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SN54SC8T240-SEP

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3상태 출력을 지원하는 방사능 내성 8비트 인버팅 고정 방향 레벨 변환기

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SN54SC8T240-SEP

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제품 상세 정보

Bits (#) 8 Data rate (max) (Mbps) 150 Topology Push-Pull Direction control (typ) Fixed-direction Vin (min) (V) 1.2 Vin (max) (V) 5.5 Applications GPIO Features Output enable, Partial power down (Ioff), Single supply, Vcc isolation Prop delay (ns) 8.5 Technology family LVT Supply current (max) (mA) 0.22 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
Bits (#) 8 Data rate (max) (Mbps) 150 Topology Push-Pull Direction control (typ) Fixed-direction Vin (min) (V) 1.2 Vin (max) (V) 5.5 Applications GPIO Features Output enable, Partial power down (Ioff), Single supply, Vcc isolation Prop delay (ns) 8.5 Technology family LVT Supply current (max) (mA) 0.22 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 20 41.6 mm² 6.5 x 6.4
  • Vendor item drawing available, VID V62/25630-01XE
  • Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
    • TID characterized up to 50krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30 krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
  • Radiation - Single-Event Effects (SEE):
    • Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg

  • Wide operating range of 1.2V to 5.5V

  • Single-supply voltage translator:

    • Up translation:

      • 1.2V to 1.8V

      • 1.5V to 2.5V

      • 1.8V to 3.3V

      • 3.3V to 5.0V

    • Down translation:

      • 5.0V, 3.3V, 2.5V to 1.8V
      • 5.0V, 3.3V to 2.5V
      • 5.0V to 3.3V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic:
    • Supports defense and aerospace applications
    • Controlled baseline
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
  • Vendor item drawing available, VID V62/25630-01XE
  • Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
    • TID characterized up to 50krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30 krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
  • Radiation - Single-Event Effects (SEE):
    • Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg

  • Wide operating range of 1.2V to 5.5V

  • Single-supply voltage translator:

    • Up translation:

      • 1.2V to 1.8V

      • 1.5V to 2.5V

      • 1.8V to 3.3V

      • 3.3V to 5.0V

    • Down translation:

      • 5.0V, 3.3V, 2.5V to 1.8V
      • 5.0V, 3.3V to 2.5V
      • 5.0V to 3.3V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic:
    • Supports defense and aerospace applications
    • Controlled baseline
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability

The SN54SC8T240-SEP device contains eight independent inverting line drivers with 3-state outputs. Each channel performs the Boolean function Y = A in positive logic. The channels are grouped in sets of four, with one OE pin controlling each set. The outputs can be put into a hi-Z state by applying a high on the associated OE pin.

The SN54SC8T240-SEP device contains eight independent inverting line drivers with 3-state outputs. Each channel performs the Boolean function Y = A in positive logic. The channels are grouped in sets of four, with one OE pin controlling each set. The outputs can be put into a hi-Z state by applying a high on the associated OE pin.
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기술 자료

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유형 직함 날짜
* Data sheet SN54SC8T240-SEP Radiation Tolerant, Octal Inverting Buffers/Drivers with 3-State Outputs datasheet PDF | HTML 2025/01/21
* Radiation & reliability report SN54SC8T240-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2025/02/21
* Radiation & reliability report SN54SC8T240-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report 2025/02/20
* Radiation & reliability report SN54SC8T541-SEP Single Event Effects Report PDF | HTML 2025/01/16

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

14-24-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 D, DB, DGV, DW, DYY, NS 및 PW 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈

14-24-LOGIC-EVM 평가 모듈(EVM)은 14핀~24핀 D, DW, DB, NS, PW, DYY 또는 DGV 패키지에 있는 모든 로직 장치를 지원하도록 설계되었습니다.

사용 설명서: PDF | HTML
TI.com에서 구매 불가
패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
TSSOP (PW) 20 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

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