single-event functional interrupt (SEFI) characterized to LET = 75MeV-cm2/mg
    • Single-event transient (SET) characterized to LET = 75MeV-cm2/mg
  • Wide VIN range: 2.25V to 14V
  • 2A maximum output current
  • ±1.5% accuracy VIN > 3V over load, and temperature
  • ±1.8% accuracy VIN < 3V over load, and temperature
  • Soft start (SS) control through an external capacitor
  • Open-drain power good (PG) output for power sequencing
  • Programmable current limit through an external resistor (CL)
  • Optional external control loop compensation utilizing the STAB pin
  • Excellent load and line transient response
  • Plastic packages out gas tested per ASTM E595
  • Military (–55°C to 125°C) temperature range
  • Total Ionizing Dose radiation characterized:

    • Radiation hardness assurance (RHA) availability of 100krad(Si) or 50krad(Si)

  • Single-Event Effects (SEE) Characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) = 75MeV-cm2/mg
    • Single-event functional interrupt (SEFI) characterized to LET = 75MeV-cm2/mg
    • Single-event transient (SET) characterized to LET = 75MeV-cm2/mg
  • Wide VIN range: 2.25V to 14V
  • 2A maximum output current
  • ±1.5% accuracy VIN > 3V over load, and temperature
  • ±1.8% accuracy VIN < 3V over load, and temperature
  • Soft start (SS) control through an external capacitor
  • Open-drain power good (PG) output for power sequencing
  • Programmable current limit through an external resistor (CL)
  • Optional external control loop compensation utilizing the STAB pin
  • Excellent load and line transient response
  • Plastic packages out gas tested per ASTM E595
  • Military (–55°C to 125°C) temperature range

The TPS7H1121 is a radiation-hardened, low dropout linear regulator (LDO) which operates over a wide input voltage range and is optimized for powering devices in a space environment. The device is capable of sourcing up to 2A over a 2.25V to 14V input.

The device offers excellent stability and features a programmable current limit with a wide adjustment range. To support the complex power requirements of FPGAs, DSPs, and microcontrollers, the TPS7H1121 provides enable on and off functionality, programmable soft start, and a power good open-drain output.

The TPS7H1121 is a radiation-hardened, low dropout linear regulator (LDO) which operates over a wide input voltage range and is optimized for powering devices in a space environment. The device is capable of sourcing up to 2A over a 2.25V to 14V input.

The device offers excellent stability and features a programmable current limit with a wide adjustment range. To support the complex power requirements of FPGAs, DSPs, and microcontrollers, the TPS7H1121 provides enable on and off functionality, programmable soft start, and a power good open-drain output.
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TPS7H1111-SP 활성 Radiation-hardened, QML-P and QML-V, 1.5A ultra-low-noise high-PSRR low-dropout (LDO) regulator QMLV high-performance LDO with lower noise, higher PSRR

기술 자료

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17개 모두 보기
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* 데이터 시트 TPS7H1121-SP and TPS7H1121-SEP 2.25V to 14V Input, 2A, Radiation Hardened Low Dropout (LDO) Linear Regulator datasheet (Rev. C) PDF | HTML 2025. 11. 3
* 방사능 및 안정성 보고서 TPS7H1121-SP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. A) 2026. 2. 13
* 방사능 및 안정성 보고서 TPS7H1121-SP Neutron Displacement Damage (NDD) Characterization Report PDF | HTML 2024. 9. 19
* 방사능 및 안정성 보고서 TPS7H1121-SP Single-Event Effects (SEE) PDF | HTML 2024. 9. 18
* SMD TPS7H1121-SP SMD 5962-23203 2024. 12. 16
백서 IC Sourcing for Space: Pros and Cons of Up-screening COTS Versus Space Enhanced Products (SEP) PDF | HTML 2026. 7. 28
애플리케이션 노트 Highly Scalable Space Motor Control Platform based on TI’s Space Enhanced Products (-SEP) and Space Products PDF | HTML 2026. 6. 8
선택 가이드 TI Space Products (Rev. L) 2026. 3. 27
애플리케이션 노트 Hermetic Package Reflow Profiles, Termination Finishes, and Lead Trim and Form (Rev. A) PDF | HTML 2025. 11. 5
Application brief DLA Approved Optimizations for QML Products (Rev. C) PDF | HTML 2025. 6. 17
애플리케이션 노트 Heavy Ion Orbital Environment Single-Event Effects Estimations (Rev. B) PDF | HTML 2025. 6. 10
추가 자료 TI Engineering Evaluation Units vs. MIL-PRF-38535 QML Class V Processing (Rev. B) 2025. 2. 20
인증서 TPS7H1121EVM-CVAL EU Declaration of Conformity (DoC) 2024. 4. 5
애플리케이션 노트 QML flow, its importance, and obtaining lot information (Rev. C) 2023. 8. 30
애플리케이션 노트 Single-Event Effects Confidence Interval Calculations (Rev. A) PDF | HTML 2022. 10. 19
애플리케이션 노트 DLA Standard Microcircuit Drawings (SMD) and JAN Part Numbers Primer 2020. 8. 21
e북 Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) 2019. 5. 21

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

TPS7H1121EVM-CVAL — TPS7H1121-SP 평가 모듈

TPS7H1121EVM-CVAL은 단일 TPS7H1121-SP LDO 레귤레이터의 작동을 보여줍니다. 이 보드는 사용자 지정 구성을 테스트할 수 있는 추가 부품으로 채울 수 있는 풋프린트와 손쉬운 성능 검증을 위한 테스트 포인트 및 SMA 커넥터를 제공합니다.
사용 설명서: PDF | HTML
지원되는 제품 및 하드웨어
재고 있음
제한:
??asset.out-of-stock-ti_ko_KR??
이용할 수 없음
시뮬레이션 모델

TPS7H1121-SP PSpice Model

SLVME97.ZIP (36 KB) - PSpice 모델
지원되는 제품 및 하드웨어
패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
CFP (HFT) 22 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.

지원 및 교육

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