JAJA978F October   2022  – August 2025 DP83TC812R-Q1 , DP83TC812S-Q1 , DP83TC813R-Q1 , DP83TC813S-Q1 , DP83TC814R-Q1 , DP83TC814S-Q1

 

  1.   1
  2.   概要
  3.   商標
  4. 1はじめに
  5. 2ハードウェアの構成
    1. 2.1 回路図
  6. 3ソフトウェアの設定
  7. 4PMA テスト
    1. 4.1 PMA テスト手順
  8. 5IOP テスト：リンクアップとリンクダウン
    1. 5.1 IOP テスト手順
  9. 6SQI テスト
    1. 6.1 SQI 値の解釈
  10. 7TDR テスト
    1. 7.1 TDR テスト手順
  11. 8EMC と EMI のテスト
  12. 9改訂履歴

8 EMC と EMI のテスト

OA TC-1 は伝導 EMC および EMI テストを規定しています。DP83TC81x の場合、これらのテストは OA 準拠テスト ハウス FTZ で実施され、MDI の放射、各電源ピンの放射、RF 信号への耐性はテスト スイートの一部です。このボードは FTZ の OA 仕様に準拠して設計されています。

本書で説明しているハードウェアとソフトウェアの構成を、これらの伝導型 EMC および EMI テストに使用しました。アプリケーションに TC-1 仕様よりもさらに強化が必要な場合は、構成を使用できます。

ご要望に応じて、FTZ からの詳細なテストレポートと手順および OA 準拠の結果が提供されます。

伝導エミッション テスト (OA TC-1 準拠のため) 以外に、DP83TC81x (前述のハードウェアおよびソフトウェアの構成を使用) はさまざまな OEM のさまざまな放射エミッションおよび放射耐性要件に対するテストされています。放射エミッションと耐性テスト結果の詳細は、ご要望に応じて提供しています。設定は、アプリケーションでさらにマージンを強化する必要がある場合に使用できます。