ホーム インターフェイス RS-485 と RS-422 の各トランシーバ

AM26C31-EP

アクティブ

エンハンスド製品、クワッド差動ライン・ドライバ

製品詳細

Number of receivers 0 Number of transmitters 4 Duplex Half Supply voltage (nom) (V) 5 Signaling rate (max) (MBits) 10 IEC 61000-4-2 contact (±V) None Fault protection (V) -14 to 14 Common-mode range (V) -7 to 7 Number of nodes 32 Isolated No Supply current (max) (µA) 3200 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
Number of receivers 0 Number of transmitters 4 Duplex Half Supply voltage (nom) (V) 5 Signaling rate (max) (MBits) 10 IEC 61000-4-2 contact (±V) None Fault protection (V) -14 to 14 Common-mode range (V) -7 to 7 Number of nodes 32 Isolated No Supply current (max) (µA) 3200 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6
  • Controlled Baseline
    • One Assembly
    • One Test Site
    • One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Meets or Exceeds the Requirements of TIA/EIA-422-B and ITU Recommendation V.11
  • Low Power, ICC = 100 µA Typ
  • Operates From a Single 5 V Supply
  • High Speed, tPLH = tPHL = 7 ns Typ
  • Low Pulse Distortion, tsk(p) = 0.5 ns Typ
  • High Output Impedance in Power-Off Conditions
  • Improved Replacement for AM26LS31

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

  • Controlled Baseline
    • One Assembly
    • One Test Site
    • One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Meets or Exceeds the Requirements of TIA/EIA-422-B and ITU Recommendation V.11
  • Low Power, ICC = 100 µA Typ
  • Operates From a Single 5 V Supply
  • High Speed, tPLH = tPHL = 7 ns Typ
  • Low Pulse Distortion, tsk(p) = 0.5 ns Typ
  • High Output Impedance in Power-Off Conditions
  • Improved Replacement for AM26LS31

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

The AM26C31 is a differential line driver with complementary outputs, designed to meet the requirements of TIA/EIA -422-B and ITU (formerly CCITT). The 3-state outputs have high-current capability for driving balanced lines, such as twisted-pair or parallel-wire transmission lines, and they provide the high-impedance state in the power-off condition. The enable functions are common to all four drivers and offer the choice of an active-high (G) or active-low (G) enable input. BiCMOS circuitry reduces power consumption without sacrificing speed.

The AM26C31 is characterized for operation over extended temperature range of -55°C to 125°C.

The AM26C31 is a differential line driver with complementary outputs, designed to meet the requirements of TIA/EIA -422-B and ITU (formerly CCITT). The 3-state outputs have high-current capability for driving balanced lines, such as twisted-pair or parallel-wire transmission lines, and they provide the high-impedance state in the power-off condition. The enable functions are common to all four drivers and offer the choice of an active-high (G) or active-low (G) enable input. BiCMOS circuitry reduces power consumption without sacrificing speed.

The AM26C31 is characterized for operation over extended temperature range of -55°C to 125°C.

ダウンロード 字幕付きのビデオを表示 ビデオ

お客様が関心を持ちそうな類似品

open-in-new 代替品と比較
比較対象デバイスと類似の機能
AM26C31 アクティブ クワッド差動ライン・ドライバ Catalog version

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
4 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート Quadruple Differential Line Driver データシート 2007年 11月 1日
* VID AM26C31-EP VID V6207647 2016年 6月 21日
* 放射線と信頼性レポート AM26C31MDREP Reliability Report 2011年 8月 25日
アプリケーション・ノート Debugging Sitara AM2x Microcontrollers PDF | HTML 2022年 10月 24日

設計と開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
シミュレーション・ツール

TINA-TI — SPICE ベースのアナログ・シミュレーション・プログラム

TINA-TI は、DC 解析、過渡解析、周波数ドメイン解析など、SPICE の標準的な機能すべてを搭載しています。TINA には多彩な後処理機能があり、結果を必要なフォーマットにすることができます。仮想計測機能を使用すると、入力波形を選択し、回路ノードの電圧や波形を仮想的に測定することができます。TINA の回路キャプチャ機能は非常に直観的であり、「クイックスタート」を実現できます。

TINA-TI をインストールするには、約 500MB が必要です。インストールは簡単です。必要に応じてアンインストールも可能です。(そのようなことはないと思いますが)

TINA は DesignSoft (...)

ユーザー ガイド: PDF
英語版 (Rev.A): PDF
パッケージ ピン数 ダウンロード
SOIC (D) 16 オプションの表示

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​

ビデオ