전원 관리 Power stages Gallium nitride (GaN) power stages

LMG3410R050

활성

600V 50mΩ GaN과 통합 드라이버 및 보호

제품 상세 정보

VDS (max) (mV) 600000 RDS(on) (mΩ) 50
VDS (max) (mV) 600000 RDS(on) (mΩ) 50
VQFN (RWH) 32 64 mm² 8 x 8
  • TI GaN FET reliability qualified with in-application hard-switching accelerated stress profiles
  • Enables high density power conversion designs
    • Superior system performance over cascode or stand-alone GaN FETs
    • Low inductance 8 mm x 8 mm QFN package for ease of design, and layout
    • Adjustable drive strength for switching performance and EMI control
    • Digital fault status output signal
    • Only +12 V unregulated supply needed
  • Integrated gate driver
    • Zero common source inductance
    • 20 ns Propagation delay for MHz operation
    • Trimmed gate bias voltage to compensate for threshold variations ensures reliable switching
    • 25 to 100V/ns User adjustable slew rate
  • Robust protection
    • Requires no external protection components
    • Overcurrent protection with less than 100 ns response
    • Greater than 150 V/ns Slew rate immunity
    • Transient overvoltage immunity
    • Overtemperature protection
    • Under voltage lock out (UVLO) Protection on all supply rails
  • Robust protection
    • LMG3410R050: Latched overcurrent protection
    • LMG3411R050: Cycle-by-cycle overcurrent protection
    • TI GaN FET reliability qualified with in-application hard-switching accelerated stress profiles
    • Enables high density power conversion designs
      • Superior system performance over cascode or stand-alone GaN FETs
      • Low inductance 8 mm x 8 mm QFN package for ease of design, and layout
      • Adjustable drive strength for switching performance and EMI control
      • Digital fault status output signal
      • Only +12 V unregulated supply needed
    • Integrated gate driver
      • Zero common source inductance
      • 20 ns Propagation delay for MHz operation
      • Trimmed gate bias voltage to compensate for threshold variations ensures reliable switching
      • 25 to 100V/ns User adjustable slew rate
    • Robust protection
      • Requires no external protection components
      • Overcurrent protection with less than 100 ns response
      • Greater than 150 V/ns Slew rate immunity
      • Transient overvoltage immunity
      • Overtemperature protection
      • Under voltage lock out (UVLO) Protection on all supply rails
    • Robust protection
      • LMG3410R050: Latched overcurrent protection
      • LMG3411R050: Cycle-by-cycle overcurrent protection

      The LMG341xR050 GaN power stage with integrated driver and protection enables designers to achieve new levels of power density and efficiency in power electronics systems. The LMG341x’s inherent advantages over silicon MOSFETs include ultra-low input and output capacitance, zero reverse recovery to reduce switching losses by as much as 80%, and low switch node ringing to reduce EMI. These advantages enable dense and efficient topologies like the totem-pole PFC.

      The LMG341xR050 provides a smart alternative to traditional cascode GaN and standalone GaN FETs by integrating a unique set of features to simplify design, maximize reliability and optimize the performance of any power supply. Integrated gate drive enables 100 V/ns switching with near zero Vds ringing, less than 100 ns current limiting response self-protects against unintended shoot-through events, overtemperature shutdown prevents thermal runaway, and system interface signals provide self-monitoring capability.

      The LMG341xR050 GaN power stage with integrated driver and protection enables designers to achieve new levels of power density and efficiency in power electronics systems. The LMG341x’s inherent advantages over silicon MOSFETs include ultra-low input and output capacitance, zero reverse recovery to reduce switching losses by as much as 80%, and low switch node ringing to reduce EMI. These advantages enable dense and efficient topologies like the totem-pole PFC.

      The LMG341xR050 provides a smart alternative to traditional cascode GaN and standalone GaN FETs by integrating a unique set of features to simplify design, maximize reliability and optimize the performance of any power supply. Integrated gate drive enables 100 V/ns switching with near zero Vds ringing, less than 100 ns current limiting response self-protects against unintended shoot-through events, overtemperature shutdown prevents thermal runaway, and system interface signals provide self-monitoring capability.

      다운로드 스크립트와 함께 비디오 보기 동영상

      자세한 정보

      LMG3410R050 개발 키트로 지금 바로 GaN 설계를 시작하십시오.

      관심 가지실만한 유사 제품

      open-in-new 대안 비교
      비교 대상 장치와 동일한 기능을 지원하는 핀 대 핀
      LMG3411R050 활성 600V 50mΩ GaN과 통합 드라이버 및 사이클 단위 과전류 보호 Different overcurrent protection response behavior.
      다른 핀 출력을 지원하지만 비교 대상 장치와 동일한 기능
      LMG3422R050 활성 통합 드라이버, 보호 및 온도 보고 기능이 있는 600V 50mΩ GaN FET 12 x 12 mm package with temperature reporting and overtemperature and short-circuit protection

      기술 문서

      star =TI에서 선정한 이 제품의 인기 문서
      검색된 결과가 없습니다. 검색어를 지우고 다시 시도하십시오.
      모두 보기14
      유형 직함 날짜
      * Data sheet LMG341xR050 600-V 50-mΩ Integrated GaN Fet Power Stage With Overcurrent Protection datasheet (Rev. B) PDF | HTML 2020/01/16
      White paper Achieving High Efficiency and Enabling Integration in EV Powertrain Subsystems (Rev. A) PDF | HTML 2023/07/17
      White paper Achieving GaN Products With Lifetime Reliability PDF | HTML 2021/06/02
      White paper TI GaN FET와 C2000™ 실시간 MCU를 결합하여 전력 밀도가 높고 효율적인 전원 시스템 달성 2021/03/18
      More literature A Generalized Approach to Determine the Switching Lifetime of a GaN FET 2020/10/20
      Analog Design Journal Wide-bandgap semiconductors: Performance and benefits of GaN versus SiC 2020/09/22
      Application note Thermal Considerations for Designing a GaN Power Stage (Rev. B) 2020/08/04
      More literature GaN FET Reliability to Power-line Surges Under Use-conditions 2019/03/25
      EVM User's guide Using the LMG341xEVM-018 Half-bridge and LMG34XX-BB--EVM breakout board EVM (Rev. A) 2019/03/08
      Application note Third quadrant operation of GaN 2019/02/25
      Technical article Gallium nitride: supporting applications from watts to kilowatts PDF | HTML 2018/12/19
      Application brief Overcurrent Protection in High-Density GaN Power Designs 2018/10/19
      More literature Product-level Reliability of GaN Devices 2016/04/26
      White paper Application-Relevant Qualification of Emerging Semiconductor Power Devices, GaN 2016/03/31

      설계 및 개발

      추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

      평가 보드

      LMG34XX-BB-EVM — LMG341x 제품군을 위한 LMG34xx GaN 시스템 레벨 평가 마더보드

      LMG34XX-BB-EVM은 동기식 벅 컨버터로 LMG3410-HB-EVM과 같은 LMG341X 하프 브리지 보드를 구성하기 위해 사용하기 쉬운 브레이크아웃 보드입니다. 이 EVM은 전력계, 바이어스 전력 및 로직 회로를 제공하여 GaN 디바이스 스위칭의 신속한 측정을 지원합니다. 이 EVM은 적절한 열 관리(강제 공기, 저주파 작동 등)로 최대 8A의 출력 전류를 제공하여 최대 작동 온도를 초과하지 않도록 할 수 있습니다. 이 EVM은 개방형 루프 보드이기 때문에 과도 측정에는 적합하지 않습니다.

      단일 펄스 폭 변조 입력만 (...)

      사용 설명서: PDF
      TI.com에서 구매할 수 없습니다
      도터 카드

      LMG3410EVM-018 — LMG3410R050 600V 50mΩ GaN 하프 브리지 도터 카드

      LMG3410EVM-018 configures two LMG3410R050 600-V GaN FETs with Integrated driver and protection, in a half bridge. This EVM comes with all the necessary auxiliary peripheral circuitry, and is designed to work in conjunction with larger systems.
      사용 설명서: PDF
      TI.com에서 구매할 수 없습니다
      시뮬레이션 모델

      LMG3410R050 Unencrypted PSpice Model (Rev. A)

      SNOM689A.ZIP (44 KB) - PSpice Model
      계산 툴

      LMGXX-GAN-LLC-CALC GaN LLC resonant converter device loss calculator

      Device Loss Calculator can be used to evaluate different devices for different topologies of the LLC Resonant Converter
      lock = 수출 승인 필요(1분)
      지원되는 제품 및 하드웨어

      지원되는 제품 및 하드웨어

      제품
      질화 갈륨(GaN) IC
      LMG2100R044 100-V 4.4-mΩ half-bridge GaN FET with integrated driver and protection LMG2610 650V 고전압 emode GaN 하프 브리지 전력계 LMG3410R050 600V 50mΩ GaN과 통합 드라이버 및 보호 LMG3410R070 600V 70mΩ GaN과 통합 드라이버 및 보호 LMG3410R150 600V 150mΩ GaN과 통합 드라이버 및 과전류 보호 LMG3411R050 600V 50mΩ GaN과 통합 드라이버 및 사이클 단위 과전류 보호 LMG3411R070 600V 70mΩ GaN과 통합 드라이버 및 사이클 단위 과전류 보호 LMG3411R150 600V 150mΩ GaN과 통합 드라이버 및 과전류 보호 LMG3422R030 통합 드라이버, 보호 및 온도 보고 기능이 있는 600V 30mΩ GaN FET LMG3422R050 통합 드라이버, 보호 및 온도 보고 기능이 있는 600V 50mΩ GaN FET LMG3425R030 통합 드라이버, 보호, 온도 보고, 이상적인 다이오드 모드 기능이 있는 600V 30mΩ GaN FET LMG3425R050 통합 드라이버, 보호, 온도 보고, 이상적인 다이오드 모드 기능이 있는 600V 50mΩ GaN FET LMG3522R030 통합 드라이버, 보호 및 온도 보고 기능이 있는 650V 30mΩ GaN FET LMG3522R030-Q1 통합 드라이버, 보호 및 온도 보고 기능이 있는 오토모티브 650V 30mΩ GaN FET LMG3526R030 일체형 드라이버, 보호 및 제로 전압 감지 기능이 있는 650V 30mΩ GaN FET LMG5200 80V GaN 하프 브리지 전력계
      Gallium nitride (GaN) power stages
      LMG2100R044 100V 4.4mΩ 하프 브리지 GaN FET와 통합 드라이버 및 보호 LMG2610 통합 드라이버, 보호 및 전류 감지 기능이 있는 ACF용 650V 170/248mΩ GaN 하프 브리지 LMG3410R050 600V 50mΩ GaN과 통합 드라이버 및 보호 LMG3410R070 600V 70mΩ GaN과 통합 드라이버 및 보호 LMG3410R150 600V 150mΩ GaN과 통합 드라이버 및 과전류 보호 LMG3411R050 600V 50mΩ GaN과 통합 드라이버 및 사이클 단위 과전류 보호 LMG3411R070 600V 70mΩ GaN과 통합 드라이버 및 사이클 단위 과전류 보호 LMG3411R150 600V 150mΩ GaN과 통합 드라이버 및 사이클별 과전류 보호 LMG3422R030 통합 드라이버, 보호 및 온도 보고 기능이 있는 600V 50mΩ GaN FET LMG3422R050 통합 드라이버, 보호 및 온도 보고 기능이 있는 600V 50mΩ GaN FET LMG3425R030 통합 드라이버, 보호, 온도 보고, 이상적인 다이오드 모드 기능이 있는 600V 30mΩ GaN FET LMG3425R050 통합 드라이버, 보호, 온도 보고, 이상적인 다이오드 모드 기능이 있는 600V 50mΩ GaN FET LMG3426R030 일체형 드라이버, 보호 및 제로 전압 감지를 지원하는 600V 30mΩ GaN FET LMG3426R050 일체형 드라이버, 보호 및 제로 전압 감지를 지원하는 600V 50mΩ GaN FET LMG3522R030 통합 드라이버, 보호 및 온도 보고 기능이 있는 650V 30mΩ GaN FET LMG3522R030-Q1 통합 드라이버, 보호 및 온도 보고 기능이 있는 오토모티브 650V 30mΩ GaN FET LMG3522R050 통합 드라이버, 보호 및 온도 보고 기능이 있는 650V 50mΩ GaN FET LMG3526R030 일체형 드라이버, 보호 및 제로 전압 감지 기능이 있는 650V 30mΩ GaN FET LMG3526R050 일체형 드라이버, 보호 및 제로 전압 감지 보고 기능이 있는 650V 50mΩ GaN FET LMG5200 80V GaN 하프 브리지 전력계
      계산 툴

      SNOR029 GaN CCM Boost PFC Power Loss Calculation Excel Sheet

      지원되는 제품 및 하드웨어

      지원되는 제품 및 하드웨어

      제품
      Gallium nitride (GaN) power stages
      LMG3410R050 600V 50mΩ GaN과 통합 드라이버 및 보호 LMG3410R070 600V 70mΩ GaN과 통합 드라이버 및 보호 LMG3410R150 600V 150mΩ GaN과 통합 드라이버 및 과전류 보호 LMG3411R050 600V 50mΩ GaN과 통합 드라이버 및 사이클 단위 과전류 보호 LMG3411R070 600V 70mΩ GaN과 통합 드라이버 및 사이클 단위 과전류 보호 LMG3411R150 600V 150mΩ GaN과 통합 드라이버 및 사이클별 과전류 보호 LMG3422R030 통합 드라이버, 보호 및 온도 보고 기능이 있는 600V 50mΩ GaN FET LMG3522R030 통합 드라이버, 보호 및 온도 보고 기능이 있는 650V 30mΩ GaN FET LMG3522R030-Q1 통합 드라이버, 보호 및 온도 보고 기능이 있는 오토모티브 650V 30mΩ GaN FET LMG3526R030 일체형 드라이버, 보호 및 제로 전압 감지 기능이 있는 650V 30mΩ GaN FET
      계산 툴

      SNOR030 GaN CCM Totem Pole PFC Power Loss Calculation Excel Sheet

      지원되는 제품 및 하드웨어

      지원되는 제품 및 하드웨어

      제품
      Gallium nitride (GaN) power stages
      LMG3410R050 600V 50mΩ GaN과 통합 드라이버 및 보호 LMG3410R070 600V 70mΩ GaN과 통합 드라이버 및 보호 LMG3410R150 600V 150mΩ GaN과 통합 드라이버 및 과전류 보호 LMG3411R050 600V 50mΩ GaN과 통합 드라이버 및 사이클 단위 과전류 보호 LMG3411R070 600V 70mΩ GaN과 통합 드라이버 및 사이클 단위 과전류 보호 LMG3411R150 600V 150mΩ GaN과 통합 드라이버 및 사이클별 과전류 보호 LMG3422R030 통합 드라이버, 보호 및 온도 보고 기능이 있는 600V 50mΩ GaN FET LMG3422R050 통합 드라이버, 보호 및 온도 보고 기능이 있는 600V 50mΩ GaN FET LMG3522R030 통합 드라이버, 보호 및 온도 보고 기능이 있는 650V 30mΩ GaN FET LMG3522R030-Q1 통합 드라이버, 보호 및 온도 보고 기능이 있는 오토모티브 650V 30mΩ GaN FET LMG3526R030 일체형 드라이버, 보호 및 제로 전압 감지 기능이 있는 650V 30mΩ GaN FET
      레퍼런스 디자인

      PMP40690 — C2000™ MCU 및 GaN을 사용하는 4kW 인터리브 CCM 토템 폴 브리지리스 PFC 레퍼런스 설계

      This reference design is a 4-kW interleaved CCM totem pole (TTPL) bridgeless PFC reference design using a 64-pin C2000™ microcontroller, LM3410 gallium nitride device and TMCS1100 hall sensor. It is based on TIDM-02008 bidirectional interleaved CCM TTPL bridgeless PFC reference (...)
      Test report: PDF
      회로도: PDF
      패키지 다운로드
      VQFN (RWH) 32 옵션 보기

      주문 및 품질

      포함된 정보:
      • RoHS
      • REACH
      • 디바이스 마킹
      • 납 마감/볼 재질
      • MSL 등급/피크 리플로우
      • MTBF/FIT 예측
      • 물질 성분
      • 인증 요약
      • 지속적인 신뢰성 모니터링
      포함된 정보:
      • 팹 위치
      • 조립 위치

      지원 및 교육

      TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

      콘텐츠는 TI 및 커뮤니티 기고자에 의해 "있는 그대로" 제공되며 TI의 사양으로 간주되지 않습니다. 사용 약관을 참조하십시오.

      품질, 패키징, TI에서 주문하는 데 대한 질문이 있다면 TI 지원을 방문하세요. ​​​​​​​​​​​​​​

      동영상