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CD74AC112

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설정 및 리셋을 지원하는 듀얼 음극 에지 트리거 J-K 플립플롭

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CD74AC112

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제품 상세 정보

Number of channels 2 Technology family AC Supply voltage (min) (V) 1.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type LVTTL/CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 100 Supply current (max) (µA) 80 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Features Balanced outputs, Clear, High speed (tpd 10-50ns), Negative edge triggered, Positive input clamp diode, Preset Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog
Number of channels 2 Technology family AC Supply voltage (min) (V) 1.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type LVTTL/CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 100 Supply current (max) (µA) 80 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Features Balanced outputs, Clear, High speed (tpd 10-50ns), Negative edge triggered, Positive input clamp diode, Preset Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog
PDIP (N) 16 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6
  • AC Types Feature 1.5-V to 5.5-V Operation and Balanced Noise Immunity at 30% of the Supply Voltage
  • Speed of Bipolar F, AS, and S, With Significantly Reduced Power Consumption
  • Balanced Propagation Delays
  • ±24-mA Output Drive Current
    • Fanout to 15 F Devices
  • SCR-Latchup-Resistant CMOS Process and Circuit Design
  • Exceeds 2-kV ESD Protection Per MIL-STD-883, Method 3015
  • AC Types Feature 1.5-V to 5.5-V Operation and Balanced Noise Immunity at 30% of the Supply Voltage
  • Speed of Bipolar F, AS, and S, With Significantly Reduced Power Consumption
  • Balanced Propagation Delays
  • ±24-mA Output Drive Current
    • Fanout to 15 F Devices
  • SCR-Latchup-Resistant CMOS Process and Circuit Design
  • Exceeds 2-kV ESD Protection Per MIL-STD-883, Method 3015

The ’AC112 devices contain two independent J-K negative-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset (PRE)\ or clear (CLR)\ inputs sets or resets the outputs, regardless of the levels of the other inputs. When PRE\ and CLR\ are inactive (high), data at the J and K inputs meeting the setup-time requirements is transferred to the outputs on the negative-going edge of the clock pulse (CLK). Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the fall time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the J and K inputs may be changed without affecting the levels at the outputs. These versatile flip-flops can perform as toggle flip-flops by tying J and K high.

The ’AC112 devices contain two independent J-K negative-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset (PRE)\ or clear (CLR)\ inputs sets or resets the outputs, regardless of the levels of the other inputs. When PRE\ and CLR\ are inactive (high), data at the J and K inputs meeting the setup-time requirements is transferred to the outputs on the negative-going edge of the clock pulse (CLK). Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the fall time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the J and K inputs may be changed without affecting the levels at the outputs. These versatile flip-flops can perform as toggle flip-flops by tying J and K high.
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기술 문서

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설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

14-24-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 D, DB, DGV, DW, DYY, NS 및 PW 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈

14-24-LOGIC-EVM 평가 모듈(EVM)은 14핀~24핀 D, DW, DB, NS, PW, DYY 또는 DGV 패키지에 있는 모든 로직 장치를 지원하도록 설계되었습니다.

사용 설명서: PDF | HTML
TI.com에서 구매할 수 없습니다
패키지 핀 다운로드
PDIP (N) 16 옵션 보기
SOIC (D) 16 옵션 보기
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

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