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SN74LV165B-EP

ACTIVO

Registros de desplazamiento de 8 bits de carga paralela mejorados

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SN74LV165B-EP

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Detalles del producto

Configuration Parallel-in Bits (#) 8 Technology family LV-A Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 75 IOL (max) (mA) 12 IOH (max) (mA) -12 Supply current (max) (µA) 20 Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating HiRel Enhanced Product
Configuration Parallel-in Bits (#) 8 Technology family LV-A Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 75 IOL (max) (mA) 12 IOH (max) (mA) -12 Supply current (max) (µA) 20 Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating HiRel Enhanced Product
TSSOP (PW) 16 32 mm² 5 x 6.4
  • 2 V to 5.5 V V CC operation
  • Maximum t pd of 10.5 ns at 5 V
  • Supports mixed-mode voltage operation on all ports
  • I off supports partial-power-down mode operation
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Operating ambient temperature: -55°C to +125°C
  • Supports defense, aerospace, and medical applications:
    • Controlled baseline
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
  • 2 V to 5.5 V V CC operation
  • Maximum t pd of 10.5 ns at 5 V
  • Supports mixed-mode voltage operation on all ports
  • I off supports partial-power-down mode operation
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Operating ambient temperature: -55°C to +125°C
  • Supports defense, aerospace, and medical applications:
    • Controlled baseline
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability

The SN74LV165B-EP device is a parallel-load, 8-bit shift registers designed for 2 V to 5.5 V V CC operation.

When the device is clocked, data is shifted toward the serial output Q H. Parallel-in access to each stage is provided by eight individual direct data inputs that are enabled by a low level at the shift/load (SH/ LD) input. The SN74LV165B-EP devices features a clock-inhibit function and a complemented serial output, Q H.

This device is fully specified for partial-power-down applications using I off. The I off circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the devices when they are powered down.

The SN74LV165B-EP device is a parallel-load, 8-bit shift registers designed for 2 V to 5.5 V V CC operation.

When the device is clocked, data is shifted toward the serial output Q H. Parallel-in access to each stage is provided by eight individual direct data inputs that are enabled by a low level at the shift/load (SH/ LD) input. The SN74LV165B-EP devices features a clock-inhibit function and a complemented serial output, Q H.

This device is fully specified for partial-power-down applications using I off. The I off circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the devices when they are powered down.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet SN74LV165B-EP Enhanced Product, 2-V to 5.5-V, Low-Noise,Parallel-Load 8-Bit Shift Registers datasheet (Rev. A) PDF | HTML 23 ago 2023

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Paquete Pasadores Descargar
TSSOP (PW) 16 Ver opciones
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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