JAJSOE7E June   2022  – April 2025 ADC12DJ5200-EP

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 説明
  5. 4 ピン構成および機能
  6. 5 仕様
    1. 5.1  絶対最大定格
    2. 5.2  ESD 定格
    3. 5.3  推奨動作条件
    4. 5.4  熱に関する情報
    5. 5.5  電気的特性：DC の仕様
    6. 5.6  電気的特性：消費電力
    7. 5.7  電気的特性：AC 仕様 (デュアル チャネル モード)
    8. 5.8  電気的特性：AC 仕様 (シングル チャネル モード)
    9. 5.9  タイミング要件
    10. 5.10 スイッチング特性
    11. 5.11 代表的特性
  7. 6 詳細説明
    1. 6.1 概要
    2. 6.2 機能ブロック図
    3. 6.3 機能説明
      1. 6.3.1  デバイスの比較
      2. 6.3.2  アナログ入力
        1. 6.3.2.1 アナログ入力保護
        2. 6.3.2.2 フルスケール電圧 (VFS) の調整
        3. 6.3.2.3 アナログ入力オフセットの調整
      3. 6.3.3  ADC コア
        1. 6.3.3.1 ADC の動作原理
        2. 6.3.3.2 ADC コアのキャリブレーション
        3. 6.3.3.3 アナログ基準電圧
        4. 6.3.3.4 ADC のオーバーレンジ検出
        5. 6.3.3.5 コード エラー レート (CER)
      4. 6.3.4  温度監視ダイオード
      5. 6.3.5  タイムスタンプ
      6. 6.3.6  クロック供給
        1. 6.3.6.1 ノイズなしのアパーチャ遅延調整 (tAD 調整)
        2. 6.3.6.2 アパーチャ遅延ランプ制御 (TAD_RAMP)
        3. 6.3.6.3 SYSREF キャプチャによるマルチ デバイス同期および決定論的レイテンシ
          1. 6.3.6.3.1 SYSREF 位置検出器およびサンプリング位置選択 (SYSREF ウィンドウ処理)
          2. 6.3.6.3.2 SYSREF 自動較正
      7. 6.3.7  プログラマブル FIR フィルタ (PFIR)
        1. 6.3.7.1 デュアル チャネル イコライゼーション
        2. 6.3.7.2 シングル チャネル イコライゼーション
        3. 6.3.7.3 時間変動フィルタ
      8. 6.3.8  デジタル ダウン コンバータ (DDC)
        1. 6.3.8.1 丸めおよび飽和
        2. 6.3.8.2 数値制御オシレータと複素ミキサ
          1. 6.3.8.2.1 NCO 高速周波数ホッピング (FFH)
          2. 6.3.8.2.2 NCO の選択
          3. 6.3.8.2.3 基本 NCO 周波数設定モード
          4. 6.3.8.2.4 有理 NCO 周波数設定モード
          5. 6.3.8.2.5 NCO 位相オフセット設定
          6. 6.3.8.2.6 NCO 位相同期
        3. 6.3.8.3 デシメーション フィルタ
        4. 6.3.8.4 出力データ フォーマット
        5. 6.3.8.5 デシメーション設定
          1. 6.3.8.5.1 デシメーション係数
          2. 6.3.8.5.2 DDC ゲイン ブースト
      9. 6.3.9  JESD204C インターフェイス
        1. 6.3.9.1 トランスポート層
        2. 6.3.9.2 スクランブル機能
        3. 6.3.9.3 リンク層
        4. 6.3.9.4 8B/10B リンク層
          1. 6.3.9.4.1 データ エンコード (8B/10B)
          2. 6.3.9.4.2 マルチフレームおよびローカル マルチフレーム クロック (LMFC)
          3. 6.3.9.4.3 コード グループ同期 (CGS)
          4. 6.3.9.4.4 初期レーン整列シーケンス (ILAS)
          5. 6.3.9.4.5 フレームおよびマルチフレーム監視
        5. 6.3.9.5 64B/66B リンク層
          1. 6.3.9.5.1 64B/66B エンコード
          2. 6.3.9.5.2 マルチブロック、拡張マルチブロック、ローカル拡張マルチブロック クロック (LEMC)
          3. 6.3.9.5.3 同期ヘッダを使用したブロック、マルチブロック、拡張マルチブロック整列
            1. 6.3.9.5.3.1 巡回冗長検査 (CRC) モード
            2. 6.3.9.5.3.2 前方誤り訂正 (FEC) モード
          4. 6.3.9.5.4 初期レーン整列
          5. 6.3.9.5.5 ブロック、マルチブロック、拡張マルチブロック整列監視
        6. 6.3.9.6 物理層
          1. 6.3.9.6.1 SerDes プリエンファシス
        7. 6.3.9.7 JESD204C 対応
        8. 6.3.9.8 複数デバイスの同期と決定論的レイテンシ
        9. 6.3.9.9 Subclass 0 システムでの動作
      10. 6.3.10 アラームの監視
        1. 6.3.10.1 クロック エラー検出
        2. 6.3.10.2 FIFO エラー検出
    4. 6.4 デバイスの機能モード
      1. 6.4.1 デュアル チャネル モード
      2. 6.4.2 シングル チャネル モード (DES モード)
      3. 6.4.3 デュアル入力シングル チャネル モード (デュアル DES モード)
      4. 6.4.4 JESD204C モード
        1. 6.4.4.1 JESD204C 動作モード表
        2. 6.4.4.2 JESD204C モード (続き)
        3. 6.4.4.3 JESD204C トランスポート層のデータ形式
        4. 6.4.4.4 64B/66B 同期ヘッダ ストリームの構成
      5. 6.4.5 パワーダウン モード
      6. 6.4.6 テスト モード
        1. 6.4.6.1 シリアライザのテスト モードの詳細
        2. 6.4.6.2 PRBS テスト モード
        3. 6.4.6.3 クロック パターン モード
        4. 6.4.6.4 ランプ テスト モード
        5. 6.4.6.5 ショートおよびロング トランスポート テスト モード
          1. 6.4.6.5.1 ショート トランスポート テスト パターン
        6. 6.4.6.6 D21.5 テスト モード
        7. 6.4.6.7 K28.5 テスト モード
        8. 6.4.6.8 反復 ILA テスト モード
        9. 6.4.6.9 修正 RPAT テスト モード
      7. 6.4.7 キャリブレーション モードとトリミング
        1. 6.4.7.1 フォアグラウンド キャリブレーション モード
        2. 6.4.7.2 バックグラウンド キャリブレーション モード
        3. 6.4.7.3 低消費電力バックグラウンド キャリブレーション (LPBG) モード
      8. 6.4.8 オフセット キャリブレーション
      9. 6.4.9 トリミング
    5. 6.5 プログラミング
      1. 6.5.1 シリアル インターフェイスの使い方
        1. 6.5.1.1 SCS
        2. 6.5.1.2 SCLK
        3. 6.5.1.3 SDI
        4. 6.5.1.4 SDO
        5. 6.5.1.5 ストリーミング モード
    6. 6.6 SPI レジスタ マップ
  8. 7 アプリケーション情報に関する免責事項
    1. 7.1 アプリケーション情報
    2. 7.2 代表的なアプリケーション
      1. 7.2.1 広帯域 RF サンプリング レシーバ
        1. 7.2.1.1 設計要件
          1. 7.2.1.1.1 入力信号パス
          2. 7.2.1.1.2 クロック供給
        2. 7.2.1.2 詳細な設計手順
          1. 7.2.1.2.1 AC カップリング コンデンサの値の計算
      2. 7.2.2 再構成可能デュアル チャネル 5GSPS またはシングル チャネル 10GSPS オシロスコープ
        1. 7.2.2.1 設計要件
          1. 7.2.2.1.1 入力信号パス
          2. 7.2.2.1.2 クロック供給
          3. 7.2.2.1.3 ADC12DJ5200-EP オシロスコープ アプリケーション
    3. 7.3 初期化セットアップ
    4. 7.4 電源に関する推奨事項
      1. 7.4.1 電源シーケンス
    5. 7.5 レイアウト
      1. 7.5.1 レイアウトのガイドライン
      2. 7.5.2 レイアウト例
  9. 8 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 8.1 デバイス サポート
      1. 8.1.1 開発サポート
    2. 8.2 ドキュメントのサポート
      1. 8.2.1 関連資料
    3. 8.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 8.4 サポート リソース
    5. 8.5 商標
    6. 8.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 8.7 用語集
  10. 9 改訂履歴
  11. 10メカニカル、パッケージ、および注文情報
6.4.6.5.1 ショート トランスポート テスト パターン

ショートトランスポートテストパターンは、フレームごとに繰り返される事前定義済みのオクテット形式を送信します。ADC12DJ5200-EP では、すべての JMODE 構成でショート トランスポート テスト パターンを使用します。

表 6-59 に、N' = 8 のショート トランスポート テスト パターンを示します。適用可能なレーンをすべて示していますが、設定された JMODE に対して有効なレーン (最小インデックス) のみが使用されます。

表 6-59 N'= 8 モードのショート トランスポート テスト パターン (長さ= 2 フレーム)
フレーム01
DA00x000xFF
DA10x010xFE
DA20x020xFD
DA30x030xFC
DB00x000xFF
DB10x010xFE
DB20x020xFD
DB30x030xFC

に示されているように、N’=12 および F=8 の場合、ショート テスト パターンを使用します。16 レーンすべてが示されていますが、JMODE によっては一部のレーンが無効化される場合があります。

表 6-60 N' = 12 モードのショート トランスポート テスト パターン (F = 8)
Nibble： 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
オクテット： 0 1 2 3 4 5 6 7
レーン 0 (A0) 0xF01 0xF02 0xF03 0xF04 0xF05 T
レーン 1 (A1) 0xE11 0xE12 0xE13 0xE14 0xE15 T
レーン 2 (A2) 0xD21 0xD22 0xD23 0xD24 0xD25 T
レーン 3 (A3) 0xC31 0xC32 0xC33 0xC34 0xC35 T
レーン 4 (A4) 0xB41 0xB42 0xB43 0xB44 0xB45 T
レーン 5 (A5) 0xA51 0xA52 0xA53 0xA54 0xA55 T
レーン 6 (A6) 0x961 0x962 0x963 0x964 0x965 T
レーン 7 (A7) 0x871 0x872 0x873 0x874 0x875 T
レーン 8 (B0) 0xF01 0xF02 0xF03 0xF04 0xF05 T
レーン 9 (B1) 0xE11 0xE12 0xE13 0xE14 0xE15 T
レーン 10 (B2) 0xD21 0xD22 0xD23 0xD24 0xD25 T
レーン 11 (B3) 0xC31 0xC32 0xC33 0xC34 0xC35 T
レーン 12 (B4) 0xB41 0xB42 0xB43 0xB44 0xB45 T
レーン 13 (B5) 0xA51 0xA52 0xA53 0xA54 0xA55 T
レーン 14 (B6) 0x961 0x962 0x963 0x964 0x965 T
レーン 15 (B7) 0x871 0x872 0x873 0x874 0x875 T