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CD4043B

ACTIVO

Cierre NOR R/S cuádruple CMOS con salidas de 3 estados

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CD4043B

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Detalles del producto

Function RS latch Number of channels 4 Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Input type Standard CMOS Output type 3-State Data rate (max) (Mbps) 16 IOL (max) (mA) 2.4 IOH (max) (mA) -2.4 Features High speed (tpd 10-50ns), Partial power down (Ioff), Standard speed (tpd > 50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog
Function RS latch Number of channels 4 Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Input type Standard CMOS Output type 3-State Data rate (max) (Mbps) 16 IOL (max) (mA) 2.4 IOH (max) (mA) -2.4 Features High speed (tpd 10-50ns), Partial power down (Ioff), Standard speed (tpd > 50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog
PDIP (N) 16 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6 SOIC (DW) 16 106.09 mm² 10.3 x 10.3 SOP (NS) 16 79.56 mm² 10.2 x 7.8 TSSOP (PW) 16 32 mm² 5 x 6.4
  • 3-state outputs with common output ENABLE
  • Separate SET and RESET inputs for each latch
  • NOR and NAND configurations
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Standardized symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (over full package temperature range):
    • 1 V at VDD = 5 V
    • 2 V at VDD = 10 V
    • 2.5 V at VDD = 15 V
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of 'B' Series CMOS Devices"
  • Applications
    • Holding register in multi-register system
    • Four bits of independent storage with output ENABLE
    • Strobed register
    • General digital logic
    • CD4043B for positive logic systems
    • CD4044B for negative logic systems

Data sheet acquired from Harris Semiconductor
  • 3-state outputs with common output ENABLE
  • Separate SET and RESET inputs for each latch
  • NOR and NAND configurations
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Standardized symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (over full package temperature range):
    • 1 V at VDD = 5 V
    • 2 V at VDD = 10 V
    • 2.5 V at VDD = 15 V
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of 'B' Series CMOS Devices"
  • Applications
    • Holding register in multi-register system
    • Four bits of independent storage with output ENABLE
    • Strobed register
    • General digital logic
    • CD4043B for positive logic systems
    • CD4044B for negative logic systems

Data sheet acquired from Harris Semiconductor

CD4043B types are quad cross-coupled 3-state CMOS NOR latches and the CD4044B types are quad cross-coupled 3-state CMOS NAND latches. Each latch has a separate Q output and individual SET and RESET inputs. The Q outputs are controlled by a common ENABLE input. A logic "1" or high on the ENABLE input connects the latch states to the Q outputs. A logic "0" or low on the ENABLE input disconnects the latch states from the Q outputs, resulting in an open circuit condition on the Q outputs. The open circuit feature allows common busing of the outputs.

The CD4043B and CD4044B types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 16-lead small-outline package (D, DR, DT, DWR, and NSR suffixes), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

CD4043B types are quad cross-coupled 3-state CMOS NOR latches and the CD4044B types are quad cross-coupled 3-state CMOS NAND latches. Each latch has a separate Q output and individual SET and RESET inputs. The Q outputs are controlled by a common ENABLE input. A logic "1" or high on the ENABLE input connects the latch states to the Q outputs. A logic "0" or low on the ENABLE input disconnects the latch states from the Q outputs, resulting in an open circuit condition on the Q outputs. The open circuit feature allows common busing of the outputs.

The CD4043B and CD4044B types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 16-lead small-outline package (D, DR, DT, DWR, and NSR suffixes), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet CD4043B, CD4044B Types datasheet (Rev. D) 13 oct 2003
Application note Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) PDF | HTML 15 dic 2022
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 12 jun 2017
Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 02 dic 2015
User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 16 ene 2007
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 08 jul 2004
User guide Signal Switch Data Book (Rev. A) 14 nov 2003
Application note Understanding Buffered and Unbuffered CD4xxxB Series Device Characteristics 03 dic 2001

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
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Paquete Pasadores Descargar
PDIP (N) 16 Ver opciones
SOIC (D) 16 Ver opciones
SOIC (DW) 16 Ver opciones
SOP (NS) 16 Ver opciones
TSSOP (PW) 16 Ver opciones
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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