LF156JAN

アクティブ

ミリタリー グレード、シングル、40V、5MHz、FET 入力オペアンプ

製品詳細

Number of channels 1 Rail-to-rail No GBW (typ) (MHz) 5 Slew rate (typ) (V/µs) 12 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 5 Iq per channel (typ) (mA) 5 Vn at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 12 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125 Offset drift (typ) (µV/°C) 5 Input bias current (max) (pA) 100 CMRR (typ) (dB) 100 Iout (typ) (A) 0.025 Architecture FET Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 3 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) 0.1 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 2 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -2
Number of channels 1 Rail-to-rail No GBW (typ) (MHz) 5 Slew rate (typ) (V/µs) 12 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 5 Iq per channel (typ) (mA) 5 Vn at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 12 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125 Offset drift (typ) (µV/°C) 5 Input bias current (max) (pA) 100 CMRR (typ) (dB) 100 Iout (typ) (A) 0.025 Architecture FET Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 3 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) 0.1 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 2 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -2
TO-CAN (LMC) 8 80.2816 mm² 8.96 x 8.96
  • Advantages
    • Replace Expensive Hybrid and Module FET Op Amps
    • Rugged JFETs Allow Blow-Out Free Handling Compared with MOSFET Input Devices
    • Excellent for Low Noise Applications using either High or Low Source Impedance—Very Low 1/f Corner
    • Offset Adjust does not Degrade Drift or Common-Mode Rejection as in Most Monolithic Amplifiers
    • New Output Stage Allows use of Large Capacitive Loads (5,000 pF) without Stability Problems
    • Internal Compensation and Large Differential Input Voltage Capability

Common Features

  • Low Input Bias Current: 30pA
  • Low Input Offset Current: 3pA
  • High Input Impedance: 1012Ω
  • Low Input Noise Current: 0.01 pA / √Hz
  • High Common-Mode Rejection Ratio: 100 dB
  • Large DC Voltage Gain: 106 dB

Uncommon Features

  • Extremely Fast Settling Time to 0.01% 1.5μs
  • Fast Slew Rate 12V/µs
  • Wide Gain Bandwidth 5MHz
  • Low Input Noise Voltage 12 nV / √Hz

All trademarks are the property of their respective owners.

  • Advantages
    • Replace Expensive Hybrid and Module FET Op Amps
    • Rugged JFETs Allow Blow-Out Free Handling Compared with MOSFET Input Devices
    • Excellent for Low Noise Applications using either High or Low Source Impedance—Very Low 1/f Corner
    • Offset Adjust does not Degrade Drift or Common-Mode Rejection as in Most Monolithic Amplifiers
    • New Output Stage Allows use of Large Capacitive Loads (5,000 pF) without Stability Problems
    • Internal Compensation and Large Differential Input Voltage Capability

Common Features

  • Low Input Bias Current: 30pA
  • Low Input Offset Current: 3pA
  • High Input Impedance: 1012Ω
  • Low Input Noise Current: 0.01 pA / √Hz
  • High Common-Mode Rejection Ratio: 100 dB
  • Large DC Voltage Gain: 106 dB

Uncommon Features

  • Extremely Fast Settling Time to 0.01% 1.5μs
  • Fast Slew Rate 12V/µs
  • Wide Gain Bandwidth 5MHz
  • Low Input Noise Voltage 12 nV / √Hz

All trademarks are the property of their respective owners.

This is the first monolithic JFET input operational amplifier to incorporate well matched, high voltage JFETs on the same chip with standard bipolar transistors (BI-FET™ Technology). This amplifier features low input bias and offset currents/low offset voltage and offset voltage drift, coupled with offset adjust which does not degrade drift or common-mode rejection. The device is also designed for high slew rate, wide bandwidth, extremely fast settling time, low voltage and current noise and a low 1/ƒ noise corner.

This is the first monolithic JFET input operational amplifier to incorporate well matched, high voltage JFETs on the same chip with standard bipolar transistors (BI-FET™ Technology). This amplifier features low input bias and offset currents/low offset voltage and offset voltage drift, coupled with offset adjust which does not degrade drift or common-mode rejection. The device is also designed for high slew rate, wide bandwidth, extremely fast settling time, low voltage and current noise and a low 1/ƒ noise corner.

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技術資料

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* データシート LF156JAN JFET Input Operational Amplifiers データシート (Rev. A) 2013年 3月 25日

設計および開発

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計算ツール

ANALOG-ENGINEER-CALC — アナログ技術者向けカリキュレータ

アナログ・エンジニア向けカリキュレータは、アナログ回路設計エンジニアが日常的に繰り返し行っている計算の多くを迅速化します。この PC ベース・ツールはグラフィカル・インターフェイスにより、帰還抵抗を使用したオペアンプのゲイン設定から、A/D コンバータ(ADC)のドライブ・バッファ回路の安定化に最適な部品の選択に至るまで、一般的に行われている各種計算のリストを表示します。スタンドアロン・ツールとして使用できるほか、『アナログ回路設計式一覧ポケット・ガイド』で説明されているコンセプトと組み合わせることもできます。
設計ツール

CIRCUIT060013 — T ネットワーク帰還回路搭載、反転アンプ

このデザインは入力信号 VIN を反転し、1000V/V 言い換えると 60dB の信号ゲインを達成します。T 帰還回路搭載の反転アンプは、値が小さい R4 や値が大きい帰還抵抗なしで高いゲインを取得するために使用できます。
設計ツール

CIRCUIT060015 — 調整可能なリファレンス電圧回路

この回路は、反転と非反転のアンプ回路を 1 つに組み合わせ、入力電圧の負の値から入力電圧までの可変の基準電圧を生成します。ゲインを増加して、負の最高基準電圧のレベルを増やすこともできます。
設計ツール

CIRCUIT060074 — コンパレータによるハイサイド電流センシング回路

このハイサイド電流センシング・ソリューションは、レール・ツー・レール入力同相範囲に対応している 1 個のコンパレータを使用し、負荷電流が 1A を上回った合にコンパレータの出力端子 (COMP OUT) で過電流アラート (OC-Alert) 信号を生成します。この実装は、OC-Alert 信号をアクティブ・ローに設定しています。したがって、1A のスレッショルドを上回ったときに、コンパレータの出力がローになります。負荷電流が 0.5 A (50% 減少) に低下すると OC-Alert が論理 HIGH (...)
シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
シミュレーション・ツール

TINA-TI — SPICE ベースのアナログ・シミュレーション・プログラム

TINA-TI は、DC 解析、過渡解析、周波数ドメイン解析など、SPICE の標準的な機能すべてを搭載しています。TINA には多彩な後処理機能があり、結果を必要なフォーマットにすることができます。仮想計測機能を使用すると、入力波形を選択し、回路ノードの電圧や波形を仮想的に測定することができます。TINA の回路キャプチャ機能は非常に直観的であり、「クイックスタート」を実現できます。

TINA-TI をインストールするには、約 500MB が必要です。インストールは簡単です。必要に応じてアンインストールも可能です。(そのようなことはないと思いますが)

TINA は DesignSoft (...)

ユーザー ガイド: PDF
英語版 (Rev.A): PDF
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
TO-CAN (LMC) 8 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

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