VID V62/26610
Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
- TID characterized up to 50krad(Si)
- TID performance assurance up to 30krad(Si)
- Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
Radiation - Single-Event Effects (SEE):
- Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
- Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg
Wide operating range of 1.2V to 5.5V
5.5V tolerant input pins
Supports standard pinouts
Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78
Space enhanced plastic:
- Supports Defense and Aerospace Applications
- Controlled baseline
- Au bondwire and NiPdAu lead finish
- Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
- One fabrication, assembly, and test site
- Extended product life cycle
- Product traceability

VID V62/26610
Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
- TID characterized up to 50krad(Si)
- TID performance assurance up to 30krad(Si)
- Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
Radiation - Single-Event Effects (SEE):
- Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
- Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg
Wide operating range of 1.2V to 5.5V
5.5V tolerant input pins
Supports standard pinouts
Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78
Space enhanced plastic:
- Supports Defense and Aerospace Applications
- Controlled baseline
- Au bondwire and NiPdAu lead finish
- Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
- One fabrication, assembly, and test site
- Extended product life cycle
- Product traceability

The SN54SC1G175-SEP device is a single D-type flip-flop with asynchronous clear (CLR) input. When CLR is HIGH, data from the input pin (D) transfers to the output pin (Q) on the clock’s (CLK) rising edge. When CLR is LOW, the Q is forced into the LOW state, regardless of the clock edge or data on D.

filter

Andere D-Typ-Flipflops suchen

Herunterladen Video mit Transkript ansehen Video

Technische Dokumentation

star

=Von TI ausgewählte Top-Empfehlungen für dieses Produkt

Keine Ergebnisse gefunden. Bitte geben Sie einen anderen Begriff ein und versuchen Sie es erneut.

Alle anzeigen 4

Top-Dokumentation	Typ	Titel	Format-Optionen	Datum
*	Data sheet	SN54SC1G175-SEP Single D-Type Flip-Flop With Asynchronous Clear datasheet	PDF \| HTML	20 Feb 2026
*	Radiation & reliability report	SN54SC1G175-SEP Production Flow and Reliability Report	PDF \| HTML	06 Feb 2026
*	Radiation & reliability report	SN54SC1G175-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report	PDF \| HTML	06 Feb 2026
*	Radiation & reliability report	SN54SC1G175-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report		06 Feb 2026

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Evaluierungsplatine

5-8-LOGIC-EVM — Generisches Logik-Evaluierungsmodul für 5- bis 8-polige DCK-, DCT-, DCU-, DRL- und DBV-Gehäuse

Flexibles EVM zur Unterstützung aller Geräte mit 5- bis 8-poligem DCK-, DCT-, DCU-, DRL- oder DBV-Gehäuse.

Benutzerhandbuch: PDF

Nicht verfügbar auf TI.com

Gehäuse	Pins	CAD-Symbole, Footprints und 3D-Modelle
SOT-23 (DBV)	6	Ultra Librarian

Es gelten die allgemeinen Geschäftsbedingungen von TI für Evaluierungsartikel.

Bestellen & Qualität

Beinhaltete Information:

RoHS
REACH
Bausteinkennzeichnung
Blei-Finish/Ball-Material
MSL-Rating / Spitzenrückfluss
MTBF-/FIT-Schätzungen
Materialinhalt
Qualifikationszusammenfassung
Kontinuierliches Zuverlässigkeitsmonitoring

Beinhaltete Information:

Werksstandort
Montagestandort

Support und Schulungen

TI E2E™-Foren mit technischem Support von TI-Ingenieuren

Alle Forenthemen auf Englisch anzeigen

Inhalte werden ohne Gewähr von TI und der Community bereitgestellt. Sie stellen keine Spezifikationen von TI dar. Siehe Nutzungsbedingungen.

Bei Fragen zu den Themen Qualität, Gehäuse oder Bestellung von TI-Produkten siehe TI-Support.

Videoreihe

Alle Videos anzeigen