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INA1H182-SEP

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耐放射線性、低オフセット、7nV/rtHz ノイズ、低消費電力計測アンプ

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製品詳細

Number of channels 1 Vs (max) (V) 18 Vs (min) (V) 4.5 Input offset (±) (max) (µV) 55 Voltage gain (min) (V/V) 1 Voltage gain (max) (V/V) 10000 Noise at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 7 Features Overvoltage protection, Small Size, Super-beta CMRR (min) (dB) 136 Input offset drift (±) (max) (µV/°C) 0.4 Input bias current (±) (max) (nA) 0.5 Iq (typ) (mA) 0.6 Bandwidth at min gain (typ) (MHz) 4.7 Gain error (±) (max) (%) 0.15 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space Type Resistor Gain nonlinearity (±) (max) (%) 0.0015 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 0.15 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -0.15 Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 2 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -2 Noise at 0.1 Hz to 10 Hz (typ) (µVPP) 0.14
Number of channels 1 Vs (max) (V) 18 Vs (min) (V) 4.5 Input offset (±) (max) (µV) 55 Voltage gain (min) (V/V) 1 Voltage gain (max) (V/V) 10000 Noise at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 7 Features Overvoltage protection, Small Size, Super-beta CMRR (min) (dB) 136 Input offset drift (±) (max) (µV/°C) 0.4 Input bias current (±) (max) (nA) 0.5 Iq (typ) (mA) 0.6 Bandwidth at min gain (typ) (MHz) 4.7 Gain error (±) (max) (%) 0.15 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space Type Resistor Gain nonlinearity (±) (max) (%) 0.0015 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 0.15 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -0.15 Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 2 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -2 Noise at 0.1 Hz to 10 Hz (typ) (µVPP) 0.14
VSSOP (DGK) 8 14.7 mm² 3 x 4.9
  • 耐放射線特性
    • すべてのウェハーについて、30krad (Si) までの吸収線量 (TID) RLAT
    • ELDRS フリー (最大 TID = 30krad(Si))
    • シングル イベント ラッチアップ (SEL) 耐性：最大 43MeV x cm2/mg
    • シングル イベント過渡 (SEE) 特性：43MeV x cm2/mg。
  • 宇宙向け強化プラスチック
    • 防衛および航空宇宙アプリケーションをサポート
    • 管理されたベースライン
    • 単一のアセンブリ / テスト施設
    • 単一の製造施設
    • 長期にわたる製品ライフ サイクル
    • 製品のトレーサビリティ
    • ASTM E595 に準拠した気体排出試験実施済み
    • Au ボンド ワイヤと NiPdAu リード仕上げ
  • 低いオフセット電圧：10µV (標準値)
  • 入力段電圧ノイズ：7nV/√Hz
  • 帯域幅：G = 1 で 2MHz、G = 100 で 190kHz
  • 最大 ±40V の入力保護
  • 同相除去：110dB、G = 10 (最小値)
  • 電源除去：110dB、G = 1 (最小値)
  • 消費電流：650µA (最大)
  • 電源電圧範囲：
    • 単一電源：4.5V ～ 18V
    • デュアル電源：±2.25V～±9V
  • パッケージ：8 ピン VSSOP
  • 耐放射線特性
    • すべてのウェハーについて、30krad (Si) までの吸収線量 (TID) RLAT
    • ELDRS フリー (最大 TID = 30krad(Si))
    • シングル イベント ラッチアップ (SEL) 耐性：最大 43MeV x cm2/mg
    • シングル イベント過渡 (SEE) 特性：43MeV x cm2/mg。
  • 宇宙向け強化プラスチック
    • 防衛および航空宇宙アプリケーションをサポート
    • 管理されたベースライン
    • 単一のアセンブリ / テスト施設
    • 単一の製造施設
    • 長期にわたる製品ライフ サイクル
    • 製品のトレーサビリティ
    • ASTM E595 に準拠した気体排出試験実施済み
    • Au ボンド ワイヤと NiPdAu リード仕上げ
  • 低いオフセット電圧：10µV (標準値)
  • 入力段電圧ノイズ：7nV/√Hz
  • 帯域幅：G = 1 で 2MHz、G = 100 で 190kHz
  • 最大 ±40V の入力保護
  • 同相除去：110dB、G = 10 (最小値)
  • 電源除去：110dB、G = 1 (最小値)
  • 消費電流：650µA (最大)
  • 電源電圧範囲：
    • 単一電源：4.5V ～ 18V
    • デュアル電源：±2.25V～±9V
  • パッケージ：8 ピン VSSOP

INA1H182-SEP は、耐放射線性を備えた高精度な計装アンプであり、低消費電力を実現し、広い単電源または両電源範囲で動作します。単一の外付け抵抗により、1～10,000 の範囲で任意のゲインを設定できます。このデバイスはスーパー β 入力トランジスタの採用により高精度を実現しており、低い入力オフセット電圧、オフセット電圧ドリフト、入力バイアス電流、ならびに入力電圧ノイズおよび電流ノイズを提供します。追加の回路により、最大 ±40V の過電圧から入力を保護します。

INA1H182-SEP は、非常に高い同相除去比を実現するよう最適化されています。ゲイン (G) = 1 のとき、同相信号除去比は入力同相電圧範囲全体にわたって 90dB を超えます。このデバイスは、4.5V の単一電源での低電圧動作向けに設計されており、±9V までの両電源にも対応しています。

INA1H182-SEP は、8 ピンの VSSOP パッケージで供給されます。

INA1H182-SEP は、耐放射線性を備えた高精度な計装アンプであり、低消費電力を実現し、広い単電源または両電源範囲で動作します。単一の外付け抵抗により、1～10,000 の範囲で任意のゲインを設定できます。このデバイスはスーパー β 入力トランジスタの採用により高精度を実現しており、低い入力オフセット電圧、オフセット電圧ドリフト、入力バイアス電流、ならびに入力電圧ノイズおよび電流ノイズを提供します。追加の回路により、最大 ±40V の過電圧から入力を保護します。

INA1H182-SEP は、非常に高い同相除去比を実現するよう最適化されています。ゲイン (G) = 1 のとき、同相信号除去比は入力同相電圧範囲全体にわたって 90dB を超えます。このデバイスは、4.5V の単一電源での低電圧動作向けに設計されており、±9V までの両電源にも対応しています。

INA1H182-SEP は、8 ピンの VSSOP パッケージで供給されます。
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技術資料

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* データシート INA1H182-SEP 低オフセット、7nV/√ Hz ノイズ、低消費電力、耐放射線特性、高精度計測アンプ、宇宙用強化プラスチック データシート PDF | HTML 2021年 3月 8日
* 放射線と信頼性レポート INA1H182-SEP Neutron Displacement Damage (NDD) Characterization 2026年 3月 18日
* 放射線と信頼性レポート INA1H182-SEP Radiation-Tolerant, Low offset, Low Noise, Precision Instrumentation Amplifier TID Report 2026年 3月 18日
* 放射線と信頼性レポート INA1H182-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report PDF | HTML 2026年 3月 18日
* 放射線と信頼性レポート INA1H182-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2026年 2月 25日
セレクション・ガイド TI Space Products (Rev. L) 2026年 3月 27日

設計と開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

シミュレーション・モデル

INA1H182-SEP PSpice Model

SLVMER8.ZIP (30 KB) - PSpice Model
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シミュレーション・モデル

INA1H182-SEP TINA-TI Reference Design

SLVMES0.TSC (1232 KB) - TINA-TI Reference Design
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シミュレーション・モデル

INA1H182-SEP TINA-TI SPICE Model

SLVMER9.ZIP (6 KB) - TINA-TI Spice Model
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計算ツール

ANALOG-ENGINEER-CALC — PC software analog engineer's calculator

The analog engineer’s calculator is designed to speed up many of the repetitive calculations that analog circuit design engineers use on a regular basis. This PC-based tool provides a graphical interface with a list of various common calculations ranging from setting operational-amplifier (...)

サポート対象の製品とハードウェア

サポート対象の製品とハードウェア
開始 ダウンロード
シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI を使用すると、内蔵のライブラリを使用して、複雑なミックスド (...)
リクエスト
シミュレーション・ツール

TINA-TI — SPICE ベースのアナログ・シミュレーション・プログラム

TINA-TI は、DC 解析、過渡解析、周波数ドメイン解析など、SPICE の標準的な機能すべてを搭載しています。TINA には多彩な後処理機能があり、結果を必要なフォーマットにすることができます。仮想計測機能を使用すると、入力波形を選択し、回路ノードの電圧や波形を仮想的に測定することができます。TINA の回路キャプチャ機能は非常に直観的であり、「クイックスタート」を実現できます。

TINA-TI をインストールするには、約 500MB が必要です。インストールは簡単です。必要に応じてアンインストールも可能です。(そのようなことはないと思いますが)

TINA は DesignSoft (...)

ユーザー ガイド: PDF
英語版 (Rev.A): PDF
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パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
VSSOP (DGK) 8 Ultra Librarian
TI の評価基板に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブ拠点
  • アセンブリ拠点

サポートとトレーニング

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コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

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