JAJSVB4A September   2024  – May 2025 LM65625-Q1 , LM65635-Q1 , LM65645-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 説明
  5. 4 デバイス比較表
  6. 5 ピン構成および機能
  7. 6 仕様
    1. 6.1 絶対最大定格
    2. 6.2 ESD 定格
    3. 6.3 推奨動作条件
    4. 6.4 熱に関する情報
    5. 6.5 電気的特性
    6. 6.6 代表的特性
  8. 7 詳細説明
    1. 7.1 概要
    2. 7.2 機能ブロック図
    3. 7.3 機能説明
      1. 7.3.1 出力電圧の選択
      2. 7.3.2 EN ピンおよび VIN UVLO としての使用
      3. 7.3.3 モード選択
        1. 7.3.3.1 MODE/SYNC ピンを使用した同期
        2. 7.3.3.2 クロックのロック
      4. 7.3.4 可変スイッチング周波数
      5. 7.3.5 デュアル ランダム スペクトラム拡散機能 (DRSS)
      6. 7.3.6 内部 LDO、VCC UVLO、BIAS 入力
      7. 7.3.7 ブートストラップ電圧 (BST ピン)
      8. 7.3.8 ソフトスタートとドロップアウトからの回復
      9. 7.3.9 安全関連の特長
        1. 7.3.9.1 パワー グッド モニタ
        2. 7.3.9.2 過電流および短絡保護
        3. 7.3.9.3 ヒカップ
        4. 7.3.9.4 サーマル シャットダウン
    4. 7.4 デバイスの機能モード
      1. 7.4.1 シャットダウンモード
      2. 7.4.2 アクティブ モード
        1. 7.4.2.1 ピーク電流モード動作
        2. 7.4.2.2 自動モード動作
          1. 7.4.2.2.1 ダイオード エミュレーション
        3. 7.4.2.3 FPWM モード動作
        4. 7.4.2.4 ドロップアウト
        5. 7.4.2.5 ドロップアウトからの回復
  9. 8 アプリケーションと実装
    1. 8.1 アプリケーション情報
    2. 8.2 代表的なアプリケーション
      1. 8.2.1 設計要件
      2. 8.2.2 詳細な設計手順
        1. 8.2.2.1 WEBENCH® ツールによるカスタム設計
        2. 8.2.2.2 スイッチング周波数の選択
        3. 8.2.2.3 可変または固定出力電圧モード用 FB
        4. 8.2.2.4 インダクタの選択
        5. 8.2.2.5 出力コンデンサの選択
        6. 8.2.2.6 入力コンデンサの選択
        7. 8.2.2.7 CBOOT
        8. 8.2.2.8 外部 UVLO
        9. 8.2.2.9 最大周囲温度
      3. 8.2.3 アプリケーション曲線
    3. 8.3 設計のベスト プラクティス
    4. 8.4 電源に関する推奨事項
    5. 8.5 レイアウト
      1. 8.5.1 レイアウトのガイドライン
        1. 8.5.1.1 グランドと熱に関する考慮事項
      2. 8.5.2 レイアウト例
  10. 9 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 9.1 デバイス サポート
      1. 9.1.1 サード・パーティ製品に関する免責事項
      2. 9.1.2 開発サポート
        1. 9.1.2.1 WEBENCH® ツールによるカスタム設計
    2. 9.2 ドキュメントのサポート
      1. 9.2.1 関連資料
    3. 9.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 9.4 サポート・リソース
    5. 9.5 商標
    6. 9.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 9.7 用語集
  11. 10改訂履歴
  12. 11メカニカル、パッケージ、および注文情報

6.2 ESD 定格

値 単位
V(ESD) 静電放電 荷電デバイス モデル (CDM)、AEC Q100-011 準拠 その他のピン ±500 V
V(ESD) 静電放電 人体モデル (HBM)、AEC Q100-002 に準拠(1)   人体モデル (HBM)、AEC Q100-002 に準拠(1)   ±2000 V
荷電デバイス モデル (CDM)、AEC Q100-011 準拠 コーナー ピン (1、7、11、17) ±750
(1) AEC Q100-002 は、HBM ストレス試験を ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 仕様に従って実施しなければならないと規定しています。