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TPS7H2140-SEP

ACTIVO

Radiation-tolerant, 4.5V to 32V, input 1.35A 160-mΩ quad-channel eFuse

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TPS7H2140-SEP

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Detalles del producto

Vin (max) (V) 32 Vin (min) (V) 4.5 Current limit (max) (A) 7 Current limit (min) (A) 0.25 Features Current monitoring, Thermal shutdown, Under voltage lock out Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting Fault response Auto-retry Ron (typ) (mΩ) 160 Rating Space Soft start Fixed Quiescent current (Iq) (typ) (A) 0.0062 Quiescent current (Iq) (max) (A) 0.0062 Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125
Vin (max) (V) 32 Vin (min) (V) 4.5 Current limit (max) (A) 7 Current limit (min) (A) 0.25 Features Current monitoring, Thermal shutdown, Under voltage lock out Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting Fault response Auto-retry Ron (typ) (mΩ) 160 Rating Space Soft start Fixed Quiescent current (Iq) (typ) (A) 0.0062 Quiescent current (Iq) (max) (A) 0.0062 Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125
HTSSOP (PWP) 28 62.08 mm² (9.7 mm × 6.4 mm)
  • Vendor item drawing available, VID V62/23610
  • Total ionizing dose (TID) characterized to 30 krad(Si)
    • RLAT (radiation lot acceptance testing) to 20 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
    • Single-event transient (SET) and single-event functional interrupt (SEFI) characterized to effective linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
  • Quad-channel 160-mΩ eFuse with full diagnostics and current-sense analog output
  • Wide operating voltage 4.5 V to 32 V
  • Ultra-low standby current < 500 nA
  • High-accuracy current sense: ±15% when I LOAD ≥ 25 mA
  • Adjustable current limit with external resistor (R CL), with accuracy of ±15% when I LOAD ≥ 500 mA
  • Protection
    • Short-to-GND protection by current limit (internal or external)
    • Thermal shutdown with latch off option and thermal swing
    • Inductive load negative voltage clamp with optimized slew rate
    • Loss-of-GND and loss-of-power protection
  • Diagnostics
    • Overcurrent and short-to-ground detection
    • Open-load and short-to-power detection
    • Global fault report for fast interrupt
  • 28-pin thermally-enhanced PWP package
  • Space Enhanced Plastic (SEP)
  • Available in military (–55°C to 125°C) temp range
  • Vendor item drawing available, VID V62/23610
  • Total ionizing dose (TID) characterized to 30 krad(Si)
    • RLAT (radiation lot acceptance testing) to 20 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
    • Single-event transient (SET) and single-event functional interrupt (SEFI) characterized to effective linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
  • Quad-channel 160-mΩ eFuse with full diagnostics and current-sense analog output
  • Wide operating voltage 4.5 V to 32 V
  • Ultra-low standby current < 500 nA
  • High-accuracy current sense: ±15% when I LOAD ≥ 25 mA
  • Adjustable current limit with external resistor (R CL), with accuracy of ±15% when I LOAD ≥ 500 mA
  • Protection
    • Short-to-GND protection by current limit (internal or external)
    • Thermal shutdown with latch off option and thermal swing
    • Inductive load negative voltage clamp with optimized slew rate
    • Loss-of-GND and loss-of-power protection
  • Diagnostics
    • Overcurrent and short-to-ground detection
    • Open-load and short-to-power detection
    • Global fault report for fast interrupt
  • 28-pin thermally-enhanced PWP package
  • Space Enhanced Plastic (SEP)
  • Available in military (–55°C to 125°C) temp range

The TPS7H2140-SEP device is a fully protected quad-channel eFuse with four integrated 160-mΩ NMOS power FETs.

Full diagnostics and high-accuracy current sense enables intelligent control of the loads.

An external adjustable current limit improves the reliability of whole system by limiting the inrush or overload current.

The TPS7H2140-SEP device is a fully protected quad-channel eFuse with four integrated 160-mΩ NMOS power FETs.

Full diagnostics and high-accuracy current sense enables intelligent control of the loads.

An external adjustable current limit improves the reliability of whole system by limiting the inrush or overload current.
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Documentación técnica

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* Hoja de datos TPS7H2140-SEP Radiation-Tolerant 32-V, 160-mΩ Quad-Channel eFuse datasheet (Rev. A) PDF | HTML 11/08/2023
* Informe de radiación y confiabilidad TPS7H2140-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. B) PDF | HTML 6/11/2023
* Informe de radiación y confiabilidad TPS7H2140-SEP Neutron Displacement (NDD) Characterization Report PDF | HTML 10/10/2023
* Informe de radiación y confiabilidad TPS7H2140-SEP Single Event Effects Report PDF | HTML 9/10/2023
* Informe de radiación y confiabilidad TPS7H2140-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 4/10/2023
* VID TPS7H2140-SEP VID V62-23610 1/05/2024
Guía de selección TI Space Products (Rev. L) 27/03/2026
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Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

TPS7H2140EVM — Módulo de evaluación TPS7H2140-SEP para fusible electrónico de cuatro canales de plástico con tolera

El módulo de evaluación TPS7H2140-SEP demuestra el funcionamiento de un fusible electrónico de cuatro canales. La placa está configurada para probar canales de salida paralelos y se puede personalizar para dividir los canales de salida y/o personalizar las otras funciones del dispositivo.

Guía del usuario: PDF | HTML
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Modelo de simulación

TPS7H2140-SEP PSpice Transient Model

SLVME15.ZIP (38 KB) - Modelo PSpice
Productos y hardware compatibles
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
HTSSOP (PWP) 28 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Los productos recomendados pueden tener parámetros, módulos de evaluación o diseños de referencia relacionados con este producto de TI.

Soporte y capacitación

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