Inicio Administración de potencia Interruptores y controladores de protección de potencia Fusibles electrónicos (intercambios en caliente integrados)
Inicio
Administración de potencia
Interruptores y controladores de protección de potencia
Fusibles electrónicos (intercambios en caliente integrados)

TPS7H2140-SEP

ACTIVO

Fusible de cuatro canales de 4.5 V a 32 V, entrada de 1.35 A y 160 mΩ, con tolerancia a la radiac

Haga su pedido ahora
Hoja de datos

TPS7H2140-SEP

ACTIVO
Hoja de datos Haga su pedido ahora

Detalles del producto

Vin (max) (V) 32 Vin (min) (V) 4.5 Current limit (max) (A) 7 Current limit (min) (A) 0.25 Features Current monitoring, Thermal shutdown, Under voltage lock out Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting Fault response Auto-retry Ron (typ) (mΩ) 160 Rating Space Soft start Fixed Quiescent current (Iq) (typ) (A) 0.0062 Quiescent current (Iq) (max) (A) 0.0062 Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125
Vin (max) (V) 32 Vin (min) (V) 4.5 Current limit (max) (A) 7 Current limit (min) (A) 0.25 Features Current monitoring, Thermal shutdown, Under voltage lock out Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting Fault response Auto-retry Ron (typ) (mΩ) 160 Rating Space Soft start Fixed Quiescent current (Iq) (typ) (A) 0.0062 Quiescent current (Iq) (max) (A) 0.0062 Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125
HTSSOP (PWP) 28 62.08 mm² 9.7 x 6.4
  • Vendor item drawing available, VID V62/23610
  • Total ionizing dose (TID) characterized to 30 krad(Si)
    • RLAT (radiation lot acceptance testing) to 20 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
    • Single-event transient (SET) and single-event functional interrupt (SEFI) characterized to effective linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
  • Quad-channel 160-mΩ eFuse with full diagnostics and current-sense analog output
  • Wide operating voltage 4.5 V to 32 V
  • Ultra-low standby current < 500 nA
  • High-accuracy current sense: ±15% when I LOAD ≥ 25 mA
  • Adjustable current limit with external resistor (R CL), with accuracy of ±15% when I LOAD ≥ 500 mA
  • Protection
    • Short-to-GND protection by current limit (internal or external)
    • Thermal shutdown with latch off option and thermal swing
    • Inductive load negative voltage clamp with optimized slew rate
    • Loss-of-GND and loss-of-power protection
  • Diagnostics
    • Overcurrent and short-to-ground detection
    • Open-load and short-to-power detection
    • Global fault report for fast interrupt
  • 28-pin thermally-enhanced PWP package
  • Space Enhanced Plastic (SEP)
  • Available in military (–55°C to 125°C) temp range
  • Vendor item drawing available, VID V62/23610
  • Total ionizing dose (TID) characterized to 30 krad(Si)
    • RLAT (radiation lot acceptance testing) to 20 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
    • Single-event transient (SET) and single-event functional interrupt (SEFI) characterized to effective linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
  • Quad-channel 160-mΩ eFuse with full diagnostics and current-sense analog output
  • Wide operating voltage 4.5 V to 32 V
  • Ultra-low standby current < 500 nA
  • High-accuracy current sense: ±15% when I LOAD ≥ 25 mA
  • Adjustable current limit with external resistor (R CL), with accuracy of ±15% when I LOAD ≥ 500 mA
  • Protection
    • Short-to-GND protection by current limit (internal or external)
    • Thermal shutdown with latch off option and thermal swing
    • Inductive load negative voltage clamp with optimized slew rate
    • Loss-of-GND and loss-of-power protection
  • Diagnostics
    • Overcurrent and short-to-ground detection
    • Open-load and short-to-power detection
    • Global fault report for fast interrupt
  • 28-pin thermally-enhanced PWP package
  • Space Enhanced Plastic (SEP)
  • Available in military (–55°C to 125°C) temp range

The TPS7H2140-SEP device is a fully protected quad-channel eFuse with four integrated 160-mΩ NMOS power FETs.

Full diagnostics and high-accuracy current sense enables intelligent control of the loads.

An external adjustable current limit improves the reliability of whole system by limiting the inrush or overload current.

The TPS7H2140-SEP device is a fully protected quad-channel eFuse with four integrated 160-mΩ NMOS power FETs.

Full diagnostics and high-accuracy current sense enables intelligent control of the loads.

An external adjustable current limit improves the reliability of whole system by limiting the inrush or overload current.
filter Buscar otro/a Fusibles electrónicos (intercambios en caliente integrados)
Descargar Ver vídeo con transcripción Video

Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
No se encontraron resultados. Borre su búsqueda y vuelva a intentarlo.
Ver todo 11
Tipo Título Fecha
* Data sheet TPS7H2140-SEP Radiation-Tolerant 32-V, 160-mΩ Quad-Channel eFuse datasheet (Rev. A) PDF | HTML 11 ago 2023
* VID TPS7H2140-SEP VID V62-23610 01 may 2024
* Radiation & reliability report TPS7H2140-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. B) PDF | HTML 06 nov 2023
* Radiation & reliability report TPS7H2140-SEP Neutron Displacement (NDD) Characterization Report PDF | HTML 10 oct 2023
* Radiation & reliability report TPS7H2140-SEP Single Event Effects Report PDF | HTML 09 oct 2023
* Radiation & reliability report TPS7H2140-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 04 oct 2023
White paper Designing Space Systems With Integrated FDIR: A Guide to TI's Space-Grade Components PDF | HTML 12 jul 2025
Selection guide TI Space Products (Rev. K) 04 abr 2025
Certificate TPS7H2140EVM EU Declaration of Conformity (DoC) 24 jul 2023
Application note Reduce the Risk in Low-Earth Orbit Missions with Space Enhanced Plastic Products (Rev. A) PDF | HTML 15 sep 2022
E-book Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) 21 may 2019

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

TPS7H2140EVM — Módulo de evaluación TPS7H2140-SEP para fusible electrónico de cuatro canales de plástico con tolera

El módulo de evaluación TPS7H2140-SEP demuestra el funcionamiento de un fusible electrónico de cuatro canales. La placa está configurada para probar canales de salida paralelos y se puede personalizar para dividir los canales de salida y/o personalizar las otras funciones del dispositivo.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

TPS7H2140-SEP PSpice Transient Model

SLVME15.ZIP (38 KB) - PSpice Model
Descargar
Herramienta de simulación

PSPICE-FOR-TI — PSpice® para herramienta de diseño y simulación de TI

PSpice® para TI es un entorno de diseño y simulación que ayuda a evaluar la funcionalidad de los circuitos analógicos. Esta completa suite de diseño y simulación utiliza un motor de análisis analógico de Cadence®. Disponible sin ningún costo, PSpice para TI incluye una de las bibliotecas de modelos (...)
Solicitar
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
HTSSOP (PWP) 28 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Los productos recomendados pueden tener parámetros, módulos de evaluación o diseños de referencia relacionados con este producto de TI.

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

Ver todos los temas del foro en inglés

El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

Si tiene preguntas sobre la calidad, el paquete o el pedido de productos de TI, consulte el soporte de TI. ​​​​​​​​​​​​​​

Videos